SJ/T 11706-2018
半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法
Semiconductor integrated circuits test methodof field programmable gate array
2018-02-09发布
2018-04-01实施
前 言
本标准按照GB/T1.1——2009《标准化工作导则 第1部分∶标准的结构和编写》给出的规则编写。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路标准化分技术委员会（SAC/TC78SC2）归口。