JB/T 10033-2018代替 JBT 10033-1999
测微头
Micrometer head
2018-12-01 实施
2018-04-30 发布
前 言
本标准按照 GB/T1.1—2009 给出的规则起草。
本标准代替 JB/T10033—1999《测微头》，与JB/T10033—1999 相比主要技术变化如下∶
——修改了标准的适用范围，将测量范围改为量程，并增加了档次规格品种（见第1章，1999 年版的第1章）;
——修改了测微头的型式定义（见 4.1，1999年版的 3.1）;
——增加了测微头的基本参数（见 4.2.1、4.2.2）;
——增加了对测微头安装部分的要求（见 4.2.6）;
——增加了对材料的要求（见 5.3）;
——修改了对测微头测量面硬度、表面粗糙度的技术要求（见5.8.4，1999 年版的 4.9、4.10）;
——修改了测微头的示值最大允许误差的内容和检定要求（见5.9、7.8，1999 年版的4.13）;
——修改了对测微头回程误差的要求和检查方法（见5.10、7.9，1999 年版的 A3）;
——修改了测微头平测量面对测微螺杆轴线垂直度的要求，改正了1999 年版中不尽合理的检查方法（见 7.7.2，1999 年版的附录 A9）;
——增加了检查条件的要求（见第6 章）;
——增加了检查方法章节，将附录里的检查方法放在标准正文中并进行了补充（见第 7 章，1999年版的附录A）。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC 132）归口。