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SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

资料类别:行业标准

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资料语言:中文

更新时间:2020-08-20 09:41:31



推荐标签: 封装 数字 sj 微电子 方法 测试 11703 特性 器件 器件

内容简介

SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法 SJ/T 11703-2018
数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
Crosstalk test method for digital microelectronic device packages
2018-02-09发布
2018-04-01实施
前 言
本标准按照GB/T1.1-—2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由全国集成屯路标准化分技术委员会(SAC/TC78/SC2)归口。
 
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