JJF
中华人民共和国国家计量技术规范
JJF1485—2014
圆度定标块校准规范
Calibration Specification for Roundness Flick Calibration Standard
2014-08-25发布
2014-11-25实施
国家质量监督检验检疫总局发布
O JJF1485—2014
圆度定标块校准规范 Calibration Specification for
JJF1485—2014
Roundness FlickCalibration Standard
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会
主要起草单位：上海市计量测试技术研究院
中国计量科学研究院
参加起草单位：阿美特克集团泰勒·霍普森公司
海克斯康测量技术（青岛）有限公司
本规范委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释 JJF1485—2014
本规范主要起草人：
姜志华（上海市计量测试技术研究院）张恒 (中国计量科学研究院) 曾燕华（上海市计量测试技术研究院）张波（上海市计量测试技术研究院）
参加起草人：
张彤（阿美特克集团泰勒·霍普森公司）王晋 (海克斯康测量技术 (青岛）有限公司) 尹春节（阿美特克集团泰勒·霍普森公司） JJF1485—2014
录
目
(I) (1) (1) (1) (1) (1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (3) (3) (3) (4) (8)
引言 1 范围 2 引用文件. 3概述 4计量特性 4.1定标块的表面粗糙度 4.2定标块的圆度. 4.3定标块的弦高值· 5校准条件： 5.1环境条件 5.2测量标准及其他设备 5.3其他条件. 6校准项目和校准方法 6.1定标块的表面粗糙度 6.2定标块的圆度 6.3定标块的弦高值. 7校准结果表达· 8复校时间间隔附录A定标块弦高值测量结果的测量不确定度评定示例附录B校准证书内容及内页格式 JJF1485—2014
引言
JJF1071--2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001一2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1一2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑本校准规范制定的基础性系列规范。
本规范为首次制定。
Ⅱ JJF1485—2014
圆度定标块校准规范
1范围
本规范适用于弦高标称值为（1～50）um圆度定标块（以下简称定标块）的校准。
2引用文件
本规范引用了下列文件： GB/T7234一2004产品儿何量技术规范（GPS） 圆度测量术语、定义及参数 GB/T7235—2004产品几何量技术规范（GPS） 评定圆度误差的方法半径变
化量测量
GB/T26098一2010圆度测量仪凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡不注日期的引用文件，
其最新版本（包括所有的修订单）适用于本规范。 3概述
定标块是一个在圆度误差和表面粗糙度都很小的外圆柱表面上，加工出一个与圆柱轴线平行的小平面的标准器。小平面在圆柱体径向截面上的弦高值F即为定标块的弦高值。定标块用于校准和检测仪器放大倍率等参数。
典型定标块的结构见图1。
AA
图1定标块结构示意图
4计量特性 4.1定标块的表面粗糙度
定标块测量面的表面粗糙度Ra一般不大于0.05μm。 4.2定标块的圆度
定标块的圆度误差一般不大于0.10μm。 4.3定标块的弦高值
定标块弦高值的测量不确定度一般为5%~2%。 注：以上指标不是用于合格性判别，仅供参考。 JJF1485—2014
5校准条件
5.1环境条件 5.1.1温度条件：温度条件应根据被校定标块的测量不确定度要求确定。推荐的最低要求为实验室内温度为（20土1）℃，其变化不应超过0.5℃/h，定标块及校准用设备在室内平衡温度的时间不少于12h。 5.1.2相对湿度：实验室内的相对湿度不大于65%。 5.1.3实验室内应无影响测量的噪音、振动和磁场。 5.2测量标准及其他设备
推荐使用表1所列测量标准及设备标准器，允许使用满足不确定度要求的其他测量标准及其他设备进行校准。
表1# 测量标准及其他设备
序号
校准项目
设备名称表面粗糙度测量仪表面粗糙度比较样块
技术要求
MPE：±（2%5%) MPE：+12%~-17%
1
定标块的表面粗糙度
2 3
定标块的圆度定标块的弦高值
圆度仪
主轴径向跳动：0.03μm
5.3其他条件
定标块的表面不应有锈蚀、划伤、碰伤等缺陷。定标块底座应平稳，主体与底座联接应稳定牢固，不应有松动、相对转动等现象。 6校准项目和校准方法
首先检查外观和各部分相互作用，确定没有影响计量特性因素后再进行校准。
6.1＇定标块的表面粗糙度
定标块的表面粗糙度用表面粗糙度测量仪进行测量。在规定区域圆弧面上与小平面上分别测量，取最大值作为测量结果。
也可以采用表面粗糙度样块比较测量。 有争议时应以表面粗糙度测量仪进行测量。
6.2定标块的圆度
定标块的圆度误差用圆度仪进行测量，测量时在定标块规定区域的中截面处进行，圆度误差的评定应去除小平面部分。
将圆度仪通电预热至少15min（或按仪器说明书的规定对仪器进行通电预热和仪器状态调整），采用高斯滤波器，滤波器范围选择“（1～50）波/转”挡，测杆选用“标准测杆”，受力方向选择“外侧”，测力选择“中等测力”，放大倍数选择“低倍”挡。
将定标块置于圆度仪工作台中心，使测头与定标块中截面相接触，放大倍数选择由低至高，调整定标块与仪器回转中心同轴。测量时，先让主轴空转3圈，再开始测量并记录数据。以最小包容区域法或最小二乘法评定其圆度误差。 2 JJF1485—2014
6.3定标块的弦高值
定标块的弦高值用圆度仪进行测量，测量时在定标块规定区域的中截面处进行。 将定标块置于圆度仪工作台中心，使测头与定标块中截面相接触，放大倍数选择由
低至高，调整定标块与仪器回转中心同轴。测量时，先让主轴空转3圈，再开始测量并记录数据。采用高斯滤波器，滤波器范围选择“（1～500）波/转”挡，放大倍数根据相应的弦高值选取，以最小外接圆法评定其圆度误差，并以测量得到的圆度误差值Ront 作为定标块的弦高值F，见公式（1）。
(1)
F=Ront
式中： F—弦高值，μm; Ront——圆度误差值，μm。
7 校准结果表达
经过校准的定标块发给校准证书，一般情况下，校准结果至少应给出定标块弦高值的测量结果、评定方法及测量不确定度。校准证书的内容及内页格式见附录B。
8复校时间间隔
由于复校时间间隔的长短是由定标块的使用情况、使用者、定标块本身质量等诸因素所决定的，因此送校单位可根据实际使用情况自主决定复校时间间隔。建议复校时间间隔一般不超过1年。
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