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GB/T 42676-2023 正式版半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法

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GB/T 42706.2-2023 电子元器件半导体器件长期贮存第2部分：退化机理

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SJ/T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法第15部分：热阻

PDF 2.77 MB 2024-07-11
SJ/T 2658.2-2015 半导体红外发射二极管测量方法第2部分：正向电压

PDF 3.31 MB 2024-07-11
SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法第4部分：总电容

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SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法第5部分：串联电阻

PDF 3.57 MB 2024-07-11
SJ/T 2658.6-2015 半导体红外发射二极管测量方法第6部分：辐射功率

PDF 7.03 MB 2024-07-11
SJ/T 2658.7-2015 半导体红外发射二极管测量方法第7部分：辐射通量

PDF 3.49 MB 2024-07-11
SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法第8部分：辐射强度

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SJ/T 11586-2016 半导体器件10keV低能X射线总剂量辐射试验方法

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