ICS37.020 N30
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T12085.8—2010 代替GB/T12085.8—1989
光学和光学仪器 环境试验方法
第8部分：高压、低压、浸没
Optics andopticalinstruments-Environmentaltestmethods-
Part 8:High pressure,low pressure,immersion
(ISO9022-8:1994,MOD)
2011-05-01实施
2011-01-14发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会 发布 GB/T12085.8—2010
前言
GB/T12085《光学和光学仪器 器环境试验方法》分为以下16个部分：
第1部分：术语、试验范围；第2部分：低温、高温、湿热；第3部分：机械作用力；第4部分：盐雾；第5部分：低温、低气压综合试验；第6部分：砂尘；第7部分：滴水、淋雨；第8部分：高压、低压、浸没；第9部分：太阳辐射；第10部分：振动（正弦）与高温、低温综合试验；第11部分：长霉；第12部分：污染；第13部分：冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验；第14部分：露、霜、冰；第15部分：宽带随机振动（数字控制）与高温、低温综合试验；第16部分：弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验。
本部分为GB/T12085的第8部分。 本部分修改采用ISO9022-8：1994《光学和光学仪器环境试验方法第8部分：高压、低压、浸没》。 本部分与ISO9022-2：1994的主要差异如下：
删除国际标准的序言和前言；根据ISO9022-8第1章及我国标准用语习惯作了重新编写； “国际标准本部分”一词改为“本部分”
本部分代替GB/T12085.8—1989《光学和光学仪器 环境试验方法 高压、低压、浸没》，与 GB/T12085.8—1989的主要差异为：
合并了范围与试验目的；修改了变量温差的计量单位；修改了条件方法82的严酷等级04的浸没深度；增加了试验程序的总则；增加了环境试验的标记名称，修改了相应标准号的编写；增加了附录A的试验说明。
本部分的附录A为资料性附录。 本部分由中国机械工业联合会提出。 本部分由全国光学和光子学标准化技术委员会（SAC/TC103)归口。 本部分起草单位：上海理工大学、宁波永新光学股份有限公司。 本部分主要起草人：冯琼辉、章慧贤、曾丽珠、秦杰。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为：
GB/T12085.8—1989。
I GB/T12085.8-—2010
光学和光学仪器 环境试验方法
第8部分：高压、低压、浸没
1范围
本部分规定了高压、低压、浸没试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的为研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等特性受到环境气体高压、低压或水浸没影
响的变化程度。 2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T12085的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T12085.1光学和光学仪器 环境试验方法第1部分：术语、试验范围（GB/T12085.1- 2010,ISO9022-1:1994,MOD) 3试验条件
光学仪器的耐压试验采用下述三种方法。
条件试验方法80：内高压；条件试验方法81：内低压；条件试验方法82：浸没。
条件试验方法80的环境条件为清洁的干燥空气或氮气，相对湿度小于30%。 条件试验方法82用于在使用期间可能遭到浸没的仪器。浸没试验应使用软水并在散开的水箱里
或水压室中进行，浸没的深度根据试样的最高部位决定，水温应在10℃～25℃之间，暴露期间试样的温度不得低于水温，但也不可超过水温10K。 4条件试验 4.1条件试验方法80：内高压
条件试验方法80内高压的严酷等级按表1。
表1 05
严酷等级与外界的压差/hPa 最大压降/hPa 暴露时间/min
01
08
09
10 400±5
11
02
03
04
06
07
12
13
100±2
300 200 100 50 20 10 10 1或2
50 20 10
75
2
工作状态 a见5.4.
4.2条件试验方法81:内低压
条件试验方法81的内低压的严酷条件按表2。 GB/T12085.8—2010
表2
严酷等级与外界的压差/hPa 最大压降/hPa 暴露时间/min
03 04 05 06 07 08 09 10 11 12 13 100±2
01
02
400±5
20 10
75
50
300 200 100 50 10 1或2°
2
S
工作状态 a见5.4。
4.3 条件试验方法82：浸没
条件试验方法82浸没的严酷条件按表
表3
严醋等级浸没深度/m 允许偏差暴露时间/h 工作状态
02 4
03 10
04
06 400
50
200
±10%
1或2
试验程序 5. 1 总则
5
试验应符合相关标准和GB/T12085.1的要求 5.2条件试验方法82:试样的预处理和初始检测
暴露前，试样应在温度为40 C上2℃，相对湿度小于40 %的条件下放置4h。 5.3条件试验方法80和81：压力变化曲线
如有关标准婴求在式验中记录压力随时间变化的曲线，则应采用记录仪记录，如没有适当的记录仪，压力变化曲线应根据不少于10个相等间隔的测量值绘制（参见附录A）。 5.4工作状态2
如有关标准要求条件试验方法80和81的工作状态为2，则应注意：
试样内或试样上的热变化不得超过土1K，否则将会降低所要求的测量准确度；
a)
b) 机械运动可以从外部起动，例如：用手动代替工作状态2
如果因机械运动引起试样内部体积的变化而产生记录的突变，则应在记录中标明。
5.5条件试验方法82：恢复和最后检测
暴露完成后，试样需放在温度为40℃土2℃、相对湿度小于40%的条件下4h。然后按5.6进行评价。 5.6条件试验方法82：评价
中间检测和最后检测时光学表面不能出现水膜，但水膜在试样加热期间若能部分消失并在试验结束24h内不再重现是允许的。从5.2和5.5的对比中得到评价试样的结果。有关标准应规定允许的差异。
如果由于试样的结构（如封闭式外壳）而使得目视检查看不到渗水现象，则在有关标准中应规定检验渗水的方法。 6环境试验标记
环境试验标记应符合GB/T12085.1的规定。
2 GB/T12085.8—2010
示例：光学仪器抗内低压环境试验，条件试验方法81、严酷等级01、工作状态1的标记为：
环境试验GB/T12085-81-01-1。
有关标准应包括的内容 a) 环境试验标记； b) 试样的数量； c) 预处理（见5.2)； d) 初始检测的内容和范围（见5.2)；
1
条件试验方法80和81；如果需要，则应按5.3记录压力变化曲线，并以此作为判据 f) 工作状态2：工作周期的确定 g) 工作状态2：中间检测的内容和范围； h) 恢复（见5.5； i) 最后检测的内容和范围（见5.5）； j) 评价判据（见5.6）； k) 试验报告的内容和范围
) GB/T12085.8—2010
附录A （资料性附录）
抗压试验及试验装置
A.1抗压试验说明
为了达到满意的功能，要求光学仪器在改变环境温度时，其内表面始终不会出现水膜。否则，光学性能将会大大降低或加剧诸如腐蚀和发等影响。通常仪器使用前必须密封在干燥空气或者氮气中，并应按规定的抗压要求试验。
根据仪器的周围空气含量或仪器内表面，或进人仪器外壳衬套的空气含量（换言之，按仪器的密封圈类型和数量），选择合适的仪器抗压性能，并按标准规定选择模拟环境工作的条件试验方法。
内高压试验条件方法适合于因使用和运输而暴露在一个最高压力的严酷环境试验。而暴露在低温高压或者外高压的环境中的仪器必需进行内低压试验。（内低压试验也用于污染或不断增加的内部湿度下。）
裸潜或在水下的仪器必须进行浸没试验对于在内高压（条件试验方法80)或内低压（条件试验方法81)的条件试验时记录的压力/时间变化
曲线的不连续测量数据，允许对被测仪器的密封度有一个适当的说明并合理确定所要求的耐用度及可靠性。
压电或压阻的压力传感器与测量用放大器一起使用能提高测量精度。传感器必需装在试验座内部，以免试样外部空气对测量的影响。本装置方便连接记录器组件，例如，X-T记录器，可直接绘图。
条件试验方法80和81的压力试验装置如图A.1。 图A.2显示压力试验的试验连接装置。
试验连接器
带数字显示和绘图功能的真空传感器
泵
试样
图A.1 条件试验方法80和81压力试验装置的示意图
连接器一
一试样
O型密封圈
图A.2压力试验的试验连接图
图中d，和dz的对应螺纹公称值按表A.1。
4 GB/T12085.8—2010
表A.1
M3 6 5
M6 9 8
M10 14 12
di d2
M16×1.5*
M24×1.5
M36X1.5*
21
29 15
42
L的最大尺寸 8用于干燥器连接夹头。
5 0100-8
中华人民共和国
国家标准
光学和光学仪器 环境试验方法第8部分：高压、低压、浸没
GB/T12085.8—2010
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开本880×1230:1/16 印张0.75 字数11千字 2011年6月第一版 2011年6月第一次印刷
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书号：155066·1-42750定价 16.00元
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GB/T12085.8-2010
打印日期：2011年7月18日F007