GB/T 4377-2018 代替GB/T4377—1996
半导体集成电路电压调整器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators
2018-08-01实施
2018-03-15发布
前 言
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T4377—1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》，与GB/T4377—1996相比，主要技术变化如下∶
——修改了电源纹波抑制比Sm、输出噪声电压V、o、耗散电流I，和耗散电流变化△I。、热调整率S.4项参数测试方法;
——删除了原标准中"不适用于双端（输入）口器件"一句;
——删除了原标准中"启动电压范围V。"一项，改由"启动时间ts"来代替;
——增加了启动时间ts、输出电流限制ILum、热关断温度Tsuo和滞回温度△Tsm及输出电压V。和输出电压偏差 △V。4项参数的测试方法。
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本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78）归口。