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JJF(沪)4-2006 光子相关光谱法粒度分析仪校准规范

资料类别:行业标准

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资料语言:中文

更新时间:2021-08-26 17:24:30



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内容简介

JJF(沪)4-2006 光子相关光谱法粒度分析仪校准规范 JJF (沪)4-2006
光子相关光谱法粒度分析仪校准规范
Calibration Specification for Particle Size Analyzerby Photon Correlation Spectroscopy
2006-03-01实施
2005-12-30发布
目 录
1 范围………………………………………………………………………………………(1)
2 引用文献…………………………………………………………………………………(1)
3 概述………………………………………………………………………………………(1)
4 计量特性…………………………………………………………………………………(1)
4.1 颗粒粒径测量范围……………………………………………………………………(1)
4.2 样品室温度示值的短期稳定性………………………………………………………(1)
4.3 样品室温度的示值误差………………………………………………………………(1)
4.4 平均粒径的测量重复性………………………………………………………………(1)
4.5 平均粒径的示值误差…………………………………………………………………(1)
5 校准条件…………………………………………………………………………………(2)
5.1 环境条件………………………………………………………………………………(2)
5.2 校准用标准物质、试剂和设备………………………………………………………(2)
5.3 其他要求………………………………………………………………………………(2)
6 校准项目和校准方法……………………………………………………………………(3)
6.1 一般检查………………………………………………………………………………(3)
6.2 样品室温度示值的短期稳定性………………………………………………………(3)
6.3 样品室温度的示值误差………………………………………………………………(3)
6.4 平均粒径的测量重复性………………………………………………………………(3)
6.5 平均粒径的示值误差…………………………………………………………………(4)
7 校准结果的表达…………………………………………………………………………(4)
8 复校时间间隔……………………………………………………………………………(4)
附录 A 样品的制备与测量 ………………………………………………………………(5)
附录 B 光子相关光谱法粒度分析仪颗粒平均粒径示值误差的测量结果的不确定度评定示例………(6)
附录 C 校准证书内容与格式 ……………………………………………………………(9)
附录D 校准证书原始记录内容与格式 …………………………………………………(11)

 
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