SJ/T 11497-2015
砷化镓晶片热稳定性的试验方法
Test method for thermal stability testing of gallium arsenide wafers
2015-04-30 发布
2015-10-01 实施
前 言
本标准按照GB/T 1.1—2009制定的规则起草。
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本标准由全国半导体设备与材料标准化技术委员会（SAC/TC203）归口。