ICS 19.100 CCS J 04
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
代替GB/T26642—2011
无损检测 基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测金属材料X射线和伽玛射线检测总则 Non-destructive testing-Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates--General principles for testing of metallic
-
materials using X-rays and gamma rays
(ISO 16371-2:2017, Non-destructive testing—Industrial computed radiography
with storage phosphor imaging platesPart 2: General principles for testing of metallic materials using X-rays and gamma rays,IDT)
2022-10-01实施
2022-03-09发布
国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
发布 GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
目 次
前言 1 范围 2
规范性引用文件 3 术语和定义 4 符号和缩略语 5 人员资格 6
计算机射线照相技术的分类与补偿原则 7 通则 8 推荐的计算机射线照相技术 9 检测报告. 附录A（规范性） 基本空间分辨率SR,detetor的确定附录B（规范性） 由信噪比测定值SNRmasured确定归一化信噪比SNRv 附录C（规范性） 最小灰度值的确定参考文献
17
19 23 24
27 GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
前言
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
本文件代替GB/T26642—2011《无损检测 金属材料计算机射线照相检测方法》，与 GB/T26642--2011相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：
a）更改了范围（见第1章，2011年版的第1章）； b) 更改和增加了部分术语和定义（见第3章，2011年版的第4章）； c) 增加了符号和缩略语（见第4章）； d) 更改了人员资格（见第5章，2011年版的第4章）； e) 增加了计算机射线照相技术的补偿原则（见第6章）； f) 更改了像质计的使用要求（见7.6，2011年版的6.6）； g) 更改了透照方式的要求（见8.1，2011年版的7.1)； h) 更改了X射线管电压和射线源的选择要求（见8.2，2011年版的7.2）； i) 更改了CR系统与金属屏的要求（见8.3，2011年版的7.3）； j) 更改了CR系统最大不清晰度和基本空间分辨率选择的要求（见8.4，2011年版的7.4)； k) 更改了射线源-工件距离的要求（见8.7，2011年版的7.7）； 1) 删除了计算机射线照相的最小读出强度的要求（见2011年版的7.9)；
删除了观察条件和显示器的要求（见2011年版的7.11)；
m)
n) 增加了数据处理的要求（见8.10)；
更改了检测报告的要求（见第9章，2011年版的第8章）；
o）
p) 增加了规范性附录A“基本空间分辨率的确定”（见附录A)； q）增加了规范性附录B"归一化信噪比的测定”（见附录B)； r）增加了规范性附录C"最小灰度值的确定”（见附录C)。 本文件等同采用ISO16371-2：2017《无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测第2部分：金属材料X射线和伽玛射线检测总则》。 本文件做了下列最小限度的编辑性改动：
为与现有标准协调，将标准名称改为《无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测金属材料X射线和伽玛射线检测总则》。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国无损检测标准化技术委员会（SAC/TC56)提出并归口。 本文件起草单位：上海材料研究所、湖北三江航天江北机械工程有限公司、国核电站运行服务技术
有限公司、核工业工程研究设计有限公司、河南四达检测技术有限公司、浙江省缙云像质计厂。
本文件主要起草人：蒋建生、王晓勇、王聪、严宇、杨东、柳章龙、黄隐、丁杰、马君、宋飞、杨会敏、 胡接瑜、陈瑞斌、何坤洪。
本文件于2011年首次发布，本次为第一次修订。
I GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
无损检测基于存储磷光
成像板的工业计算机射线照相检测金属材料X射线和伽玛射线检测总则
1范围
本文件规定了计算机射线照相的基本技术，以期可经济、重复地获得符合要求的结果。该技术以检测基本理论和试验测量为基础。本文件规定了使用存储磷光成像板（IP)的工业计算机X和伽玛射线检测的一般规则。本文件以按ISO5579确定的基于胶片的金属材料射线照相检测基本原理为基础。 辐射源、探测器及其相应几何位置的基本设置符合ISO5579和相关产品标准，如焊缝标准ISO17636 及铸造标准EN12681的要求。
本文件不规定缺欠的验收条款。计算机射线照相（CR）系统提供了仅能在计算机上查看和评价的数字灰度图像。本文件确立了选择探测器和射线照相检测的推荐原则。计算机、软件、显示器、打印机和观察条件等重要要素，不是本文件的主要内容。
本文件规定了计算机射线照相和数字图像的最低要求，以获得与ISO5579确定的基于胶片的射线照相检测同等缺欠的检测灵敏度。某些应用标准如EN16407，则提供了可能要求不同或不太严格的检测条件。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T21355一2022无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测系统分类 (ISO16371-1:2011,IDT)
ISO5579无损检测金属材料X和伽马射线照相检测基本规则（Non-destructivetesting Radiographic testing of metallic materials using film and X-orgamma rays—Basic rules)
注：GB/T19943-2005无损检测金属材料X和伽马射线照相检测基本规则(ISO5579：1998，IDT)。 ISO5580无损检测工业射线照相观片灯最低要求（Non-destructivetesting—Industrialradio
graphic illuminators-Minimum requirements)
注：GB/T19802—2005无损检测工业射线照相观片灯最低要求（ISO5580：1985，IDT)。 ISO9712无损检测人员资格鉴定和认证（Non-destructivetesting—Qualificationandcertifica
tion of NDT personnel)
注：GB/T9445—2015无损检测人员资格鉴定与认证(ISO9712:2012，IDT)。 ISO16371-1无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测第1部分：系统分类
(Non-destructive testing—Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates- Part 1: Classification of systems)
ISO19232-1无损检测射线照相检测图像质量第1部分：丝型像质计像质值的测定（Non-de structive testing--Image quality of radiographs-Part l: Determination of the image quality value u- sing wire-type image quality indicators)
1 GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
注：GB/T23901.1一2019无损检测射线照相检测图像质量第1部分：丝型像质计像质值的测定（ISO19232
1:2013,IDT)。 ISO19232-2无损检测射线照相检测图像质量第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定
(Non-destructive testing—Image quality of radiographs—Part 2:Determination of the image quality value using step/hole-type image quality indicators)
注：GB/T23901.2一2019无损检测射线照相检测图像质量第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定
(ISO19232-2:2013,IDT)。 ISO19232-3无损检测射线照相检测图像质量第3部分：像质分类（Non-destructive
testing—Imagequality of radiographs—Part 3:Image quality classes)
注：GB/T23901.3—2019无损检测射线照相检测图像质量第3部分：像质分类（ISO19232-3：2013，IDT)。 ISO19232-5无损检测射线照相检测图像质量第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定
(Non-destructive testing--Image quality of radiographs—Part 5:Determination of the image unsharp- ness and basic spatial resolution value using duplex wire-type image quality indicators)
注：GB/T23901.5--2019无损检测射线照相检测图像质量第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定
(ISO19232-5:2018,IDT)。 EN12543（所有部分）无损检测工业X射线系统焦点特性（Non-destructivetesting一Charac
teristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing)
EN12679无损检测射线照相方法工业射线伽玛源尺寸的测定（Non-destructivetesting Radiographic testingDetermination of the size of industrial radiographic gamma sources)
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。 ISO和IEC维护的标准化工作中使用的术语数据库网址如下：
-ISO在线浏览平台：https：//www.iso.org/obp； —IEC电工百科：http：//www.electropedia.org/。
3.1
计算机射线照相系统 computedradiographysystem CR系统CRsystem 由存储磷光成像板（IP)和相应的信息读出单元（扫描仪或读取器）及系统软件等组成，将IP上的信
息转换为数字图像的完整系统。 3.2
存储磷光成像板storagephosphorimagingplate 成像板imagingplate;IP 一种可吸收并存储被检测物体射线透照信息形成潜在图像，同时当受到适当波长的红光激励时，会
释放出与所吸收存储射线能量成比例的光致发光的磷光材料。
注：在进行计算机射线照相检测（3.1)时，采用IP代替胶片。当建立与源尺寸或几何焦距相关技术时，IP作为探测
器，焦距为射线源-探测器距离（SDD)。
3.3
成像板结构噪声structurenoiseofimagingplate IP结构噪声structurenoiseofIP 由于存储磷光成像板(3.2)的感光层（粒度)和表面涂层的不均匀结构形成的固有图像噪声。 注1：在扫描曝光后的成像板时，不均匀性显示作为固有图像噪声出现在数字图像中。 注2：该噪声限制了CR数字图像可达到的最高图像质量，类似于胶片图像的颗粒度。 2 GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
3.4
灰度值greyvalue GV 数字图像中像素数字化的数值。 注：与ASTME2033、E2445、E2446和E2007规定的术语"像素灰度值”等同。
3.5
线性灰度值linearizedgreyvalue GVin 与探测器曝光剂量（如果探测器未曝光，则曝光剂量数值为零）成正比的像素灰度值。 注：与ASTME2033、E2445、E2446和E2007规定的术语“线性像素灰度值”等同。
3.6
CR系统基本空间分辨率 basicspatialresolutionofCRsystem SR, detector 数字探测器在数字图像中所测定的不清晰度值的一半，且对应于图像中的有效像素尺寸，表示CR
系统在几何放大倍数为1时数字图像中可显示分辨的最小几何细节。
注1：测量时，双丝型像质计IQI直接放置在CR成像板上。 注2：按ISO19232-5测定不清晰度；也见ASTME2002的规定。
3.7
数字图像空间分辨率basicspatialresolutionofadigitalimage SR, imge 检测获得数字图像中所测定图像的不清晰度值的一半，且对应于图像中的有效像素尺寸，表示数字
图像中可显示分辨的最小几何细节。
注1：测量时，双丝像质计IQI直接放置在被测工件的源侧表面上。 注2：按ISO19232-5测定不清晰度；也见ASTME2002的规定。 注3：图像的有效像素尺寸（数字图像的基本空间分辨率)与像素间隔、几何不清晰度、探测器不清晰度和几何放大
倍数相关。
3.8
信噪比signal-to-noiseratio SNR 数字图像指定区域内，线性灰度值（3.5)的平均值与线性灰度值的标准差（噪声)的比值。 注：信噪比(SNR)取决于射线照相剂量和CR系统特性。
3.9
归一化信噪比 normalized signal-to-noise ratio SNR 从数字图像中直接测量和/或由测量的信噪比SNRmuurd按公式（1)经归一化计算得到，即由基本
空间分辨率SR，（SR，可以是SR，deteetor或SR，image）归一化的信噪比（3.8）。
88.6 μm SR,
SNRn = SNRmeasured :
.(1)
3.10
对比度噪声比contrast-to-noiseratio CNR 数字图像两个区域之间平均信号的差值与信号水平的平均标准偏差的比值。 注：对比度噪声比是描述图像质量的要素之一，取决于检测产品的射线衰减系数和信噪比。要获得高质量的数字
图像，除具有一定的对比度噪声比外，还具有足够的不清晰度或基本空间分辨率。
3 GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
3.11
归一化对比度噪声比 normalizedcontrast-to-noiseratio CNRN 从数字图像中直接测量和/或由测量的对比度噪声比CNR(3.10)按公式（2)经归一化计算得到，即
由基本空间分辨率SR，归一化的对比度噪声比。
88.6μm
CNRy=CNR.
.(2)
SR,
3.12
混叠 aliasing 当输人信号的空间频率高于输出信号的空间频率时，在数字图像上显示的附加图样。 注：混叠常呈现为锯齿状或阶梯状的线或波纹图案。
3.13
公称厚度 nominal thickness t 检测区域内的材料名义厚度。 注：不考虑制造偏差。
3.14
透照厚度 penetrated thickness w 按材料公称厚度（3.13）确定的射线透照方向上的材料厚度。 注：对于多壁厚检测技术，透照厚度由所有穿透壁厚的公称厚度计算。
3.15
源尺寸 source size d 射线源尺寸或射线管焦点尺寸。 注：见EN12543(X射线源）或EN12679（伽玛射线源）。如果符合这些标准，使用制造商的测试值。
3.16
工件-探测器距离 object-to-detector distance b 沿射线束中心线测出的射线源侧被检工件表面至探测器表面的最大距离。
3.17
射线源-探测器距离 source-to-detector distance SDD 沿射线束中心线测出的射线源（或焦点）至探测器表面的距离。 注：
·(3 )
SDD =f+b
式中： f——射线源-工件距离(3.18)； 6—工件-探测器距离(3.16)。
3.18
射线源-工件距离 source-to-object distance f 沿射线束中心线测出的射线源（或焦点）至射线源侧被检工件表面的距离。
4 GB/T26642—2022/IS016371-2:2017
3.19
几何放大倍数 geometricmagnification U 射线源-探测器距离（3.17)与射线源-工件距离（3.18）的比值。
符号和缩略语
4
下列符号和缩略语适用于本文件，符号和缩略语见表1。
表1 符号和缩略语
符号 6 CNR CNRN CR d D f GV GVin IP IQI s SDD SNR SNRN SR, SR decor SR, inge N Uo U, Ut Urm > w
缩略语工件-探测器距离对比度噪声比归一化对比度噪声比计算机射线照相技术
源尺寸探测器(成像板)
射线源至被检工件表面的垂直距离
灰度值线性灰度值存储磷光成像板
像质计射线源
射线源-探测器距离
信噪比归一化信噪比
基本空间分辨率。根据使用环境可是系统基本空间分辨率或数字图像空间分辨率
CR系统基本空间分辨率数字图像空间分辨率
公称厚度几何不清晰度
探测器系统固有不清晰度。在双丝型像质计直接放置于探测器表面获得的数字图像上测量
总不清晰度，包括几何不清晰度和固有不清晰度。在工件表面
带有双丝型像质计的探测器获得的数字图像上测量
图像不清晰度。在双丝型像质计直接放置于源侧工件表面获得的数字图像上测量
几何放大倍数透照厚度
5 ICS 19.100 CCS J 04
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
代替GB/T26642—2011
无损检测 基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测金属材料X射线和伽玛射线检测总则 Non-destructive testing-Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates--General principles for testing of metallic
-
materials using X-rays and gamma rays
(ISO 16371-2:2017, Non-destructive testing—Industrial computed radiography
with storage phosphor imaging platesPart 2: General principles for testing of metallic materials using X-rays and gamma rays,IDT)
2022-10-01实施
2022-03-09发布
国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
发布 GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
目 次
前言 1 范围 2
规范性引用文件 3 术语和定义 4 符号和缩略语 5 人员资格 6
计算机射线照相技术的分类与补偿原则 7 通则 8 推荐的计算机射线照相技术 9 检测报告. 附录A（规范性） 基本空间分辨率SR,detetor的确定附录B（规范性） 由信噪比测定值SNRmasured确定归一化信噪比SNRv 附录C（规范性） 最小灰度值的确定参考文献
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27 GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
前言
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
本文件代替GB/T26642—2011《无损检测 金属材料计算机射线照相检测方法》，与 GB/T26642--2011相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：
a）更改了范围（见第1章，2011年版的第1章）； b) 更改和增加了部分术语和定义（见第3章，2011年版的第4章）； c) 增加了符号和缩略语（见第4章）； d) 更改了人员资格（见第5章，2011年版的第4章）； e) 增加了计算机射线照相技术的补偿原则（见第6章）； f) 更改了像质计的使用要求（见7.6，2011年版的6.6）； g) 更改了透照方式的要求（见8.1，2011年版的7.1)； h) 更改了X射线管电压和射线源的选择要求（见8.2，2011年版的7.2）； i) 更改了CR系统与金属屏的要求（见8.3，2011年版的7.3）； j) 更改了CR系统最大不清晰度和基本空间分辨率选择的要求（见8.4，2011年版的7.4)； k) 更改了射线源-工件距离的要求（见8.7，2011年版的7.7）； 1) 删除了计算机射线照相的最小读出强度的要求（见2011年版的7.9)；
删除了观察条件和显示器的要求（见2011年版的7.11)；
m)
n) 增加了数据处理的要求（见8.10)；
更改了检测报告的要求（见第9章，2011年版的第8章）；
o）
p) 增加了规范性附录A“基本空间分辨率的确定”（见附录A)； q）增加了规范性附录B"归一化信噪比的测定”（见附录B)； r）增加了规范性附录C"最小灰度值的确定”（见附录C)。 本文件等同采用ISO16371-2：2017《无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测第2部分：金属材料X射线和伽玛射线检测总则》。 本文件做了下列最小限度的编辑性改动：
为与现有标准协调，将标准名称改为《无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测金属材料X射线和伽玛射线检测总则》。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国无损检测标准化技术委员会（SAC/TC56)提出并归口。 本文件起草单位：上海材料研究所、湖北三江航天江北机械工程有限公司、国核电站运行服务技术
有限公司、核工业工程研究设计有限公司、河南四达检测技术有限公司、浙江省缙云像质计厂。
本文件主要起草人：蒋建生、王晓勇、王聪、严宇、杨东、柳章龙、黄隐、丁杰、马君、宋飞、杨会敏、 胡接瑜、陈瑞斌、何坤洪。
本文件于2011年首次发布，本次为第一次修订。
I GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
无损检测基于存储磷光
成像板的工业计算机射线照相检测金属材料X射线和伽玛射线检测总则
1范围
本文件规定了计算机射线照相的基本技术，以期可经济、重复地获得符合要求的结果。该技术以检测基本理论和试验测量为基础。本文件规定了使用存储磷光成像板（IP)的工业计算机X和伽玛射线检测的一般规则。本文件以按ISO5579确定的基于胶片的金属材料射线照相检测基本原理为基础。 辐射源、探测器及其相应几何位置的基本设置符合ISO5579和相关产品标准，如焊缝标准ISO17636 及铸造标准EN12681的要求。
本文件不规定缺欠的验收条款。计算机射线照相（CR）系统提供了仅能在计算机上查看和评价的数字灰度图像。本文件确立了选择探测器和射线照相检测的推荐原则。计算机、软件、显示器、打印机和观察条件等重要要素，不是本文件的主要内容。
本文件规定了计算机射线照相和数字图像的最低要求，以获得与ISO5579确定的基于胶片的射线照相检测同等缺欠的检测灵敏度。某些应用标准如EN16407，则提供了可能要求不同或不太严格的检测条件。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T21355一2022无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测系统分类 (ISO16371-1:2011,IDT)
ISO5579无损检测金属材料X和伽马射线照相检测基本规则（Non-destructivetesting Radiographic testing of metallic materials using film and X-orgamma rays—Basic rules)
注：GB/T19943-2005无损检测金属材料X和伽马射线照相检测基本规则(ISO5579：1998，IDT)。 ISO5580无损检测工业射线照相观片灯最低要求（Non-destructivetesting—Industrialradio
graphic illuminators-Minimum requirements)
注：GB/T19802—2005无损检测工业射线照相观片灯最低要求（ISO5580：1985，IDT)。 ISO9712无损检测人员资格鉴定和认证（Non-destructivetesting—Qualificationandcertifica
tion of NDT personnel)
注：GB/T9445—2015无损检测人员资格鉴定与认证(ISO9712:2012，IDT)。 ISO16371-1无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测第1部分：系统分类
(Non-destructive testing—Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates- Part 1: Classification of systems)
ISO19232-1无损检测射线照相检测图像质量第1部分：丝型像质计像质值的测定（Non-de structive testing--Image quality of radiographs-Part l: Determination of the image quality value u- sing wire-type image quality indicators)
1 GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
注：GB/T23901.1一2019无损检测射线照相检测图像质量第1部分：丝型像质计像质值的测定（ISO19232
1:2013,IDT)。 ISO19232-2无损检测射线照相检测图像质量第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定
(Non-destructive testing—Image quality of radiographs—Part 2:Determination of the image quality value using step/hole-type image quality indicators)
注：GB/T23901.2一2019无损检测射线照相检测图像质量第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定
(ISO19232-2:2013,IDT)。 ISO19232-3无损检测射线照相检测图像质量第3部分：像质分类（Non-destructive
testing—Imagequality of radiographs—Part 3:Image quality classes)
注：GB/T23901.3—2019无损检测射线照相检测图像质量第3部分：像质分类（ISO19232-3：2013，IDT)。 ISO19232-5无损检测射线照相检测图像质量第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定
(Non-destructive testing--Image quality of radiographs—Part 5:Determination of the image unsharp- ness and basic spatial resolution value using duplex wire-type image quality indicators)
注：GB/T23901.5--2019无损检测射线照相检测图像质量第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定
(ISO19232-5:2018,IDT)。 EN12543（所有部分）无损检测工业X射线系统焦点特性（Non-destructivetesting一Charac
teristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing)
EN12679无损检测射线照相方法工业射线伽玛源尺寸的测定（Non-destructivetesting Radiographic testingDetermination of the size of industrial radiographic gamma sources)
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。 ISO和IEC维护的标准化工作中使用的术语数据库网址如下：
-ISO在线浏览平台：https：//www.iso.org/obp； —IEC电工百科：http：//www.electropedia.org/。
3.1
计算机射线照相系统 computedradiographysystem CR系统CRsystem 由存储磷光成像板（IP)和相应的信息读出单元（扫描仪或读取器）及系统软件等组成，将IP上的信
息转换为数字图像的完整系统。 3.2
存储磷光成像板storagephosphorimagingplate 成像板imagingplate;IP 一种可吸收并存储被检测物体射线透照信息形成潜在图像，同时当受到适当波长的红光激励时，会
释放出与所吸收存储射线能量成比例的光致发光的磷光材料。
注：在进行计算机射线照相检测（3.1)时，采用IP代替胶片。当建立与源尺寸或几何焦距相关技术时，IP作为探测
器，焦距为射线源-探测器距离（SDD)。
3.3
成像板结构噪声structurenoiseofimagingplate IP结构噪声structurenoiseofIP 由于存储磷光成像板(3.2)的感光层（粒度)和表面涂层的不均匀结构形成的固有图像噪声。 注1：在扫描曝光后的成像板时，不均匀性显示作为固有图像噪声出现在数字图像中。 注2：该噪声限制了CR数字图像可达到的最高图像质量，类似于胶片图像的颗粒度。 2 GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
3.4
灰度值greyvalue GV 数字图像中像素数字化的数值。 注：与ASTME2033、E2445、E2446和E2007规定的术语"像素灰度值”等同。
3.5
线性灰度值linearizedgreyvalue GVin 与探测器曝光剂量（如果探测器未曝光，则曝光剂量数值为零）成正比的像素灰度值。 注：与ASTME2033、E2445、E2446和E2007规定的术语“线性像素灰度值”等同。
3.6
CR系统基本空间分辨率 basicspatialresolutionofCRsystem SR, detector 数字探测器在数字图像中所测定的不清晰度值的一半，且对应于图像中的有效像素尺寸，表示CR
系统在几何放大倍数为1时数字图像中可显示分辨的最小几何细节。
注1：测量时，双丝型像质计IQI直接放置在CR成像板上。 注2：按ISO19232-5测定不清晰度；也见ASTME2002的规定。
3.7
数字图像空间分辨率basicspatialresolutionofadigitalimage SR, imge 检测获得数字图像中所测定图像的不清晰度值的一半，且对应于图像中的有效像素尺寸，表示数字
图像中可显示分辨的最小几何细节。
注1：测量时，双丝像质计IQI直接放置在被测工件的源侧表面上。 注2：按ISO19232-5测定不清晰度；也见ASTME2002的规定。 注3：图像的有效像素尺寸（数字图像的基本空间分辨率)与像素间隔、几何不清晰度、探测器不清晰度和几何放大
倍数相关。
3.8
信噪比signal-to-noiseratio SNR 数字图像指定区域内，线性灰度值（3.5)的平均值与线性灰度值的标准差（噪声)的比值。 注：信噪比(SNR)取决于射线照相剂量和CR系统特性。
3.9
归一化信噪比 normalized signal-to-noise ratio SNR 从数字图像中直接测量和/或由测量的信噪比SNRmuurd按公式（1)经归一化计算得到，即由基本
空间分辨率SR，（SR，可以是SR，deteetor或SR，image）归一化的信噪比（3.8）。
88.6 μm SR,
SNRn = SNRmeasured :
.(1)
3.10
对比度噪声比contrast-to-noiseratio CNR 数字图像两个区域之间平均信号的差值与信号水平的平均标准偏差的比值。 注：对比度噪声比是描述图像质量的要素之一，取决于检测产品的射线衰减系数和信噪比。要获得高质量的数字
图像，除具有一定的对比度噪声比外，还具有足够的不清晰度或基本空间分辨率。
3 GB/T26642—2022/ISO16371-2:2017
3.11
归一化对比度噪声比 normalizedcontrast-to-noiseratio CNRN 从数字图像中直接测量和/或由测量的对比度噪声比CNR(3.10)按公式（2)经归一化计算得到，即
由基本空间分辨率SR，归一化的对比度噪声比。
88.6μm
CNRy=CNR.
.(2)
SR,
3.12
混叠 aliasing 当输人信号的空间频率高于输出信号的空间频率时，在数字图像上显示的附加图样。 注：混叠常呈现为锯齿状或阶梯状的线或波纹图案。
3.13
公称厚度 nominal thickness t 检测区域内的材料名义厚度。 注：不考虑制造偏差。
3.14
透照厚度 penetrated thickness w 按材料公称厚度（3.13）确定的射线透照方向上的材料厚度。 注：对于多壁厚检测技术，透照厚度由所有穿透壁厚的公称厚度计算。
3.15
源尺寸 source size d 射线源尺寸或射线管焦点尺寸。 注：见EN12543(X射线源）或EN12679（伽玛射线源）。如果符合这些标准，使用制造商的测试值。
3.16
工件-探测器距离 object-to-detector distance b 沿射线束中心线测出的射线源侧被检工件表面至探测器表面的最大距离。
3.17
射线源-探测器距离 source-to-detector distance SDD 沿射线束中心线测出的射线源（或焦点）至探测器表面的距离。 注：
·(3 )
SDD =f+b
式中： f——射线源-工件距离(3.18)； 6—工件-探测器距离(3.16)。
3.18
射线源-工件距离 source-to-object distance f 沿射线束中心线测出的射线源（或焦点）至射线源侧被检工件表面的距离。
4 GB/T26642—2022/IS016371-2:2017
3.19
几何放大倍数 geometricmagnification U 射线源-探测器距离（3.17)与射线源-工件距离（3.18）的比值。
符号和缩略语
4
下列符号和缩略语适用于本文件，符号和缩略语见表1。
表1 符号和缩略语
符号 6 CNR CNRN CR d D f GV GVin IP IQI s SDD SNR SNRN SR, SR decor SR, inge N Uo U, Ut Urm > w
缩略语工件-探测器距离对比度噪声比归一化对比度噪声比计算机射线照相技术
源尺寸探测器(成像板)
射线源至被检工件表面的垂直距离
灰度值线性灰度值存储磷光成像板
像质计射线源
射线源-探测器距离
信噪比归一化信噪比
基本空间分辨率。根据使用环境可是系统基本空间分辨率或数字图像空间分辨率
CR系统基本空间分辨率数字图像空间分辨率
公称厚度几何不清晰度
探测器系统固有不清晰度。在双丝型像质计直接放置于探测器表面获得的数字图像上测量
总不清晰度，包括几何不清晰度和固有不清晰度。在工件表面
带有双丝型像质计的探测器获得的数字图像上测量
图像不清晰度。在双丝型像质计直接放置于源侧工件表面获得的数字图像上测量
几何放大倍数透照厚度
5