ICS 01.040.07 CCS A 020
C F
中华人民共和国国家标准
GB/T41204—2021
纳米技术 纳米物体表征用测量技术矩阵
Nanotechnologies-Measurement technique matrixfor the characterization of
nano-objects
(ISO/TR18196:2016,MOD)
2022-07-01实施
2021-12-31发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会 发布 GB/T 41204—2021
目 次
前言引言 1 范围 2 规范性引用文件 3术语和定义
IX
X
3.1通用术语 3.2纳米物体参数矩阵中包含的参数
4
5矩阵中包含的测量技术 5.1 概述 5.2 声谱
5.2.1 描述 5.2.2 纳米物体参数 5.2.3 优点 5.2.4 局限性 5.2.5 被测量 5.2.6 相关标准 5.3离心分析(AC) 5.3.1 描述 5.3.2 纳米物体参数 5.3.3 优点 5.3.4 局限性 5.3.5 被测量 5.3.6 相关标准 5.4电声谱 5.4.1 描述 5.4.2 纳米物体参数 5.4.3 优点 5.4.4 局限性 5.4.5 被测量 5.4.6 相关标准 5.5气溶胶颗粒质量分析仪（AMS） ................... 5.5.1 描述 5.5.2 纳米物体参数 5.5.3 优点 5.5.4 局限性 5.5.5 被测量
.. GB/T 41204—2021
5.5.6相关标准 5.6俄歇电子能谱（AES) 5.6.1描述 5.6.2 纳米物体参数 5.6.3 优点 5.6.4 局限性 5.6.5 被测量 5.6.6 相关标准 5.7物理吸附(BET)法测定比表面积 5.7.1 描述 5.7.2 纳米物体参数 5.7.3 优点 5.7.4 局限性 5.7.5 被测量 5.7.6 相关标准 5.8凝结式颗粒计数法(CPC) 5.8.1 描述 5.8.2 纳米物体参数 5.8.3 优点. 5.8.4 局限性· 5.8.5 被测量 5.8.6 相关标准 5.9差分电迁移分析系统(DMAS) 5.9.1 描述 5.9.2 纳米物体参数 5.9.3 优点 5.9.4 局限性 5.9.5 被测量 5.9.6 相关标准 5.10 差示扫描量热法(DSC) 5.10.1 描述 5.10.2 纳米物体参数 5.10.3 优点 5.10.4 局限性 5.10.5 被测量 5.10.6 相关标准 5.11 动态光散射技术(DLS) 5.11.1 描述 5.11.2 纳米物体参数 5.11.3 优点
.....
10 10
10
10
10
10 10
11
11
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[2
.
12 12 12 12 13
....
5.11.4 局限性 5.11.5 被测量 5.11.6 相关标准 I
13 GB/T41204—2021
5.12电子能量损失谱（透射EELS) 5.12.1 描述 5.12.2 纳米物体参数 5.12.3 优点 5.12.4 局限性 5.12.5 被测量 5.12.6 相关标准 5.13电泳/毛细管电泳 5.13.1 描述 . 5.13.2 纳米物体参数
13 13 13 13 13 13
.
..
....13
13 13 14 14
... .
5.13.3 优点 5.13.4 局限性 5.13.5 被测量 5.13.6 相关标准 5.14 能量色散X射线谱（EDS/EDX)和波长色散X射线谱（WDS） 5.14.1 描述 5.14.2 纳米物体参数 5.14.3 优点 5.14.4 局限性 5.14.5 被测量 5.14.6 相关标准 5.15场流分级法 5.15.1 描述 5.15.2 纳米物体参数 5.15.3 优点 5.15.4 局限性 5.15.5 被测量 5.15.6 相关标准 5.16荧光光谱法 5.16.1 描述 5.16.2 纳米物体参数 5.16.3 优点 5.16.4 局限性 5.16.5 被测量 5.16.6 相关标准 5.17 傅里叶变换红外(FT-IR)光谱法和FT-IR成像法 5.17.1 描述 5.17.2 纳米物体参数 5.17.3 优点 5.17.4 局限性 5.17.5 被测量 5.17.6 相关标准 5.18 感生光栅法(IG)
14
14 14 14 14 14 14 15 15 15 15 15 15 15 15
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...
16
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17 17
17 17
E GB/T41204—2021
5.18.1 描述 5.18.2 纳米物体参数 5.18.3 优点 5.18.4 局限性 5.18.5 被测量 5.18.6 相关标准 5.19电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)和单颗粒电感耦合等离子体质谱(SP-ICP-MS）.... ..18 5.19.1 描述
17 17 17 17 18 18
18 18 18 18 18 19
5.19.2 纳米物体参数 5.19.3 优点 5.19.4 局限性 5.19.5 被测量 5.19.6 相关标准 5.19.7 纳米联用ICP-MS技术 5.20 激光衍射技术 5.20.1 描述 5.20.2 纳米物体参数 5.20.3 优点 5.20.4 局限性 5.20.5 被测量 5.20.6 相关标准 5.21 液相色谱-质谱联用法（LC-MS) 5.21.1 描述 5.21.2 纳米物体参数 5.21.3 优点 5.21.4 局限性 5.21.5 被测量 5.21.6 相关标准 5.22 颗粒跟踪分析 5.22.1 描述 5.22.2 纳米物体参数 5.22.3 优点 5.22.4 局限性 5.22.5 被测量 5.22.6 相关标准 5.23 光学吸收光谱(UV/Vis/NIR) 5.23.1 描述
19
19 19 19 19 19 20 20 20 20 20 20 20 20 20 20 20 .21 ...21
..
.-
21 21 21 21 21 22 22 22 22 22 22
..+
5.23.2 纳米物体参数 5.23.3 优点 5.23.4 局限性 5.23.5 被测量 5.23.6 相关标准 5.24 石英晶体微天平（QCM) IV
..
... GB/T41204—2021
22 22 22 23 23 23 ....23
5.24.1 描述 5.24.2 纳米物体参数 5.24.3 优点 5.24.4 局限性 5.24.5 被测量 5.24.6 相关标准 5.25 拉曼光谱/拉曼成像
. .
23 23 23 23 23 .23 24
5.25.1 描述 5.25.2 纳米物体参数 5.25.3 优点 5.25.4 局限性 5.25.5 被测量 5.25.6 相关标准 5.26共振质量测量（RMM）. 5.26.1 描述 5.26.2 纳米物体参数 5.26.3 优点 5.26.4 局限性 5.26.5 被测量 5.26.6 相关标准 5.27扫描电子显微术(SEM)
...24
24 24 24 24 24 24 24 ·24 25 25 25 25 ：26 26 ...26 26 .26
5.27.1 描述 5.27.2 纳米物体参数 5.27.3 优点 5.27.4 局限性 5.27.5 被测量 5.27.6 相关标准 5.28 扫描探针显微术(SPM) 5.28.1 描述 5.28.2 纳米物体参数 5.28.3 优点 5.28.4 局限性 5.28.5 被测量 5.28.6 相关标准 5.29 二次离子质谱(SIMS)和飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS) 5.29.1 描述 5.29.2 纳米物体参数 5.29.3 优点 5.29.4 局限性 5.29.5 被测量 5.29.6 相关标准 5.30X射线小角散射法(SAXS)…. 5.30.1 描述
......
26 .27 27 27 27 ... 27 27 28 28 28
28 V GB/T41204—2021
5.30.2 纳米物体参数 5.30.3 优点 5.30.4 局限性 5.30.5 被测量 5.30.6 相关标准 5.31 静态光散射（SLS)和静态多重光散射（SMLS）， 5.31.1 描述 5.31.2 纳米物体参数 5.31.3 优点 5.31.4 局限性 5.31.5 被测量(SLS) 5.31.6 被测量（SMLS）· 5.31.7 相关标准 5.32 单粒子光干涉法 5.32.1 描述 5.32.2 纳米物体参数 5.32.3 优点 5.32.4 局限性 5.32.5 被测量 5.32.6 相关标准 5.33 热重分析法(TGA) 5.33.1 描述 5.33.2 纳米物体参数 5.33.3 优点 5.33.4 局限性 5.33.5 被测量 5.33.6 相关标准 5.33.7 TGA联用技术 5.34 透射电子显微术（TEM) 5.34.1 描述 5.34.2 纳米物体参数 5.34.3 优点 5.34.4 局限性 5.34.5 被测量 5.34.6 相关标准 5.35 X射线衍射(XRD)
28 28 2
29 29 29 29 29 29 30 30 30 30 30 30 30 30 31 31
.
1
3 31
3 31 31 31 31 31
32 32 32 32 32 33 33 33 33 33 33 33 33
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5.35.1 描述 5.35.2 纳米物体参数 5.35.3 优点 5.35.4 局限性 5.35.5 被测量 5.35.6 相关标准 5.36X射线光电子能谱(XPS) V
... GB/T41204—2021
5.36.1 描述 5.36.2 纳米物体参数 5.36.3 优点
33 33 33 ....34 .34 ....34
..
...+
5.36.4 局限性 5.36.5 被测量 5.36.6 相关标准
附录A（资料性） 样品分离/制备参考文献
35 ·37