ICS 19.100 J04 备案号：58374—2017
JB
中华人民共和国机械行业标准
JB/T13156—2017
无损检测 工业射线照相底片光学密度的
测定方法
Non-destructive testing---Test method for determining the density of industrial
radiographs
2017-04-12发布
2018-01-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布 JB/T13156—2017
目 次
前言引言， 1范围， 2规范性引用文件， 3术语和定义， 4装置... 5透射光学密度计的校准 5.1校准方法 5.2·要求 5.3记录及相关文档 6工业射线照相底片光学密度的测定 6.1准备. 6.2测定方法. 6.3记录. 附录A（规范性附录） 透射光学密度计附录B（规范性附录） 已校准光学密度阶梯片参考文献
- III JB/T13156—2017
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国无损检测标准化技术委员会（SAC/TC56）归口。 本标准起草单位：上海材料研究所、上海锅炉厂有限公司、上海泰司检测科技有限公司、中国计量
科学研究院、中国航空工业集团公司北京航空材料研究院、上海航天精密机械研究所、国核电站运行服务技术有限公司、厦门市特种设备检验检测院、上海市特种设备监督检验技术研究院、上海交通大学物理系、吴江市宏达探伤器材有限公司、无锡市捷成检测设备制造有限公司、上海宏达检测设备有限公司。
本标准主要起草人：金宇飞、张佩铭、丁杰、章怡明、陈锐、王倩妮、李来平、杨恒亮、伏喜斌、 吴刚、王威武、沈明奎、蒋世志、曹力钦、赵加冠、章韵清。
本标准为首次发布。
II JB/T13156—2017
引言
本标准所使用的术语“光学密度”，过去使用的是“密度”或“黑度”。鉴于“密度”一词容易且已经造成误解，例如将底片密度误解成单位为g/cm3的底片质量密度；而“黑度”一词也一直争议颇多，主要原因是与其他专业（例如光学专业）的用词不一致，因此本标准不再采用“密度”和“黑度”，而采用术语“光学密度”。
工业射线照相底片光学密度的测定是射线照相检测中的一项日常工作，虽然应用很普遍，但由于没有测定方法标准，导致测定的方法和要求各不相同。
本标准的目的是，统一各项要求和方法过程，从而降低成本。例如，透射光学密度计可以由用户自行进行校准，已校准光学密度阶梯片也可以由供应商出具校准证书，只要保证其具有可追溯性即可，而不再要求校准证书非得由第三方出具不可。
ⅢI JB/T13156—2017
无损检测工业射线照相底片光学密度的测定方法
1范围
本标准规定了工业射线照相底片光学密度的测定方法，以及透射光学密度计和已校准光学密度阶梯片的技术要求和校准方法。
本标准适用于工业射线照相底片的质量控制。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T5616—2014无损检测应用导则 GB/T12604.22005无损检测术语射线照相检测
3术语和定义
GB/T5616一2014和GB/T12604.2一2005界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
已校准光学密度阶梯片calibrateddensitystepwedge；calibratedsteptablet 已被校准、用作参考的具有一系列不同光学密度的底片。 注1：改写GB/T12604.2—2005，定义2.17。 注2：根据ISO5576:1997的2.17重新翻译。
4装置
用于测定工业射线照相底片光学密度的装置包括 a）透射光学密度计（见附录A)； b）已校准光学密度阶梯片（见附录B）。
5透射光学密度计的校准
5.1校准方法 5.1.1开机并且按照使用说明书上的预热时间来稳定电路。预热期过后，调节透射光学密度计读数至 "0"。 5.1.2选择和测量符合附录B的已校准光学密度阶梯片上的三个阶梯，其光学密度值分别低于、高于、接近于所要测定的工业射线照相底片的光学密度范围的最大值、最小值、中间值。
注：所要测定的工业射线照相底片的光学密度范围，由用户的无损检测工艺规程或质量体系文件具体规定。 5.1.3将光学密度测量值与已校准光学密度阶梯片上的光学密度示值或校准证书上的光学密度示值进行比较。
1 JB/T13156—2017
5.2要求 5.2.1若三个阶梯上的光学密度测量值与已校准光学密度阶梯片的光学密度示值相差在土0.05以内，则透射光学密度计已正确校准。 5.2.2若有任何--个阶梯上的光学密度测量值与已校准光学密度阶梯片的光学密度示值相差超出土0.05，则透射光学密度计的线性超出了允差，宜停止使用。 5.2.3如果发现透射光学密度计准确度下降或经过了修理或更换了关键部件，使用前应经过重新校准。 5.2.4透射光学密度计使用期间，至少每90天宜按5.1推荐的方法进行全量程线性校准。
注：全量程线性校准的量程范围和校准周期，由用户的无损检测工艺规程或质量体系文件具体规定 5.3记录及相关文档 5.3.1使用一个适当的日志来记录透射光学密度计的校准结果。此日志应可追溯到所使用的透射光学密度计（包括编号），还应标明进行校准的日期和校准操作者的工号或姓名、已校准光学密度阶梯片的编号。日志的保存期宜由用户的无损检测工艺规程或质量体系文件具体规定。 5.3.2也可以使用其他形式的文档系统，用来提供校准是能满足5.3.1所要求的可追溯性的适当证据。 5.3.3可将标有校准日期和校准操作者工号或姓名的标签贴在透射光学密度计上，作为校准日志或文档上记录的对比证据。 5.3.4记录所用的符合附录B要求的已校准光学密度阶梯片的首次使用的日期。
6工业射线照相底片光学密度的测定
6.1准备 6.1.1按照使用说明书来操作透射光学密度计（见附录A)。 6.1.2应使用符合附录B要求的已校准光学密度阶梯片。 6.1.3在每次工作之始或连续工作8h后，宜按第5章所要求的程序，对透射光学密度计进行日常校准。 6.1.4若读数与已校准光学密度阶梯片或校准证书上的光学密度示值的差异在士0.05以内，则透射光学密度计可以继续使用。若差异不在允差范围内，则需要按第5章的规定进行重新校准。 6.1.5若校准所显示的差异超出土0.05，则自上次校准日期以来的全部已测定过的工业射线照相底片，宜在光学密度计经过重新校准后重新验证其光学密度。 6.2测定方法 6.2.1将透射光学密度计的光阑（测量头）对准被测工业射线照相底片上的感兴趣区域（即观察区域或评定区域）内的任何部位，测定出区域内的光学密度值。 6.2.2分别选择区域内可能是最小和最大光学密度的部位进行测定。 6.2.3所有的测定值都应符合应用标准的要求。 6.3记录
工业射线照相底片光学密度的测定值，宜按无损检测工艺规程的要求进行记录。 注：例如，可记录最小和最大测定值，允许误差为士0.1。
2 JB/T13156—2017
附录 A (规范性附录) 透射光学密度计
透射光学密度计制造商应对每台透射光学密度计产品，按照相应的产品标准进行出厂检验。出厂检验应在质量体系的界定和保证下进行。质量体系宜符合GB/T19001（ISO9001）的要求。
透射光学密度计制造商应提供如下随行文件： a）装箱单。 b）合格证，包括声明符合的产品标准编号。 c）使用说明书。 d）技术参数表，内容至少包括：
1）外形尺寸； 2）光阑尺寸； 3）适用的工作环境条件； 4）有效测量的光学密度范围； 5）最小分辨力。
3 JB/T13156—2017
附录B （规范性附录）
已校准光学密度阶梯片
本标准适用的已校准光学密度阶梯片，应采用工业X射线照相胶片制作，且已校准。 已校准光学密度阶梯片可以是中国计量科学研究院（NIM）提供的X射线光学密度阶梯片（型号：
DX-13），也可以是可追溯到NIM的其他供应商提供的已校准光学密度阶梯片。
已校准光学密度阶梯片应至少有5个阶梯的光学密度，且涵盖了所要测定的工业射线照相底片的光学密度范围。
已校准光学密度阶梯片的供应商应出具一份校准证书，作为已校准光学密度阶梯片的随行文件。校准证书的内容应至少包括：
a）唯一编号：已校准光学密度阶梯片上所标记的唯一编号（或产品序列号）； b）潮源性：用于对比的NIM光学密度阶梯片的编号及其证书； c）校准过程：包括所用装置和作业指导书（或校准规程）的编号和状态； d）校准结果：每个阶梯的光学密度记录值（精确到0.01)； e）不确定度的说明； f）符合的标准； g）校准日期； h）校准人员签名； i）批准人员签名或供应商盖章； j）有效期的说明； k）供应商的名称和联系方式。 已校准光学密度阶梯片的校准应在质量体系的界定和保证下进行。质量体系宜符合GB/T19001
（ISO9001）的要求。
已校准光学密度阶梯片的用户宜采取防护措施，来贮存、手持和使用已校准光学密度阶梯片。若已校准光学密度阶梯片出现划痕、站污或呈现出其他不良的老化迹象，宜立即更换。
已校准光学密度阶梯片的有效期，由用户的质量体系文件具体规定。若未规定有效期，或规定的有效期超过两年，建议每隔两年至少按本附录的要求校准一次。
4 ICS 19.100 J04 备案号：58374—2017
JB
中华人民共和国机械行业标准
JB/T13156—2017
无损检测 工业射线照相底片光学密度的
测定方法
Non-destructive testing---Test method for determining the density of industrial
radiographs
2017-04-12发布
2018-01-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布 JB/T13156—2017
目 次
前言引言， 1范围， 2规范性引用文件， 3术语和定义， 4装置... 5透射光学密度计的校准 5.1校准方法 5.2·要求 5.3记录及相关文档 6工业射线照相底片光学密度的测定 6.1准备. 6.2测定方法. 6.3记录. 附录A（规范性附录） 透射光学密度计附录B（规范性附录） 已校准光学密度阶梯片参考文献
- III JB/T13156—2017
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国无损检测标准化技术委员会（SAC/TC56）归口。 本标准起草单位：上海材料研究所、上海锅炉厂有限公司、上海泰司检测科技有限公司、中国计量
科学研究院、中国航空工业集团公司北京航空材料研究院、上海航天精密机械研究所、国核电站运行服务技术有限公司、厦门市特种设备检验检测院、上海市特种设备监督检验技术研究院、上海交通大学物理系、吴江市宏达探伤器材有限公司、无锡市捷成检测设备制造有限公司、上海宏达检测设备有限公司。
本标准主要起草人：金宇飞、张佩铭、丁杰、章怡明、陈锐、王倩妮、李来平、杨恒亮、伏喜斌、 吴刚、王威武、沈明奎、蒋世志、曹力钦、赵加冠、章韵清。
本标准为首次发布。
II JB/T13156—2017
引言
本标准所使用的术语“光学密度”，过去使用的是“密度”或“黑度”。鉴于“密度”一词容易且已经造成误解，例如将底片密度误解成单位为g/cm3的底片质量密度；而“黑度”一词也一直争议颇多，主要原因是与其他专业（例如光学专业）的用词不一致，因此本标准不再采用“密度”和“黑度”，而采用术语“光学密度”。
工业射线照相底片光学密度的测定是射线照相检测中的一项日常工作，虽然应用很普遍，但由于没有测定方法标准，导致测定的方法和要求各不相同。
本标准的目的是，统一各项要求和方法过程，从而降低成本。例如，透射光学密度计可以由用户自行进行校准，已校准光学密度阶梯片也可以由供应商出具校准证书，只要保证其具有可追溯性即可，而不再要求校准证书非得由第三方出具不可。
ⅢI JB/T13156—2017
无损检测工业射线照相底片光学密度的测定方法
1范围
本标准规定了工业射线照相底片光学密度的测定方法，以及透射光学密度计和已校准光学密度阶梯片的技术要求和校准方法。
本标准适用于工业射线照相底片的质量控制。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T5616—2014无损检测应用导则 GB/T12604.22005无损检测术语射线照相检测
3术语和定义
GB/T5616一2014和GB/T12604.2一2005界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
已校准光学密度阶梯片calibrateddensitystepwedge；calibratedsteptablet 已被校准、用作参考的具有一系列不同光学密度的底片。 注1：改写GB/T12604.2—2005，定义2.17。 注2：根据ISO5576:1997的2.17重新翻译。
4装置
用于测定工业射线照相底片光学密度的装置包括 a）透射光学密度计（见附录A)； b）已校准光学密度阶梯片（见附录B）。
5透射光学密度计的校准
5.1校准方法 5.1.1开机并且按照使用说明书上的预热时间来稳定电路。预热期过后，调节透射光学密度计读数至 "0"。 5.1.2选择和测量符合附录B的已校准光学密度阶梯片上的三个阶梯，其光学密度值分别低于、高于、接近于所要测定的工业射线照相底片的光学密度范围的最大值、最小值、中间值。
注：所要测定的工业射线照相底片的光学密度范围，由用户的无损检测工艺规程或质量体系文件具体规定。 5.1.3将光学密度测量值与已校准光学密度阶梯片上的光学密度示值或校准证书上的光学密度示值进行比较。
1 JB/T13156—2017
5.2要求 5.2.1若三个阶梯上的光学密度测量值与已校准光学密度阶梯片的光学密度示值相差在土0.05以内，则透射光学密度计已正确校准。 5.2.2若有任何--个阶梯上的光学密度测量值与已校准光学密度阶梯片的光学密度示值相差超出土0.05，则透射光学密度计的线性超出了允差，宜停止使用。 5.2.3如果发现透射光学密度计准确度下降或经过了修理或更换了关键部件，使用前应经过重新校准。 5.2.4透射光学密度计使用期间，至少每90天宜按5.1推荐的方法进行全量程线性校准。
注：全量程线性校准的量程范围和校准周期，由用户的无损检测工艺规程或质量体系文件具体规定 5.3记录及相关文档 5.3.1使用一个适当的日志来记录透射光学密度计的校准结果。此日志应可追溯到所使用的透射光学密度计（包括编号），还应标明进行校准的日期和校准操作者的工号或姓名、已校准光学密度阶梯片的编号。日志的保存期宜由用户的无损检测工艺规程或质量体系文件具体规定。 5.3.2也可以使用其他形式的文档系统，用来提供校准是能满足5.3.1所要求的可追溯性的适当证据。 5.3.3可将标有校准日期和校准操作者工号或姓名的标签贴在透射光学密度计上，作为校准日志或文档上记录的对比证据。 5.3.4记录所用的符合附录B要求的已校准光学密度阶梯片的首次使用的日期。
6工业射线照相底片光学密度的测定
6.1准备 6.1.1按照使用说明书来操作透射光学密度计（见附录A)。 6.1.2应使用符合附录B要求的已校准光学密度阶梯片。 6.1.3在每次工作之始或连续工作8h后，宜按第5章所要求的程序，对透射光学密度计进行日常校准。 6.1.4若读数与已校准光学密度阶梯片或校准证书上的光学密度示值的差异在士0.05以内，则透射光学密度计可以继续使用。若差异不在允差范围内，则需要按第5章的规定进行重新校准。 6.1.5若校准所显示的差异超出土0.05，则自上次校准日期以来的全部已测定过的工业射线照相底片，宜在光学密度计经过重新校准后重新验证其光学密度。 6.2测定方法 6.2.1将透射光学密度计的光阑（测量头）对准被测工业射线照相底片上的感兴趣区域（即观察区域或评定区域）内的任何部位，测定出区域内的光学密度值。 6.2.2分别选择区域内可能是最小和最大光学密度的部位进行测定。 6.2.3所有的测定值都应符合应用标准的要求。 6.3记录
工业射线照相底片光学密度的测定值，宜按无损检测工艺规程的要求进行记录。 注：例如，可记录最小和最大测定值，允许误差为士0.1。
2 JB/T13156—2017
附录 A (规范性附录) 透射光学密度计
透射光学密度计制造商应对每台透射光学密度计产品，按照相应的产品标准进行出厂检验。出厂检验应在质量体系的界定和保证下进行。质量体系宜符合GB/T19001（ISO9001）的要求。
透射光学密度计制造商应提供如下随行文件： a）装箱单。 b）合格证，包括声明符合的产品标准编号。 c）使用说明书。 d）技术参数表，内容至少包括：
1）外形尺寸； 2）光阑尺寸； 3）适用的工作环境条件； 4）有效测量的光学密度范围； 5）最小分辨力。
3 JB/T13156—2017
附录B （规范性附录）
已校准光学密度阶梯片
本标准适用的已校准光学密度阶梯片，应采用工业X射线照相胶片制作，且已校准。 已校准光学密度阶梯片可以是中国计量科学研究院（NIM）提供的X射线光学密度阶梯片（型号：
DX-13），也可以是可追溯到NIM的其他供应商提供的已校准光学密度阶梯片。
已校准光学密度阶梯片应至少有5个阶梯的光学密度，且涵盖了所要测定的工业射线照相底片的光学密度范围。
已校准光学密度阶梯片的供应商应出具一份校准证书，作为已校准光学密度阶梯片的随行文件。校准证书的内容应至少包括：
a）唯一编号：已校准光学密度阶梯片上所标记的唯一编号（或产品序列号）； b）潮源性：用于对比的NIM光学密度阶梯片的编号及其证书； c）校准过程：包括所用装置和作业指导书（或校准规程）的编号和状态； d）校准结果：每个阶梯的光学密度记录值（精确到0.01)； e）不确定度的说明； f）符合的标准； g）校准日期； h）校准人员签名； i）批准人员签名或供应商盖章； j）有效期的说明； k）供应商的名称和联系方式。 已校准光学密度阶梯片的校准应在质量体系的界定和保证下进行。质量体系宜符合GB/T19001
（ISO9001）的要求。
已校准光学密度阶梯片的用户宜采取防护措施，来贮存、手持和使用已校准光学密度阶梯片。若已校准光学密度阶梯片出现划痕、站污或呈现出其他不良的老化迹象，宜立即更换。
已校准光学密度阶梯片的有效期，由用户的质量体系文件具体规定。若未规定有效期，或规定的有效期超过两年，建议每隔两年至少按本附录的要求校准一次。
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