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GB/T 25276-2010 液晶显示器(LCD)用三醋酸纤维素酯(TAC)膜 厚度测定方法

资料类别:行业标准

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内容简介

GB/T 25276-2010 液晶显示器(LCD)用三醋酸纤维素酯(TAC)膜 厚度测定方法 ICS 71.080.99 G 15
中华人民共和国国家标准
GB/T25276—2010
液晶显示器(LCD)用三醋酸纤维素酯(TAC)膜厚度测定方法
Triacetyl cellulose (TAC) films for liquid crystal display (LCD)-
Determination of thickness
(ISO4593:1993,NEQ)
2011-08-01实施
2010-09-26发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
发布 GB/T 25276—2010
前 言
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。 本标准与ISO4593:1993《塑料薄膜和薄片机械扫描法厚度的测定》一致性程度为非等效。 本标准由中国石油和化学工业协会提出。 本标准由全国光学功能薄膜材料标准化技术委员会(SAC/TC431)归口。 本标准起草单位:中国乐凯胶片集团公司。 本标准主要起草人:孙志英、刘新省、许丽丽、李保民
I GB/T25276—2010
液晶显示器(LCD)用三醋酸纤维素酯(TAC)膜厚度测定方法
1范围
本标准规定了液晶显示器(LCD)用三醋酸纤维素酯(TAC)膜厚度的测定方法。 本标准适用于用机械测量法和射线法对液晶显示器用TAC膜厚度的测定。也适用于眼镜片用
TAC膜厚度的测定。不适用于TAC膜压花边厚度的测定。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T2918塑料试样状态调节和试验的标准环境
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3. 1
光学功能薄膜opticalfunctionalfilms 具有优良光学性能主要用于平板显示器的各种原膜和功能膜。
4仪器
4.1机械式厚度测量仪
应达到以下精度: 100μm内(包括100μm)精度为1μm; —100μm到250μm(包括250μm)精度为2μm; —250μm以上精度为3μm。 注1,当上述测量仪不能胜任要求更高的精度时,不应使用本方法,而应选用更适合的测量仪或测盘方法,
ISO4591《塑料薄膜和薄片样品平均厚度的测量,卷材平均厚度和产量的测量重量测量法(重盘分析厚度)》中规定了应用称量法测定厚度。
测量仪应有一个表面为平面的下测量面和一个表面为平面或凸面的上测量面,所有测量面应是抛光的。
上下测量面为平面/平面时,每一测量面直径应在2.5mm至10mm之间,两平面不平行度小于 5μm。下测量面应可调节以满足上述要求。测量面对试样施加的负荷应在0.5N至1.0N之间。
上下测量面为凸面/平面时,上测量面的曲率半径应在15mm至50mm间,下测量面的直径应不小于5mm,测量面对试样施加的负荷应在0.1N至0.5N之间。
注2:测量值的传递输出可以采用机械法(使用千分尺)、光学法(使用镜式仪表)或电学法(电感法)等多种方法。 GB/T25276-2010
4.2非接触式厚度测定仪一射线厚度测定仪
精度要求: "---100μm内(包括100μm)精度为0.1μm; -100um到250μm(包括250μm)精度为0.5μm;
-250μm以上精度为1μm。 注:射线厚度仪测试精度较高,通常用于膜厚较薄的材料的测定,如LCD用偏光片用膜材料厚度的测定,可对薄膜
的中控分析给予更详尽的指导,更能保证最终产品的品质。机械式厚度测量仪糖度亦可满足LCD用偏光片用膜材料厚度的测定要求,实际应用中,此种方法对眼镜片用TAC膜厚度的测定使用较多。
5试样
裁切试样尺寸根据样品的状态而定,应符合以下要求: a)对成轴薄膜应先弃去外层2~3层,再全宽取样,试样宽度不小于100mm;也可在样品长度方
向不小于1000mm处取样,试样宽度不小于100mm。取样示意图见图1; b) 分切为小卷的薄膜,在每卷薄膜的片尾取样,每个试样长度不小于100mm;单独测量每卷薄
膜的厚度时,沿长度方向取不小于1000mm作为试样; c) 散页薄膜,根据需要取一张或数张作为试样,也可在产品标准中另行规定; d)样品应无折痕或其他缺陷; e) 使用射线厚度计进行测量时,还需准备不小于200mm长同宽度牵引片一条。
单位为毫米
长度方向
100100100
1 000
全宽样条
图1试样裁取示意图
6试验条件
6.1在试样测量前,按照GB/T2918规定的标准环境状态23℃土2℃和相对湿度50%士5%下平衡至少2h。
2 GB/T25276—2010
6.2环境要防尘。仪器不应受强光直射,周围无强磁场、电场干扰,无强气流及腐蚀性气体。 6.3仪器工作台应稳固、平整。 6.4试样和测量仪的各测量面无油污、灰尘等污染。 6.5射线厚度仪各导轴间平行度好,运转平稳。 6.6如有其他需要,按供需双方协商确定。
7步骤
7.1采用机械式测量仪进行测试时,采取以下步骤:
a) 调节反光镜,使光线对准入射窗口,同时观察影屏,直至屏面亮度均匀一致; b) 调节“调零手轮”,使刻线零位与投影屏上的指标线相重合; c) 抬高测量头,将试样平整地放在测量头和工作台之间; d) 通过数据读取窗口读出相应测量点厚度值; e) 依次进行试样不同位置厚度的测量及不同试样的厚度测量; f) 在每组试样测量后应重新检查其零点; g) 测量时应平缓放下测头,避免试样变形。
7.2 采用射线厚度仪进行测试时,采取以下步骤:
a) 开启电源开关,使仪器稳定30min; b)根据需要设定好测定的上下限范围和所需数据类型; c) 将待测的薄膜接上牵引片,卷到纸轴上,穿过传感器; d) 按动面板上的按钮,使夹辊夹住薄膜,然后脚踩启动开关; e) 数据测量并按要求输出结果; f) 依次进行试样不同位置厚度的测量及不同试样的厚度测量。
8结果表示
沿试样长度方向等间距测量下述规定的点厚度并进行最大值、最小值、标准偏差、平均值统计。 a) 样品宽度小于300mm,测量10个点; b) 样品宽度300mm~1500mm,测量20个点;
成轴薄膜距片边和压花边50mm以外测定。 试样测试点示意图见图2。
测试点(根据膜宽度测试10或20个点) 00000 50mu
薄膜宽度,即试样长度
图2 2薄膜测试点示意图
9试验报告
试验报告应包含以下内容: GB/T25276—2010
a) 本标准号; b) 识别样品所需要的详细说明; c) 使用测量表面的形状和施加的力; d) 试样的长度; e) 所测试样的数量; f) 测量试样的平均厚度,该平均厚度为所有测量值的算术平均值,精确至1um(0.001mm)。如
果需要,报告中还应给出每一个测量值; g) 所测试样的厚度殿大值、最小值及厚度极差; h) 根据需要,报告中给出测量总点数和标准偏差。
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