中华人民共和国国家标准
GB/T33523.3—2022/ISO25178-3:2012
产品几何技术规范（GPS)
表面结构 区域法第3部分：规范操作集
Geometrical product specifications (GPS)-Surface texture: Areal-
Part 3:Specification operators
(ISO25178-3:2012,IDT)
2022-12-30发布
2023-04-01实施 目 次
前言引言
II IV
范围规范性引用文件
1
2
3术语和定义 4完整规范操作集
概要信息附录A（资料性）完整规范操作集的决策树附录B（规范性）GB/T33523.2中参数的缺省特征值附录C（规范性） GB/T33523.2中参数的缺省单位附录D（资料性）表面结构轮廊参数间的关系附录E（资料性）与GPS矩阵模型的关系参考文献
5
10 13 14
15 前 創言
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
本文件是GB/T33523《产品几何技术规范（GPS） 表面结构 区域法》的第3部分。GB/T33523 已经发布了以下部分：
第1部分：表面结构的表示法；第2部分：术语、定义及表面结构参数；第3部分：规范操作集；第6部分：表面结构测量方法的分类：第70部分：实物测量标准； -第71部分：软件测量标准；第72部分：XML文件格式x3p；第601部分：接触（触针）式仪器的标称特性：第602部分：非接触（共聚焦色差探针）式仪器的标称特性；第603部分：非接触（相移干涉显微）式仪器的标称特性；第604部分：非接触（相干扫描干涉）式仪器的标称特性：第605部分：非接触（点自动对焦探针）式仪器的标称特性；第606部分：非接触（变焦）式仪器的标称特性；第701部分：接触（触针）式仪器的校准与测量标准。
本文件等同采用ISO25178-3：2012《产品几何技术规范（GPS）表面结构区域法第3部分：规范操作集》。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国产品几何技术规范标准化技术委员会（SAC/TC240）提出并归口。 本文件起草单位：青岛城市学院、华中科技大学、意特利（滁州）智能数控科技有限公司、中机生产力
促进中心有限公司、中国计量大学、浙大宁波理工学院、中国计量科学研究院、浙江大学、中机研标准技术研究院（北京)有限公司。
本文件主要起草人：郎岩梅、刘晓军，赵军、刘士孔、马修水、高思田、曹衍龙、刘星明、杨将新、朱悦。 引言
随着国家产品质量提升计划的实施，对产品设计、制造、测量和检验过程中使用的统一规范或原则的需求越来越迫切。原有产品几何技术规范中表面结构的表示方法及相关标准已不能满足产品制造过程中的表面质量控制要求。
GB/T33523《产品几何技术规范（GPS）表面结构区域法》基于新一代GPS产品几何规范体系，通过数字化测量技术、软件分析技术及计量评定等手段，构建一套全新的三维表面结构测量与分析的推荐性国家标准。GB/T33523在提出表面结构表示法、表面结构参数及规范操作集的基础上，分析了表面结构测量的方法，给出了使用的测量技术及仪器的标称特性。特别是，GB/T33523在涵盖接触式测量仪器的同时，重点引人了在高精度测量应用中具有重要价值但缺乏标准支撑的多种非接触式测量仪器。标准还规范了实物测量和软件测量标准，给出了软件文件标准和表面结构测量的计量特性。 GB/T33523实现了从二维轮廓测量到三维表面结构测量的跨越，为GPS产品几何规范体系提供了计量测试支撑。
GB/T33523拟由14个部分构成。
-第1部分：表面结构的表示法。目的在于规定产品技术文件（例如图纸、规范、合同和报告）中利用图形符号表示区域表面结构的规则。 第2部分：术语、定义及表面结构参数。目的在于规定用区域法评定表面结构的术语、定义和参数。 第3部分：规范操作集。目的在于规定适用于区域法评定表面结构（尺度限定表面）的完整规范操作集。
一一第6部分：表面结构测量方法的分类。目的在于规定主要用于表面结构测量方法的分类体系，
定义三类方法，描述三类方法之间的关系，并对具体方法做简要说明。 第70部分：实物测量标准。目的在于规定用于定期验证和调整区域法表面结构测量仪器的实物测量标准的特性。
第71部分：软件测量标准。目的在于规定用于测量仪器软件校验的S1型和S2型软件测量标
准（标准具）的术语定义。 一第72部分：XML文件格式x3p。目的在于规定用于存储和交换形貌及轮廓数据的XML文件
格式x3P。 第601部分：接触（触针)式仪器的标称特性。目的在于规定表面结构区域法接触（触针）式仪器的标称特性。 第602部分：非接触（共聚焦色差探针）式仪器的标称特性。目的在于规定使用基于白光轴向色散特性的共聚焦色差探针测量表面结构的非接触式仪器的设计与计量特性。 第603部分：非接触（相移干涉显微）式仪器的标称特性。目的在于规定相移干涉法（PSI）轮廓和区域表面结构测量显微镜的计量特性。 第604部分：非接触（相干扫描干涉）式仪器的标称特性。目的在于规定用于表面高度三维映射的相干扫描干涉（CSI)测量系统的计量特性。 第605部分：非接触（点自动对焦探针）式仪器的标称特性。目的在于规定使用点自动对焦探针测量表面结构的非接触式仪器的计量特性。
- 第701部分：接触（触针)式仪器的校准与测量标准。目的在于规定区域法表面结构接触（触针）式仪器用作测量标准的实物量具的特性，残余误差的评定方法，校准、验收和周期检定的检测方法。 产品几何技术规范（GPS）
表面结构区域法第3部分：规范操作集
1范围
本文件规定了适用于区域法评定表面结构（尺度限定表面）的完整规范操作集。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T33523.2一2017产品几何技术规范（GPS）表面结构区域法第2部分：术语、定义及表面结构参数（ISO25178-2：2012，IDT)
ISO14406产品几何技术规范（GPS）提取［GeometricalProductSpecifications（GPS）一Ex traction
ISO16610-1产品几何技术规范（GPS）滤波第1部分：概述和基本概念［GeometricalProduct Specifications (GPS)-Filtration--Part l:Overview and basic conceptsJ
注：GB/Z26958.1—2011产品几何技术规范（GPS）滤波第1部分：概述和基本概念（ISO/TS16610-1：2006，
IDT) ISO16610-21产品几何技术规范（GPS）滤波第21部分：线性轮廓滤波器高斯滤波器［Ge-
ometrical product specifications (GPS)-Filtration-Part 21 : Linear profile filters :Gaussian filtersJ
注：GB/T26958.21一2020产品几何技术规范（GPS）滤波第21部分：线性轮廊滤波器高斯滤波器（ISO
16610-21:2011,IDT) ISO17450-1产品几何技术规范（GPS）通用概念第1部分：几何规范和检验的模型［Geomet
rical Product Specifications (GPS)General concepts-Part 1 : Model for geometrical specification and verification
注：GB/T24637.1一2020产品几何技术规范（GPS）通用概念第1部分：几何规范和检验的模型（ISO17450-
1:2011,MOD) ISO17450-2产品几何技术规范（GPS）通用概念第2部分：基本原则、规范、操作集和不确定
度[Geometrical Product Specifications (GPS)-General concepts-Part 2:Basic tenets specifications operators,uncertainties and ambiguities
注：GB/T24637.2一2020产品几何技术规范（GPS）通用概念第2部分：基本原则、规范、操作集和不确定度
(ISO17450-2.2012,MOD) ISO25178-2产品几何技术规范（GPS）表面结构区域法第2部分：术语、定义及表面结构
参数[Geometrical Product Specifications (GPS)—Surface texture: Areal-Part 2: Terms definitions and surface texture parameters] 3术语和定义
ISO14406.ISO16610-1、ISO17450-1、ISO17450-2和ISO25178-2界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1
横向周期限 lateral period limit 《光学法》光学系统响应衰减到50%的正弦轮廓空间周期值。 注：横向周期限取决于表面特征的高度及用于测量表面的光学方法。
4完整规范操作集
4.1通则
完整规范操作集（见ISO17450-2）包括一个明确的规范所需要的全部操作。它由按给定顺序排列的全套具有明确定义的规范操作组成。采用区域法评价表面结构时，完整规范操作集定义了表面类型、 提取方法、拟合方法和用于表面结构区域法的滤波。
如果被测量中包含了形状误差，则应规定S-F表面，否则应规定S-L表面。 4.2提取方法 4.2.1评定区域 4.2.1.1一般要求
评定区域由进行提取操作的表面上一块矩形部分构成。 评定区域的方向应受规范约束。 注1：如果在正交方向上，嵌套指数是相同的，则评定区域的方向没有影响。 注2：评定区域的方向一般取决于被测表面的形状，即矩形区域的边平行/垂直于标称几何要素（例如，圆柱轴线、矩
形平板的边等）。
4.2.1.2S-F表面
除非另有说明，S-F表面的评定区域应是正方形。 如果F-操作是滤波操作，则正方形评定区域的边长与滤波器嵌套指数相等。 如果F-操作是拟合操作，则正方形评定区域的边长用来代替F-操作嵌套指数值。F-操作嵌套指数
的选定值将应用于所有后续操作心
F-操作嵌套指数值通常从下列数系中选取： .,0.1mm.0.2mm.0.25mm,0.5mm,0.8mm,1.0mm,2.0mm,2.5mm,5.0mm,8.0mm,
10mm...
注1：例如，用样条滤波器进行带嵌套指数的F-操作；用标称形状的总体最小二乘拟合操作进行未预定义嵌套指数
的F-操作。
注2：F-操作嵌套指数的值通常按需评价的最粗糙表面结构尺度的5倍确定。 4.2.1.3S-L表面