YS∕T 559-2006
钨的发射光谱分析方法
Methods for emission spectrum analysis of tungsten
1996-11-04发布
1997-04-01实施
前言
我国目前钨的发射光谱分析尚无统一的方法标准，也无国际标准，已经收集到的前苏联国家标准《钨光谱分析方法 FoCT14339.5—82》和美国 ASTM标准推荐方法《钨光谱分析方法E-2SM8-22》与我国钨产品实际分析不尽适合。本标准无论从元素数量、分析含量下限和方法精度均优于以上两个国外标准。
本标准方法一次摄谱同时测定19种杂质元素，方法测定下限低，分析结果准确可靠，操作简便可行，完全能够满足钨产品中杂质元素分析要求。
本标准由中国有色金属工业总公司提出。
本标准由中国有色金属工业总公司标准计量研究所负责归口。