GB/T 14028-2018 代替GB/T14028—1992
半导体集成电路模拟开关测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
2018-08-01 实施
2018-03-15发布
前  言
本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T14028—1992《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》，与GB/T14028—1992相比主要技术变化如下∶
——增加了导通电阻路差率、导通电阻温度漂移率、通道转换无效输出时间、电荷注入量4项测试
方法（见5.16、5.17、5.18、5.19）;
——修改了第 4 章中对测试规定的说明;
——修改了全文图、表的表述形式;
——修改了"通道转换时间"测试方法中转换对象"i+＋1"为"";
——增加了对"截止态漏极漏电流"测试方法中未定义的多路模拟开关测试说明;
——修改了"通道转换时间测试方法"测试方法中存在图文歧义的10%含义。
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本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78）归口。