JJG
中华人民共和国国家计量检定规程
JJG 478—2016
α、β表面污染仪 a、β Surface Contamination Monitors
2016-11-30发布
2017-05-30实施
国家质量监督检验检疫总局发布 JJG 478—2016
α、β表面污染仪检定规程
JJG 478—2016 代替JJG478—1996
Verification Regulation for α,β Surface ContaminationMonitors
归口单位：全国电离辐射计量技术委员会主要起草单位：上海市计量测试技术研究院参加起草单位：北京市计量检测科学研究院
深圳市计量质量检测研究院
本规程委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释 JJG 478—2016
本规程主要起草人：
唐方东（上海市计量测试技术研究院）何林锋（上海市计量测试技术研究院）赵贵坤（北京市计量检测科学研究院）周迎春（深圳市计量质量检测研究院）
参加起草人：
罗琛 (北京市计量检测科学研究院) 李名兆 （深圳市计量质量检测研究院）陆小军 （上海市计量测试技术研究院） JJG478—2016
目录
引言 1 范围 2引用文件 3术语和计量单位· 3.1术语 3.2计量单位… 4 概述· 5 计量性能要求 6通用技术要求…· 6.1外观· 6.2 标识 7 计量器具控制 7.1检定条件 7. 2 检定项目 7.3 检定方法· 7. 4 检定结果的处理 7. 5 检定周期附录A 检定记录推荐格式附录B 检定证书内页信息及推荐格式附录C 检定结果通知书内页信息及推荐格式附录D 表面活度响应及其计算方法附录E 校准因子的测量方法
(IⅡ) (1) (1) ： (1) (1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (3) (3) (4) (4) (5) (6) (7) (8) (9)
..
.
1 JJG 478—2016
引言
α、β表面污染仪是常用的辐射防护仪器，用于开放性放射性工作场所放射性表面污染的监测，其计量性能直接影响监测结果的准确可靠，关乎辐射安全。
JJF1002一2010《国家计量检定规程编写规则》、JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1-一2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑制定本规程的基础性规范。本规程的修订以GB/T8997一2008《α、β表面污染测量仪与监测仪的校准》，GB/T5202-2008《辐射防护仪器α、β和α/β（β能量大于60keV）污染测量仪与监测仪》为主要技术参考。
与JJG478一1996相比，除编辑性修改外，本规程主要技术变化如下：
规程名称修改为“α、β表面污染仪”，取消了“表面污染仪”；一提高了对标准平面源量值不确定度的要求；一放宽检定条件中对环境温度的要求；一取消“β能量响应”检定项目；一增加“本底计数率”检定项目；一以“表面发射率响应”取代“表面活度响应”；一以“相对固有误差”取代“基本误差”；一附录中增加表面活度响应的计算方法和校准因子的测量方法。 本规程的历次版本发布情况为：
JJG478—1996。
I JJG478—2016
α、β表面污染仪检定规程
1范围
本规程适用于α、β表面污染仪的首次检定、后续检定和使用中检查，包括α表面污染测量仪与监测仪，β表面污染测量仪与监测仪，以及α/β表面污染测量仪和监测仪。
本规程不适用于固定式α、β个人表面污染测量监测装置以及最大能量小于60keV 的β粒子测量或监测仪器的检定。
2引用文件
本规程引用下列文件： JJF1001一2011通用计量术语及定义 GB/T4960.1一2010核科学技术术语第1部分：核物理与核化学 GB/T4960.6一2008核科学技术术语第6部分：核仪器仪表 GB/T5202—2008 B辐射防护仪器α、β和α/β（β能量大于60keV）污染测量仪与
监测仪
GB/T8997-2008 3α、β表面污染测量仪与监测仪的校准凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规程；凡是不注日期的引用文
件，其最新版本（包括所有的修改单位）适用于本规程。 3术语和计量单位 3.1术语
JF1001—2011、GB/T4960.1—2010、GB/T4960.6—2008界定的及以下术语和定义适用于本规程。 3.1.1表面发射率响应surfaceemissionrateresponse
在确定的条件下，测量仪器或装置（系统）对激励作用的反应特性称为响应，以仪器示值与激励量的商表示。当放射源的量值以表面发射率表示时，称为表面发射率响应。 3.1.2表面活度响应surfaceactivityresponse
α、β表面污染仪对标准平面源的示值与标准平面源单位面积活度的商。 3.2计量单位 3.2.1[ ［放射性］活度：贝可［勒尔］；符号：Bq。 3.2.2[ ［源］表面发射率：每分钟2元粒子数；符号：（min·2元sr）-1。 4概述
α、β表面污染仪包括便携式α、β表面污染测量仪和监测仪，后者具有报警功能。 由探测器、信号处理与显示等部件组成，通常采用闪烁体探测器或气体探测器，用于开
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（3）环境本底辐射小于0.25μGy/h；（4）周围无明显影响正常工作的机械振动和电磁干扰。
7.2检定项目
α、β表面污染仪首次检定、后续检定和使用中检查项目见表2。
表2检定项目一览表首次检定
检定项目外观及标识本底计数率表面发射率响应
后续检定
使用中检查
+ + + + +
+ + + +
+ + + 一
重复性相对固有误差注：“十”为检定的项目，“一”为不需检定的项目。
7.3检定方法 7.3.1外观及标识
目测与通电检查α、β表面污染仪是否满足第6章的要求。 7.3.2本底计数率
开机预热，连续测量本底计数率至少10次，取其算术平均值。
7.3.3表面发射率响应
分别用α、β系列标准平面源测定α、β表面污染仪对α、β粒子的响应。检定测量时，探测器窗与标准平面源应保持平行，标准平面源活性区面积应覆盖探测器窗。α标准平面源距探测器窗表面距离为5mm，β标准平面源距探测器窗表面距离为10mm。
用α、β表面污染仪依次分别对α、β系列标准源测量，每一系列标准源至少包括
3个相邻量级的标准源，每一个标准源重复读数不少于5次，取平均值。α、β表面污染仪扣除本底后的净计数，与探测器窗对应的标准平面源活性区面积上表面发射率的商，即为被检仪器的表面发射率响应，按公式（1）和公式（2）计算。
N, - Nib
(1)
Rii:
qijs
式中： R；—被检仪器对i系列标准源中第i个源的表面发射率响应，无量纲； N被检仪器对i系列标准源中第i个标准源的读数平均值，s-1； Nib- 被检仪器对i放射性的本底计数率，s-1；
-i系列标准源中第i个源与探测器窗对应面积上的表面发射率，s-1。
qijs
ZR; R;: j=1
(2)
n
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α、β表面污染仪 a、β Surface Contamination Monitors
2016-11-30发布
2017-05-30实施
国家质量监督检验检疫总局发布 JJG 478—2016
α、β表面污染仪检定规程
JJG 478—2016 代替JJG478—1996
Verification Regulation for α,β Surface ContaminationMonitors
归口单位：全国电离辐射计量技术委员会主要起草单位：上海市计量测试技术研究院参加起草单位：北京市计量检测科学研究院
深圳市计量质量检测研究院
本规程委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释 JJG 478—2016
本规程主要起草人：
唐方东（上海市计量测试技术研究院）何林锋（上海市计量测试技术研究院）赵贵坤（北京市计量检测科学研究院）周迎春（深圳市计量质量检测研究院）
参加起草人：
罗琛 (北京市计量检测科学研究院) 李名兆 （深圳市计量质量检测研究院）陆小军 （上海市计量测试技术研究院） JJG478—2016
目录
引言 1 范围 2引用文件 3术语和计量单位· 3.1术语 3.2计量单位… 4 概述· 5 计量性能要求 6通用技术要求…· 6.1外观· 6.2 标识 7 计量器具控制 7.1检定条件 7. 2 检定项目 7.3 检定方法· 7. 4 检定结果的处理 7. 5 检定周期附录A 检定记录推荐格式附录B 检定证书内页信息及推荐格式附录C 检定结果通知书内页信息及推荐格式附录D 表面活度响应及其计算方法附录E 校准因子的测量方法
(IⅡ) (1) (1) ： (1) (1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (3) (3) (4) (4) (5) (6) (7) (8) (9)
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引言
α、β表面污染仪是常用的辐射防护仪器，用于开放性放射性工作场所放射性表面污染的监测，其计量性能直接影响监测结果的准确可靠，关乎辐射安全。
JJF1002一2010《国家计量检定规程编写规则》、JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1-一2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑制定本规程的基础性规范。本规程的修订以GB/T8997一2008《α、β表面污染测量仪与监测仪的校准》，GB/T5202-2008《辐射防护仪器α、β和α/β（β能量大于60keV）污染测量仪与监测仪》为主要技术参考。
与JJG478一1996相比，除编辑性修改外，本规程主要技术变化如下：
规程名称修改为“α、β表面污染仪”，取消了“表面污染仪”；一提高了对标准平面源量值不确定度的要求；一放宽检定条件中对环境温度的要求；一取消“β能量响应”检定项目；一增加“本底计数率”检定项目；一以“表面发射率响应”取代“表面活度响应”；一以“相对固有误差”取代“基本误差”；一附录中增加表面活度响应的计算方法和校准因子的测量方法。 本规程的历次版本发布情况为：
JJG478—1996。
I JJG478—2016
α、β表面污染仪检定规程
1范围
本规程适用于α、β表面污染仪的首次检定、后续检定和使用中检查，包括α表面污染测量仪与监测仪，β表面污染测量仪与监测仪，以及α/β表面污染测量仪和监测仪。
本规程不适用于固定式α、β个人表面污染测量监测装置以及最大能量小于60keV 的β粒子测量或监测仪器的检定。
2引用文件
本规程引用下列文件： JJF1001一2011通用计量术语及定义 GB/T4960.1一2010核科学技术术语第1部分：核物理与核化学 GB/T4960.6一2008核科学技术术语第6部分：核仪器仪表 GB/T5202—2008 B辐射防护仪器α、β和α/β（β能量大于60keV）污染测量仪与
监测仪
GB/T8997-2008 3α、β表面污染测量仪与监测仪的校准凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规程；凡是不注日期的引用文
件，其最新版本（包括所有的修改单位）适用于本规程。 3术语和计量单位 3.1术语
JF1001—2011、GB/T4960.1—2010、GB/T4960.6—2008界定的及以下术语和定义适用于本规程。 3.1.1表面发射率响应surfaceemissionrateresponse
在确定的条件下，测量仪器或装置（系统）对激励作用的反应特性称为响应，以仪器示值与激励量的商表示。当放射源的量值以表面发射率表示时，称为表面发射率响应。 3.1.2表面活度响应surfaceactivityresponse
α、β表面污染仪对标准平面源的示值与标准平面源单位面积活度的商。 3.2计量单位 3.2.1[ ［放射性］活度：贝可［勒尔］；符号：Bq。 3.2.2[ ［源］表面发射率：每分钟2元粒子数；符号：（min·2元sr）-1。 4概述
α、β表面污染仪包括便携式α、β表面污染测量仪和监测仪，后者具有报警功能。 由探测器、信号处理与显示等部件组成，通常采用闪烁体探测器或气体探测器，用于开
1 JJG478—2016
（3）环境本底辐射小于0.25μGy/h；（4）周围无明显影响正常工作的机械振动和电磁干扰。
7.2检定项目
α、β表面污染仪首次检定、后续检定和使用中检查项目见表2。
表2检定项目一览表首次检定
检定项目外观及标识本底计数率表面发射率响应
后续检定
使用中检查
+ + + + +
+ + + +
+ + + 一
重复性相对固有误差注：“十”为检定的项目，“一”为不需检定的项目。
7.3检定方法 7.3.1外观及标识
目测与通电检查α、β表面污染仪是否满足第6章的要求。 7.3.2本底计数率
开机预热，连续测量本底计数率至少10次，取其算术平均值。
7.3.3表面发射率响应
分别用α、β系列标准平面源测定α、β表面污染仪对α、β粒子的响应。检定测量时，探测器窗与标准平面源应保持平行，标准平面源活性区面积应覆盖探测器窗。α标准平面源距探测器窗表面距离为5mm，β标准平面源距探测器窗表面距离为10mm。
用α、β表面污染仪依次分别对α、β系列标准源测量，每一系列标准源至少包括
3个相邻量级的标准源，每一个标准源重复读数不少于5次，取平均值。α、β表面污染仪扣除本底后的净计数，与探测器窗对应的标准平面源活性区面积上表面发射率的商，即为被检仪器的表面发射率响应，按公式（1）和公式（2）计算。
N, - Nib
(1)
Rii:
qijs
式中： R；—被检仪器对i系列标准源中第i个源的表面发射率响应，无量纲； N被检仪器对i系列标准源中第i个标准源的读数平均值，s-1； Nib- 被检仪器对i放射性的本底计数率，s-1；
-i系列标准源中第i个源与探测器窗对应面积上的表面发射率，s-1。
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ZR; R;: j=1
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