SJ/T 11702-2018
半导体集成电路串行外设接口测试方法
Semiconductor integrated circuits Measuring methods for serial peripheral interface
2018-02-09发布
2018-04-01实施
前言
本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会（SAC/TC78/SC2）归口。