T/CASAS 035-2024 用于第三象限续流的氮化镓高电子迁移率晶体管(HEMT)动态导通电阻测试方法 T/CASAS 005-2022 用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法 T/CASAS 027-2023 射频GaN HEMT外延片二维电子气迁移率非接触霍尔测量方法 SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 GB/T 28030-2011 接地导通电阻测试仪 DL/T 845.6-2022 电阻测量装置通用技术条件 第6部分：接地引下线导通电阻测试仪 T/GDASE 0010-2020 石墨烯薄膜电子迁移率的测定 砷化镓微波功率场效应晶体管及其集成电路