GB/T 5095.2503-2021/IEC 60512-25-3:2001
电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-3部分∶试验25c∶上升时间衰减
Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation
(IEC 60512-25-3:2001,Connectors for electronic equipment—Tests and measurements—Part 25-3:Test 25c: Rise time degradation,IDT)
2021-10-01实施
2021-03-09发布
前 言
GB/T 5095《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。
GB/T 5095 的第 25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下;
——第 25-1部分∶试验25a∶串扰比;
——第 25-2部分;试验25b;衰减（插入损耗）;
——第 25-3 部分;试验 25c;上升时间衰减;
——第 25-4 部分∶试验25d∶传输时延;
——第 25-5部分∶试验25e∶回波损耗;
——第 25-6部分∶试验 25f∶眼图和抖动;
——第 25-7 部分∶试验 25g∶阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）;
——第 25-9部分∶信号完整性试验 试验 25i∶外来串扰。
本部分为GB/T 5095的第 25-3部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-3∶2001《电子设备用连接器 试验和测量 第 25-3部分∶试验 25c∶上升时间衰减》。
本部分做了下列编辑性修改∶
——标准名称由《电子设备用连接器 试验和测量 第 25-3部分;试验25c∶上升时间衰减》修改为《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分，试验 25c∶上升时间衰减》
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本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会（SAC/TC166）归口。