GB/T 22092-2018 代替GB/T 22092二2008
电子数显测微头和深度千分尺
Micrometer head and depth micrometer with electronic digital display
2018-12-01 实施
2018-05-14 发布
前言
本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T22092—2008《电子数显测微头和深度千分尺》。本标准与GB/T22092—2008 相比，除编辑性修改外，主要技术变化如下∶
——扩大电子数显测微头和深度千分尺的量程到50mm（见第1章、4.2.2，2008年版的第1章、4.2.2);
——修改了电子数显千分尺数显装置的定义（见3.1，2008年版的3.1）;
——增加了电子数显测微头和电子数显深度千分尺的定义（见3.2、3.3）;
——增加了测微螺杆螺距为2mm的电子数显测微头和深度千分尺（见4.2.1）;
——修改了对锁紧变化的要求（见5.5，2008年版的第1章）;
——增加了对电子数显深度千分尺测量面平行度的要求和检验（见5.8.5、6.1.4）;
——增加了量程等于50mm的电子数显测微头及其示值最大允许误差的要求（见5.11.1）;
——修改了示值最大允许误差的规定值（见5.11和表1，2008年版的5.11和表1）;
——删除了附录A，把附录A的内容放到正文里（见5.11、表2，2008年版的附录A）;
——增加了对电子数显深度千分尺校对柱的要求（见5.13）;
——修改了分度误差检验方法的注2（见6.3.1，2008年版的6.3.1）;
——修改了示值误差的检验方法（见6.4.2，2008年版的6.4.2）;
——增加了示值误差检验方法的B组尺寸系列检验量块（见6.4.2和表2，2008年版的6.4.2）;
——增加了量程等于50mm的电子数显测微头的示值误差检验量块（见6.4.2和表2）;
——删除了对角度传感器等分数的规定（见 2008年版的5.10.3）。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口。