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GB/T 41655-2022 无损检测 超声检测 焊接、轧制和爆炸复合覆层检测技术

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

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资料语言:中文

更新时间:2023-12-08 16:53:39



推荐标签: 检测 超声 爆炸 无损检测 检测技术 覆层 41655

内容简介

GB/T 41655-2022 无损检测 超声检测 焊接、轧制和爆炸复合覆层检测技术 ICS 19.100 CCS J 04
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T41655—2022
无损检测 超声检测
焊接、轧制和爆炸复合覆层检测技术
(Non-destructive testing-Ultrasonic testing-
Technique of testing claddings produced by welding, rolling and explosion)
(ISO17405:2014,MOD)
2023-02-01实施
2022-07-11发布
国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
发布 GB/T41655—2022
目 次
前言

.
范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义 4 超声检测系统 5 检测准备 6 检测程序
1
.
检测报告附录A(资料性) 焦区的确定
7
- GB/T41655—2022


本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
本文件修改采用ISO17405:2014《无损检测超声检测焊接、轧制和爆炸复合覆层检测技术》。 本文件与ISO17405:2014相比,存在较多技术差异,在所涉及的条款外侧页边空白位置用垂直单
线(」)进行了标示。这些技术差异及其原因如下:
-用ISO22232-1代替了EN12668-1(见4.1),EN12668-1被ISO22232-1代替; —用ISO22232-2代替了EN12668-2(见4.1),EN12668-2被ISO22232-2代替;用ISO22232-3代替了EN12668-3(见4.1),EN12668-3被ISO22232-3代替;用等同采用国际标准的GB/T19799.1代替了ISO2400(见第2章,4.4.1);用修改采用国际标准ISO5577的GB/T12604.1代替了EN1330-4(见第2章,第3章),EN 1330-4被ISO5577代替;删除了术语3.2,该术语已纳人GB/T12604.1(见第3章);一增加了其他频率探头的选用原则(见4.1),在确保检测效果的前提下,经测试允许采用其他频
率探头,以提高细晶小厚度覆层的分辨率和降低粗晶大厚度覆层的信噪比;修改灵敏度设置时规定的回波高度,从40%改为80%(见4.4.2),以提高判定的可操作性;修改了双晶斜探头扫查宽度的选择(见6.2),以确保检测区域全覆盖,避免缺陷漏检。
本文件做了下列编辑性改动:
删除了4.2.1中关于引用附录A的陈述;增加了4.2.3的注;增加了4.2.4的公式编号;调整了图1的尺寸标注方式:增加了图1的注;增加了图2的标引序号说明;修改了图3的标引序号;删除了参考文献。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由中国机械工业联合会提出。 本文件由全国焊接标准化技术委员会(SAC/TC55)归口。 本文件起草单位:上海材料研究所、东方电气集团东方锅炉股份有限公司、四川惊雷科技股份有限
公司、厦门美科安防科技股份有限公司、武汉中科创新技术股份有限公司、山东瑞祥模具有限公司、曼图电子(上海)有限公司、深圳市大德激光技术有限公司、哈尔滨焊接研究所有限公司、广东韶钢工程技术有限公司、广东强劲机电工程有限公司。
本文件主要起草人:蒋建生、黄隐、赖传理、谭云华、李宾、邬清友、陈小明、丁杰、林光辉、韩丽娜、
王凤平、孟倩倩、龙绍军、王滨、杨亚涛、苏金花、张鑫、谢增强。
I GB/T41655—2022
无损检测 超声检测
焊接、轧制和爆炸复合覆层检测技术
1范围
本文件规定了对以钢为基材通过焊接、轧制和爆炸方式复合形成的覆层采用单晶或双晶探头手工超声检测的技术。
本文件适用于检测覆层及界面的平面型不连续或体积型不连续。 本文件不规定验收条款,也不界定检测范围。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T12604.1无损检测术语超声检测(GB/T12604.1—2020,ISO5577:2017,MOD) GB/T19799.1无损检测超声检测1号校准试块(GB/T19799.1—2015,ISO2400:2012,
IDT)
ISO22232-1无损检测超声检测设备性能与测试第1部分:仪器(Non-destructivetesting- Characterization and verification of ultrasonic test equipmentPart 1: Instruments)
ISO22232-2无损检测超声检测设备的性能与测试第2部分:探头(Non-destructive testing-Characterization andverification of ultrasonic test equipmentPart 2:Probes)
ISO22232-3无损检测超声检测设备的性能与测试第3部分:组合性能(Non-destructivetes ting-Characterization and verification of ultrasonic test equipment-—Part3:Combined equipment)
3术语和定义
GB/T12604.1界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
检测对象 test object 被检测部件。
4超声检测系统
4.1通则
检测采用超声脉冲反射技术。对于平行于检测表面的平面型不连续和体积型不连续,应采用直探头(单晶或双晶)利用纵波进行检测。
对于其他方向的不连续,可采用纵波双晶斜探头或横波斜探头进行检测。
1 GB/T 41655—2022
探头标称率应根据检测目的和材料特性选择。 探头频率宜为2MHz~6MHz。如试验验证灵敏度满足要求,也可选用其他频率的探头。 超声检测仪性能应符合ISO22232-1的要求,探头性能应符合ISO22232-2的要求。 检测系统组合性能应按照ISO22232-3定期核查。
4.2 2探头要求 4.2.1 纵波单晶直探头
最优灵敏度的深度范围取决于晶片尺寸。深度范围宜根据预期检出不连续的区域而定。 4.2.2纵波双晶直探头
最优灵敏度的深度范围(见附录A)取决于晶片尺寸和屋顶角。深度范围宜根据预期检出不连续的区域而定。 4.2.3纵波双晶斜探头
纵波折射角宜在65°~80°之间。选择晶片的倾斜角、形状以及尺寸应确保最优灵敏度的深度范围(见附录A)可覆盖预期检出不连续的区域。
注:从覆层检测无法实施时,选择从基材侧采用纵波单晶斜探头(折射角宜为45")对覆层进行检测。 4.2.4探头与检测对象表面曲率匹配
检测对象检测面与探头底面之间的间隙不应大于0.5mm。如果检测对象的曲率半径在公式(1)范围内时,则应通过打磨、使用适配器(如楔块)或其他辅助方法进行调整,而使探头与检测对象的曲率相匹配。
R 4mm A,
·(1 )
式中: R—一检测对象表面曲率半径,单位为毫米(mm); Ap 一平底探头在曲率方向接触表面的尺寸,单位为毫米(mm)。柱状零件轴向检测时,A表示
探头宽度方向接触面尺寸;周向检测时,A。表示探头长度方向接触面尺寸。
4.3其他要求
4.3.1检测范围
应配置可调节时基线的设备(“缩放模式”)。
4.3.2 回波宽度
对于所有类型的探头,包括单晶直探头、双晶直探头、单晶斜探头和双晶斜探头,屏幕可见回波宽度应纳入深度范围适宜性评价。
4.4检测设备设置 4.4.1范围设置
为实现不连续的准确定位,使用双晶探头在参考试块上调节超声检测仪范围设置,见图1或图2。
2 GB/T 41655—2022
试块材质与检测对象材质的声学性能相近,也可直接在检测对象上设置。
双晶直探头置于阶梯试块的各阶梯面。通过调节零点位移和扫描(速度),使相关回波波前设置在屏幕合适标记位置处。当双晶斜探头在图2所示的参考试块时,投影距离(探头前沿与反射点在检测面上的投影之间的距离)应与屏幕合适标记位置处相对应。按此方式,在屏幕上直接读出反射点的位置,即投影距离以及深度位置。
注1:根据不连续深度位置(通常与覆层厚度一致)在屏幕上标记所有可被检测到的不连续范围。 当使用直探头时,超声检测仪范围可使用已知厚度和声速的平行平面钢板的多次反射回波进行设
置(例如,GB/T19799.1规定的1号试块或其等效的试块)。
注2:当使用纵波双晶斜探头时,横波声速低于纵波声速,因此同步激发横波。检测时,确保设置范围内没有横波干
扰引起的错误显示。
单位为毫米
O1
H
2
V 十h
$5X5
+

$


10
标引序号说明:
一探头; 2焦区长度; 3 一焦距; X一反射体深度; Y——回波高度。 注1:所示参考试块存在未指定的尺寸。当使用该试块时,宜确保探头在试块上的测量时不受试块几何结构反射回
1
波的影响。
注2:根据实际检测需要,增加参考试块阶梯和平底孔的数量,或减少相邻阶梯的厚度。
图1双晶直探头焦区长度测定用参考试块 GB/T41655—2022
单位为毫米
D

0
-
lil F
1
3 *
2. 5 6 7. 5 10 12. 5 15 x
标引序号说明: 1- 一探头;
焦区长度;一焦距;反射体深度;
2 3 + Y 回波高度。 注:当使用图中参考试块时,宜确保有效识别所有未标注的尺寸参考反射体回波。
图2双晶斜探头焦区长度测定用参考试块
4.4.2灵敏度设置
对于灵敏度设置,宜根据预期检出的不连续类型选择参考反射体(形状和尺寸)。 应选用与检测对象具有相同或相近复合工艺的参考试块调节灵敏度。参考试块覆层厚度、表面状
态和形状应与受检件相同(见第5章)。若探头与检测对象检测面进行曲面匹配,参考试块应有与探头相匹配的曲面状态,见4.2.5。
对于检测体积型不连续,反射体为横孔,例如可使用位于母材靠近界面位置,规格为Φ3mmX 30mm的横孔(见图3)。
对于熔化焊连接的覆层,一个横孔应垂直于焊缝方向,另一个横孔应平行于焊缝方向。对于两层或 ICS 19.100 CCS J 04
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T41655—2022
无损检测 超声检测
焊接、轧制和爆炸复合覆层检测技术
(Non-destructive testing-Ultrasonic testing-
Technique of testing claddings produced by welding, rolling and explosion)
(ISO17405:2014,MOD)
2023-02-01实施
2022-07-11发布
国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
发布 GB/T41655—2022
目 次
前言

.
范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义 4 超声检测系统 5 检测准备 6 检测程序
1
.
检测报告附录A(资料性) 焦区的确定
7
- GB/T41655—2022


本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
本文件修改采用ISO17405:2014《无损检测超声检测焊接、轧制和爆炸复合覆层检测技术》。 本文件与ISO17405:2014相比,存在较多技术差异,在所涉及的条款外侧页边空白位置用垂直单
线(」)进行了标示。这些技术差异及其原因如下:
-用ISO22232-1代替了EN12668-1(见4.1),EN12668-1被ISO22232-1代替; —用ISO22232-2代替了EN12668-2(见4.1),EN12668-2被ISO22232-2代替;用ISO22232-3代替了EN12668-3(见4.1),EN12668-3被ISO22232-3代替;用等同采用国际标准的GB/T19799.1代替了ISO2400(见第2章,4.4.1);用修改采用国际标准ISO5577的GB/T12604.1代替了EN1330-4(见第2章,第3章),EN 1330-4被ISO5577代替;删除了术语3.2,该术语已纳人GB/T12604.1(见第3章);一增加了其他频率探头的选用原则(见4.1),在确保检测效果的前提下,经测试允许采用其他频
率探头,以提高细晶小厚度覆层的分辨率和降低粗晶大厚度覆层的信噪比;修改灵敏度设置时规定的回波高度,从40%改为80%(见4.4.2),以提高判定的可操作性;修改了双晶斜探头扫查宽度的选择(见6.2),以确保检测区域全覆盖,避免缺陷漏检。
本文件做了下列编辑性改动:
删除了4.2.1中关于引用附录A的陈述;增加了4.2.3的注;增加了4.2.4的公式编号;调整了图1的尺寸标注方式:增加了图1的注;增加了图2的标引序号说明;修改了图3的标引序号;删除了参考文献。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由中国机械工业联合会提出。 本文件由全国焊接标准化技术委员会(SAC/TC55)归口。 本文件起草单位:上海材料研究所、东方电气集团东方锅炉股份有限公司、四川惊雷科技股份有限
公司、厦门美科安防科技股份有限公司、武汉中科创新技术股份有限公司、山东瑞祥模具有限公司、曼图电子(上海)有限公司、深圳市大德激光技术有限公司、哈尔滨焊接研究所有限公司、广东韶钢工程技术有限公司、广东强劲机电工程有限公司。
本文件主要起草人:蒋建生、黄隐、赖传理、谭云华、李宾、邬清友、陈小明、丁杰、林光辉、韩丽娜、
王凤平、孟倩倩、龙绍军、王滨、杨亚涛、苏金花、张鑫、谢增强。
I GB/T41655—2022
无损检测 超声检测
焊接、轧制和爆炸复合覆层检测技术
1范围
本文件规定了对以钢为基材通过焊接、轧制和爆炸方式复合形成的覆层采用单晶或双晶探头手工超声检测的技术。
本文件适用于检测覆层及界面的平面型不连续或体积型不连续。 本文件不规定验收条款,也不界定检测范围。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T12604.1无损检测术语超声检测(GB/T12604.1—2020,ISO5577:2017,MOD) GB/T19799.1无损检测超声检测1号校准试块(GB/T19799.1—2015,ISO2400:2012,
IDT)
ISO22232-1无损检测超声检测设备性能与测试第1部分:仪器(Non-destructivetesting- Characterization and verification of ultrasonic test equipmentPart 1: Instruments)
ISO22232-2无损检测超声检测设备的性能与测试第2部分:探头(Non-destructive testing-Characterization andverification of ultrasonic test equipmentPart 2:Probes)
ISO22232-3无损检测超声检测设备的性能与测试第3部分:组合性能(Non-destructivetes ting-Characterization and verification of ultrasonic test equipment-—Part3:Combined equipment)
3术语和定义
GB/T12604.1界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
检测对象 test object 被检测部件。
4超声检测系统
4.1通则
检测采用超声脉冲反射技术。对于平行于检测表面的平面型不连续和体积型不连续,应采用直探头(单晶或双晶)利用纵波进行检测。
对于其他方向的不连续,可采用纵波双晶斜探头或横波斜探头进行检测。
1 GB/T 41655—2022
探头标称率应根据检测目的和材料特性选择。 探头频率宜为2MHz~6MHz。如试验验证灵敏度满足要求,也可选用其他频率的探头。 超声检测仪性能应符合ISO22232-1的要求,探头性能应符合ISO22232-2的要求。 检测系统组合性能应按照ISO22232-3定期核查。
4.2 2探头要求 4.2.1 纵波单晶直探头
最优灵敏度的深度范围取决于晶片尺寸。深度范围宜根据预期检出不连续的区域而定。 4.2.2纵波双晶直探头
最优灵敏度的深度范围(见附录A)取决于晶片尺寸和屋顶角。深度范围宜根据预期检出不连续的区域而定。 4.2.3纵波双晶斜探头
纵波折射角宜在65°~80°之间。选择晶片的倾斜角、形状以及尺寸应确保最优灵敏度的深度范围(见附录A)可覆盖预期检出不连续的区域。
注:从覆层检测无法实施时,选择从基材侧采用纵波单晶斜探头(折射角宜为45")对覆层进行检测。 4.2.4探头与检测对象表面曲率匹配
检测对象检测面与探头底面之间的间隙不应大于0.5mm。如果检测对象的曲率半径在公式(1)范围内时,则应通过打磨、使用适配器(如楔块)或其他辅助方法进行调整,而使探头与检测对象的曲率相匹配。
R 4mm A,
·(1 )
式中: R—一检测对象表面曲率半径,单位为毫米(mm); Ap 一平底探头在曲率方向接触表面的尺寸,单位为毫米(mm)。柱状零件轴向检测时,A表示
探头宽度方向接触面尺寸;周向检测时,A。表示探头长度方向接触面尺寸。
4.3其他要求
4.3.1检测范围
应配置可调节时基线的设备(“缩放模式”)。
4.3.2 回波宽度
对于所有类型的探头,包括单晶直探头、双晶直探头、单晶斜探头和双晶斜探头,屏幕可见回波宽度应纳入深度范围适宜性评价。
4.4检测设备设置 4.4.1范围设置
为实现不连续的准确定位,使用双晶探头在参考试块上调节超声检测仪范围设置,见图1或图2。
2 GB/T 41655—2022
试块材质与检测对象材质的声学性能相近,也可直接在检测对象上设置。
双晶直探头置于阶梯试块的各阶梯面。通过调节零点位移和扫描(速度),使相关回波波前设置在屏幕合适标记位置处。当双晶斜探头在图2所示的参考试块时,投影距离(探头前沿与反射点在检测面上的投影之间的距离)应与屏幕合适标记位置处相对应。按此方式,在屏幕上直接读出反射点的位置,即投影距离以及深度位置。
注1:根据不连续深度位置(通常与覆层厚度一致)在屏幕上标记所有可被检测到的不连续范围。 当使用直探头时,超声检测仪范围可使用已知厚度和声速的平行平面钢板的多次反射回波进行设
置(例如,GB/T19799.1规定的1号试块或其等效的试块)。
注2:当使用纵波双晶斜探头时,横波声速低于纵波声速,因此同步激发横波。检测时,确保设置范围内没有横波干
扰引起的错误显示。
单位为毫米
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标引序号说明:
一探头; 2焦区长度; 3 一焦距; X一反射体深度; Y——回波高度。 注1:所示参考试块存在未指定的尺寸。当使用该试块时,宜确保探头在试块上的测量时不受试块几何结构反射回
1
波的影响。
注2:根据实际检测需要,增加参考试块阶梯和平底孔的数量,或减少相邻阶梯的厚度。
图1双晶直探头焦区长度测定用参考试块 GB/T41655—2022
单位为毫米
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lil F
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2. 5 6 7. 5 10 12. 5 15 x
标引序号说明: 1- 一探头;
焦区长度;一焦距;反射体深度;
2 3 + Y 回波高度。 注:当使用图中参考试块时,宜确保有效识别所有未标注的尺寸参考反射体回波。
图2双晶斜探头焦区长度测定用参考试块
4.4.2灵敏度设置
对于灵敏度设置,宜根据预期检出的不连续类型选择参考反射体(形状和尺寸)。 应选用与检测对象具有相同或相近复合工艺的参考试块调节灵敏度。参考试块覆层厚度、表面状
态和形状应与受检件相同(见第5章)。若探头与检测对象检测面进行曲面匹配,参考试块应有与探头相匹配的曲面状态,见4.2.5。
对于检测体积型不连续,反射体为横孔,例如可使用位于母材靠近界面位置,规格为Φ3mmX 30mm的横孔(见图3)。
对于熔化焊连接的覆层,一个横孔应垂直于焊缝方向,另一个横孔应平行于焊缝方向。对于两层或
上一章:GB/T 42399.2-2023 无损检测仪器 相控阵超声设备的性能与检验 第2部分:探头 下一章:GB/Z 41476.4-2022 无损检测仪器 1MV以下X射线设备的辐射防护规则 第4部分:控制区域的计算

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