您当前的位置:首页>行业标准>T/CASAS 027-2023 射频GaN HEMT外延片二维电子气迁移率非接触霍尔测量方法

T/CASAS 027-2023 射频GaN HEMT外延片二维电子气迁移率非接触霍尔测量方法

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

文件大小:801.47 KB

资料语言:中文

更新时间:2024-10-25 11:27:54



相关搜索: 射频 测量 电子 霍尔 方法 外延 非接触 二维 外延 casas

内容简介

T/CASAS 027-2023 射频GaN HEMT外延片二维电子气迁移率非接触霍尔测量方法
上一章:T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法 下一章:T/CAQI 335-2023 餐厨垃圾全流程处理要求

相关文章

T/CASAS 005-2022 用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法 T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法 SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 SJ 21535-2018 电力电子器件用碳化硅外延片规范 JB/T 11794-2014 燃气发动机气耗率和热耗率测量方法 SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法 SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法 GB/T 30654-2014 Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法