ICS 19.100 CCS J 04
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T21355—2022/ISO16371-1:2011
代替GB/T21355—2008
无损检测 基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测 系统分类 Non-destructive testingIndustrial computed radiography with storage
phosphorimagingplates--Classificationofsystems
(IS0 16371-1:2011,Non-destructive testing—Industrial computed radiography with storagephosphorimagingplates-Part 1:Classification of systems,IDT)
2022-10-01实施
2022-03-09发布
国家市场监督管理总局 发布
国家标准化管理委员会 GB/T21355—2022/ISO16371-1:2011
目 次
前言
IⅢ
1 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义 4 人员资格 5 CR质量指示器
.
图像质量参数的定量测量方法
6
CR系统分类及结果解释
7
11 14 1 20
附录A（资料性）Ix测量示例附录B（资料性） CR模块示例附录C（资料性） 各种测试和测试方法的应用指南
- GB/T21355—2022/ISO16371-1:2011
前 言
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
本文件代替GB/T21355--2008《无损检测计算机射线照系统的分类》。与GB/T21355—2008相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：
a）更改了范围（见第1章，2008年版的第1章）； b）增加了部分术语和定义（见第3章)； c) 增加了人员资格（见第4章）； d）删除了“意见和用途”和“器械”（见2008年版的第4章和第5章）； e) 增加了“CR质量指示器”（见第5章）； f) 更改了对比度灵敏度测量、MTF法和收敛型线对像质计法测量不清晰度和具体的其他测试方
法（见第6章，2008年版的第6章）； g）增加系统基本空间分辨率测量和ISO感光度与系统分类关系（见第7章）； h）增加了资料性附录“CR模块示例”（见附录B)。 本文件等同采用ISO16371-1：2011《无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测第1部分：系统分类》。 本文件做了下列最小限度的编辑性改动：为与现有标准协调，将标准名称改为《无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相
检测系统分类》。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。 本文件起草单位：上海材料研究所、中国航发上海商用航空发动机制造有限责任公司、江苏省特种
设备安全监督检验研究院、中广核检测技术有限公司、南昌航空大学、锐珂亚太投资管理（上海)有限公司、沈阳铸造研究所有限公司。
本文件主要起草人：蒋建生、宋艳艳、郑凯、黄冬琴、黄隐、丁杰、韩丽娜、陈衡、敖波、秦丹、李兴捷、 李泽、孙林辉、王军。
本文件于2008年首次发布，本次为第一次修订。
E GB/T21355—2022/ISO16371-1:2011
无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测系统分类
1范围
本文件规定了计算机射线照相系统的基本性能参数，以期可经济、重复的获得符合要求的测试结果。该技术以检测基本理论和试验测量为基础。本文件规定了计算机射线照相(CR)系统的性能以及系统扫描仪和存储磷光成像板(IP)的相应性能参数测量。本文件确立了计算机射线照相系统与工业射线照相专用金属屏的分类，以确保图像的质量（图像质量受扫描仪-IP系统的影响)符合ISO16371-2的要求。本文件与ISO11699-1规定的胶片射线照相技术的要求相关。
本文件界定了不同等级系统的测试方法，规定了较复杂的精确确定系统性能参数的测量试验。本文件适用于对不同供应商的系统进行分类，使用户获得设备横向可比的数据。这些测试被指定为制造商测试，其中一些测试需要特殊的器具，这些器具在用户实验室通常不能获得。因此，本文件还规定了相对简单的用户测试，用于快速测试CR系统的质量和长期稳定性。
影响CR图像质量的因素包括几何不清晰度、信噪比（SNR）、散射比和对比度灵敏度。其他因素（例如扫描参数）影响激光扫描仪精确读取已曝光IP上的图像。
本文件描述了最精准地确定系统质量要素的制造商测试方法。为确保使用质量，本文件描述了对实际用户推荐使用的个别测试方法。这些测试方可单独进行，也可使用CR模块测试（见附录B）。CR 模块包含许多基本的质量评估方法和正确的CR系统功能验证，包括扫描仪读取已曝光IP信息和正确擦除IP残留信息供后续使用。
本文件确立的CR系统分类不涉及任何指定制造商的成像板。CR系统分类由使用的特定成像板和曝光条件（明确的全部曝光条件）、扫描仪类型和扫描参数综合确定。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
ISO11699-1无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线照相胶片系统的分类（Non-de- structive testing-Industrial radiographic film--Part l: Classification of film systems for industrial ra- diography)
注：GB/T19348.12014无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线照相胶片系统的分类（ISO11669-
1:2008,MOD) ISO19232-5无损检测射线照相检测图像质量第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定
(Non-destructive testing-Image quality of radiographs—Part 5: Determination of the image unsharp- ness and basic spatial resolution value using duplex wire-type image quality indicators)
注：GB/T23901.5—2019无损检测射线照相检测图像质量第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定
(ISO 19232-5;2018,IDT)
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
1 GB/T21355—2022/ISO16371-1:2011
3.1
计算机射线照相系统 computedradiographysystem CR系统CRsystem 由存储磷光成像板（IP)和相应的信息读出单元（扫描仪或读取器）及系统软件等组成，且将IP上的
信息转换为数字图像的完整系统。 3.2
计算机射线照相系统分类 computedradiographysystemclass 按信噪比(SNR)范围（见表1)和指定曝光条件下的某个基本空间分辨率值（如双丝像质计测定）确
定的存储磷光成像板系统的分类特征。 3.3
ISO感光度 ISOspeed S iso 为获得CR系统指定最小信噪比（SNR），通过计算图像灰度值确定剂量值的倒数获得数值的CR
系统的感光度。 3.4
信噪比signal-to-noiseratio;SNR 数字图像指定区域内，线性灰度值（强度）的平均值与线性灰度值（强度）的标准差（噪声）的比值。 注：信噪比（SNR)取决于射线照相剂量和CR系统特性。
3.5
调制传递函数modulationtransferfunction；MTF 垂直于锐利边缘测量，线性化PSL（光激发光）强度的微分边缘扩展函数（ESF）的傅立叶变换（FT）
的归一化幅度。
注：MTF将对比度传输描述为对象大小的函数。MTF表征了基于扫描系统和IP类型的CR系统不清晰度。
3.6
CR模块 快CRphantom 包含系列测试目标用于评估CR系统制造质量和监测选用系统工作质量的质量模块。
3.7
激光束抖动laserbeamjitter 导致平面激光束扫描装置图像采集产生一系列阶梯条纹的不平稳运动。
3.8
扫描滑移 scanner slippage 在扫描传输系统中，导致图像采集产生水平波动条纹的IP步进滑移。
3.9
混叠aliasing 以较低空间频率在数字图像上显示的附加图样，超过奈奎斯特频率（按像素间隔确定)的高空间频
率预采样信号。 3.10
增益gain 放大amplification 扫描系统的光电增益设置。
3.11
线性化信号强度linearisedsignalintensity 与辐射剂量成正比，数字图像单个像元（像素）的信号幅值。
2 GB/T21355—2022/ISO16371-1:2011
注：当辐射剂量为零时，线性化的信号强度为零。 3.12
基本空间分辨率basicspatialresolution 数值上等于采用双丝型像质计测量的不清晰度读出值的1/2，且对应于CR系统的有效像素尺寸，
表示CR系统在放大倍数为1时数字图像中可显示分辨的最小几何细节（见ISO19232-5）。
4人员资格
实施工业计算机射线照相检测的人员具有相应资格和能力。宜按ISO9712或等同文件对检测人员进行资格鉴定与认证。
5CR质量指示器
5.1制造商和用户测试的CR质量指示器 5.1.1通则
以下器具均是CR质量指示器，并参考本文件进行测试。 5.1.2对比度灵敏度质量指示器
所选的对比度灵敏度质量指示器符合ASTME1647-98a的规定（见B.4）。 5.1.3双丝型像质计
双丝型像质计符合ISO19232-5的规定。双丝型像质计放置应与扫描步进方向（快扫描方向）或垂直扫描步进方向（慢扫描方向）呈5°夹角。 5.1.4收敛型线对像质计
像质计由5条收敛型的铅条（厚度为0.03mm）组成，通过目视读取识别线对的极限值确定空间分辨率。空间分辨率范围应涵盖1.5lp/mm～20lp/mm。测试时应同时使用两个像质计，分别放置在扫描步进方向和垂直扫描步进方向上。 5.1.5丝型像质计
高吸收材料的丝型像质计应放置在扫描周长范围内。测试时应同时使用两个像质计，分别放置在扫描步进方向和垂直扫描步进方向上。应以毫米（mm）为单位定标。 5.1.6T靶
该CR质量指示器由薄的具有锋利边缘的黄铜或铜（厚度小于或等于0.5mm)制成。T靶由5mm 宽的条形片分段制作而成。尺寸宜至少为50mm×70mm。测试时T靶应与扫描步进方向和垂直扫描步进方向分别对齐（见图B.1）。 5.1.7扫描滑移质量指示器
扫描滑移质量指示器由厚度为0.5mm的均质铝条组成，其形状为矩形（见图B.1)。测试时扫描滑移质量指示器应与扫描步进方向和垂直扫描步进方向分别对齐。
3 GB/T21355—2022/ISO16371-1:2011
5.1.8底纹质量指示器
可使用不同类型的底纹质量指示器。 一种类型是在成像板(IP)上放置一块薄铝板（厚度为0.5mm～1.0mm)并进行均匀透照。透照应
采用低能量射线（50keV～100keV）。
另一种类型是CR模块（见附录B)。 5.1.9中心束准直质量指示器（BAM-铅箔蜗形盘）
中心束准直质量指示器由一卷厚度在1.5mm2.0mm范围内的薄铅箔组成，层间用厚度在 0.1mm～0.2mm范围内的低吸收材料隔开（见B.3）。也可使用蜂窝材料。 5.2CR质量指示器应用 5.2.1通则
CR质量指示器用于对CR系统的质量进行快速评价和定期质量控制。各种试验和试验方法的应用指南，见附录C。 5.2.2CR质量指示器的曝光（用户测试）
CR质量指示器宜按附录B中描述的特殊布置放置CR模块。在CR模块中CR质量指示器能单独或全部一起使用。所选的一组CR质量指示器或CR模块被放置在含有成像板的暗盒上。射线源距 CR模块1m，射线束中心与成像板中心对齐。射线能量超过100keV时，应在CR质量指示器或CR模块与IP之间放置0.1mm厚的铅增感屏，用于减少散射线。采用最佳的射线检测参数和CR系统功能进行曝光测试，获得合同各方认可的待评价的最终图像。
曝光时间和CR扫描单元参数的设置及成像板的类型决定图像质量。应记录IP的类型、辐射能量（keV，伽玛源类型）、剂量（如mAs）和质量要素（前置滤波片、射线管类型和射线管窗口）等内容，且获得合同各方同意。
注：长曝光时间和低增益扫描的设置获得高对比度分辨率和信噪比（SNR)。此外，大像素尺寸设置（不清晰度大）
比小像素尺寸设置（不清晰度小），获得更高的对比度灵敏度。
5.2.3CR质量指示器的初始评估（用户测试）
对于初始质量评估，检查CR模块或独立的质量指示器在显示器（或影印件)上的图像，与5.1.2～ 5.1.9和6.3.2、6.3.3、6.4.1～6.4.7中描述的特征比对。检测结果能为合同双方达成协议提供依据。 5.2.4定期控制（用户测试）
5.1.2～5.1.8(按5.1.9进行中心束准直)中的CR质量指示器或CR模块应在合同各方约定的任何时间间隔内进行射线照相并检查结果。对于定期控制，确保测试的质量值符合6.3.2、6.3.3和6.4.1～ 6.4.7中的规定。 5.3影像衰退
成像板中存储的图像强度会随着时间的推移而下降，这种效应被称为影像衰退。衰退特性的测量应按以下步骤进行
a）采用典型的曝光条件均匀曝光成像板。为便于分析，应记录以下参数：kV、SDD、前置滤波片、
板材质及其厚度。在最低增益和线性化条件下，曝光图像的强度应在CR读取器最大可读出强度的70%~90%之间；
4 ICS 19.100 CCS J 04
GB
中华人民共和国国家标准
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代替GB/T21355—2008
无损检测 基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测 系统分类 Non-destructive testingIndustrial computed radiography with storage
phosphorimagingplates--Classificationofsystems
(IS0 16371-1:2011,Non-destructive testing—Industrial computed radiography with storagephosphorimagingplates-Part 1:Classification of systems,IDT)
2022-10-01实施
2022-03-09发布
国家市场监督管理总局 发布
国家标准化管理委员会 GB/T21355—2022/ISO16371-1:2011
目 次
前言
IⅢ
1 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义 4 人员资格 5 CR质量指示器
.
图像质量参数的定量测量方法
6
CR系统分类及结果解释
7
11 14 1 20
附录A（资料性）Ix测量示例附录B（资料性） CR模块示例附录C（资料性） 各种测试和测试方法的应用指南
- GB/T21355—2022/ISO16371-1:2011
前 言
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
本文件代替GB/T21355--2008《无损检测计算机射线照系统的分类》。与GB/T21355—2008相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：
a）更改了范围（见第1章，2008年版的第1章）； b）增加了部分术语和定义（见第3章)； c) 增加了人员资格（见第4章）； d）删除了“意见和用途”和“器械”（见2008年版的第4章和第5章）； e) 增加了“CR质量指示器”（见第5章）； f) 更改了对比度灵敏度测量、MTF法和收敛型线对像质计法测量不清晰度和具体的其他测试方
法（见第6章，2008年版的第6章）； g）增加系统基本空间分辨率测量和ISO感光度与系统分类关系（见第7章）； h）增加了资料性附录“CR模块示例”（见附录B)。 本文件等同采用ISO16371-1：2011《无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测第1部分：系统分类》。 本文件做了下列最小限度的编辑性改动：为与现有标准协调，将标准名称改为《无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相
检测系统分类》。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。 本文件起草单位：上海材料研究所、中国航发上海商用航空发动机制造有限责任公司、江苏省特种
设备安全监督检验研究院、中广核检测技术有限公司、南昌航空大学、锐珂亚太投资管理（上海)有限公司、沈阳铸造研究所有限公司。
本文件主要起草人：蒋建生、宋艳艳、郑凯、黄冬琴、黄隐、丁杰、韩丽娜、陈衡、敖波、秦丹、李兴捷、 李泽、孙林辉、王军。
本文件于2008年首次发布，本次为第一次修订。
E GB/T21355—2022/ISO16371-1:2011
无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测系统分类
1范围
本文件规定了计算机射线照相系统的基本性能参数，以期可经济、重复的获得符合要求的测试结果。该技术以检测基本理论和试验测量为基础。本文件规定了计算机射线照相(CR)系统的性能以及系统扫描仪和存储磷光成像板(IP)的相应性能参数测量。本文件确立了计算机射线照相系统与工业射线照相专用金属屏的分类，以确保图像的质量（图像质量受扫描仪-IP系统的影响)符合ISO16371-2的要求。本文件与ISO11699-1规定的胶片射线照相技术的要求相关。
本文件界定了不同等级系统的测试方法，规定了较复杂的精确确定系统性能参数的测量试验。本文件适用于对不同供应商的系统进行分类，使用户获得设备横向可比的数据。这些测试被指定为制造商测试，其中一些测试需要特殊的器具，这些器具在用户实验室通常不能获得。因此，本文件还规定了相对简单的用户测试，用于快速测试CR系统的质量和长期稳定性。
影响CR图像质量的因素包括几何不清晰度、信噪比（SNR）、散射比和对比度灵敏度。其他因素（例如扫描参数）影响激光扫描仪精确读取已曝光IP上的图像。
本文件描述了最精准地确定系统质量要素的制造商测试方法。为确保使用质量，本文件描述了对实际用户推荐使用的个别测试方法。这些测试方可单独进行，也可使用CR模块测试（见附录B）。CR 模块包含许多基本的质量评估方法和正确的CR系统功能验证，包括扫描仪读取已曝光IP信息和正确擦除IP残留信息供后续使用。
本文件确立的CR系统分类不涉及任何指定制造商的成像板。CR系统分类由使用的特定成像板和曝光条件（明确的全部曝光条件）、扫描仪类型和扫描参数综合确定。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
ISO11699-1无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线照相胶片系统的分类（Non-de- structive testing-Industrial radiographic film--Part l: Classification of film systems for industrial ra- diography)
注：GB/T19348.12014无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线照相胶片系统的分类（ISO11669-
1:2008,MOD) ISO19232-5无损检测射线照相检测图像质量第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定
(Non-destructive testing-Image quality of radiographs—Part 5: Determination of the image unsharp- ness and basic spatial resolution value using duplex wire-type image quality indicators)
注：GB/T23901.5—2019无损检测射线照相检测图像质量第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定
(ISO 19232-5;2018,IDT)
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
1 GB/T21355—2022/ISO16371-1:2011
3.1
计算机射线照相系统 computedradiographysystem CR系统CRsystem 由存储磷光成像板（IP)和相应的信息读出单元（扫描仪或读取器）及系统软件等组成，且将IP上的
信息转换为数字图像的完整系统。 3.2
计算机射线照相系统分类 computedradiographysystemclass 按信噪比(SNR)范围（见表1)和指定曝光条件下的某个基本空间分辨率值（如双丝像质计测定）确
定的存储磷光成像板系统的分类特征。 3.3
ISO感光度 ISOspeed S iso 为获得CR系统指定最小信噪比（SNR），通过计算图像灰度值确定剂量值的倒数获得数值的CR
系统的感光度。 3.4
信噪比signal-to-noiseratio;SNR 数字图像指定区域内，线性灰度值（强度）的平均值与线性灰度值（强度）的标准差（噪声）的比值。 注：信噪比（SNR)取决于射线照相剂量和CR系统特性。
3.5
调制传递函数modulationtransferfunction；MTF 垂直于锐利边缘测量，线性化PSL（光激发光）强度的微分边缘扩展函数（ESF）的傅立叶变换（FT）
的归一化幅度。
注：MTF将对比度传输描述为对象大小的函数。MTF表征了基于扫描系统和IP类型的CR系统不清晰度。
3.6
CR模块 快CRphantom 包含系列测试目标用于评估CR系统制造质量和监测选用系统工作质量的质量模块。
3.7
激光束抖动laserbeamjitter 导致平面激光束扫描装置图像采集产生一系列阶梯条纹的不平稳运动。
3.8
扫描滑移 scanner slippage 在扫描传输系统中，导致图像采集产生水平波动条纹的IP步进滑移。
3.9
混叠aliasing 以较低空间频率在数字图像上显示的附加图样，超过奈奎斯特频率（按像素间隔确定)的高空间频
率预采样信号。 3.10
增益gain 放大amplification 扫描系统的光电增益设置。
3.11
线性化信号强度linearisedsignalintensity 与辐射剂量成正比，数字图像单个像元（像素）的信号幅值。
2 GB/T21355—2022/ISO16371-1:2011
注：当辐射剂量为零时，线性化的信号强度为零。 3.12
基本空间分辨率basicspatialresolution 数值上等于采用双丝型像质计测量的不清晰度读出值的1/2，且对应于CR系统的有效像素尺寸，
表示CR系统在放大倍数为1时数字图像中可显示分辨的最小几何细节（见ISO19232-5）。
4人员资格
实施工业计算机射线照相检测的人员具有相应资格和能力。宜按ISO9712或等同文件对检测人员进行资格鉴定与认证。
5CR质量指示器
5.1制造商和用户测试的CR质量指示器 5.1.1通则
以下器具均是CR质量指示器，并参考本文件进行测试。 5.1.2对比度灵敏度质量指示器
所选的对比度灵敏度质量指示器符合ASTME1647-98a的规定（见B.4）。 5.1.3双丝型像质计
双丝型像质计符合ISO19232-5的规定。双丝型像质计放置应与扫描步进方向（快扫描方向）或垂直扫描步进方向（慢扫描方向）呈5°夹角。 5.1.4收敛型线对像质计
像质计由5条收敛型的铅条（厚度为0.03mm）组成，通过目视读取识别线对的极限值确定空间分辨率。空间分辨率范围应涵盖1.5lp/mm～20lp/mm。测试时应同时使用两个像质计，分别放置在扫描步进方向和垂直扫描步进方向上。 5.1.5丝型像质计
高吸收材料的丝型像质计应放置在扫描周长范围内。测试时应同时使用两个像质计，分别放置在扫描步进方向和垂直扫描步进方向上。应以毫米（mm）为单位定标。 5.1.6T靶
该CR质量指示器由薄的具有锋利边缘的黄铜或铜（厚度小于或等于0.5mm)制成。T靶由5mm 宽的条形片分段制作而成。尺寸宜至少为50mm×70mm。测试时T靶应与扫描步进方向和垂直扫描步进方向分别对齐（见图B.1）。 5.1.7扫描滑移质量指示器
扫描滑移质量指示器由厚度为0.5mm的均质铝条组成，其形状为矩形（见图B.1)。测试时扫描滑移质量指示器应与扫描步进方向和垂直扫描步进方向分别对齐。
3 GB/T21355—2022/ISO16371-1:2011
5.1.8底纹质量指示器
可使用不同类型的底纹质量指示器。 一种类型是在成像板(IP)上放置一块薄铝板（厚度为0.5mm～1.0mm)并进行均匀透照。透照应
采用低能量射线（50keV～100keV）。
另一种类型是CR模块（见附录B)。 5.1.9中心束准直质量指示器（BAM-铅箔蜗形盘）
中心束准直质量指示器由一卷厚度在1.5mm2.0mm范围内的薄铅箔组成，层间用厚度在 0.1mm～0.2mm范围内的低吸收材料隔开（见B.3）。也可使用蜂窝材料。 5.2CR质量指示器应用 5.2.1通则
CR质量指示器用于对CR系统的质量进行快速评价和定期质量控制。各种试验和试验方法的应用指南，见附录C。 5.2.2CR质量指示器的曝光（用户测试）
CR质量指示器宜按附录B中描述的特殊布置放置CR模块。在CR模块中CR质量指示器能单独或全部一起使用。所选的一组CR质量指示器或CR模块被放置在含有成像板的暗盒上。射线源距 CR模块1m，射线束中心与成像板中心对齐。射线能量超过100keV时，应在CR质量指示器或CR模块与IP之间放置0.1mm厚的铅增感屏，用于减少散射线。采用最佳的射线检测参数和CR系统功能进行曝光测试，获得合同各方认可的待评价的最终图像。
曝光时间和CR扫描单元参数的设置及成像板的类型决定图像质量。应记录IP的类型、辐射能量（keV，伽玛源类型）、剂量（如mAs）和质量要素（前置滤波片、射线管类型和射线管窗口）等内容，且获得合同各方同意。
注：长曝光时间和低增益扫描的设置获得高对比度分辨率和信噪比（SNR)。此外，大像素尺寸设置（不清晰度大）
比小像素尺寸设置（不清晰度小），获得更高的对比度灵敏度。
5.2.3CR质量指示器的初始评估（用户测试）
对于初始质量评估，检查CR模块或独立的质量指示器在显示器（或影印件)上的图像，与5.1.2～ 5.1.9和6.3.2、6.3.3、6.4.1～6.4.7中描述的特征比对。检测结果能为合同双方达成协议提供依据。 5.2.4定期控制（用户测试）
5.1.2～5.1.8(按5.1.9进行中心束准直)中的CR质量指示器或CR模块应在合同各方约定的任何时间间隔内进行射线照相并检查结果。对于定期控制，确保测试的质量值符合6.3.2、6.3.3和6.4.1～ 6.4.7中的规定。 5.3影像衰退
成像板中存储的图像强度会随着时间的推移而下降，这种效应被称为影像衰退。衰退特性的测量应按以下步骤进行
a）采用典型的曝光条件均匀曝光成像板。为便于分析，应记录以下参数：kV、SDD、前置滤波片、
板材质及其厚度。在最低增益和线性化条件下，曝光图像的强度应在CR读取器最大可读出强度的70%~90%之间；
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