，应用研究：
数字技术与应用
航天用CASTC级半导体分立器件的检测与验收
马继铭
陕西西安
(西安卫光料技公司
710065)
摘要；CASTC导级的产品现广泛应用于我国重大军用项目的生产制遗中。其中，检测与验收是该产品在生产使用中的重要环节，电是产品质量的核心保障。
关键调：CASTC
检测
中图分类号：V243 1概述
CAST
验收
文献标识码：A
文章编号：1007-9416(2010)08-0111-01
全部电参数和规定变化量的参数测试。
C级产品是指已列人现行有效
QPL中的JT或JT以上，或在国军标生产线及其它类型生产线上生产的尚未列入QP L、经中国空阔技术研究院认定合格，同时满足用户采购规范规定的过程控制。承制方筛选，使用方下厂监制，验收和补充筛选要求的器件的质量保证等级的产品。该等级产品现广泛应用于我国重大军用项日的生产制造中，其中，检测与验收是该产品在生产使用中的重要环节，也是产品质量的核心保障。
C级硅低频大功率晶体
2CAST 管的检测与验收 2.1检测
C级硅低频大功率品体管在承
CAST
制方筛选检测时需经过以下程序：(1)内部目检；按GJB128A-97
2072方
法进行。
(2)稳定性烘焙：按GJB128A-97 方法进行，TA=175C，96h。
(3)温度循环：按GJB128A97 法进行，
试验条件C：循环。
1032 1051方
55C←→175.20次
(4)热阻测试：按GB/T4587，IV，1.11进行。
(5)恒定加速度：按GJB128A-97
2006
方法进行，在Y方向上试验，加速度为98000 m/s2(1000g)。
(6)颗粒碰擦噪声检测
97
：按GJB128A-
2052方法进行，试验条件A，(7)密封性检查：（适用时）。
(8）电参数测量（室温）：按详细规范规定的电参数，
(9)高温反偏：按GJB128A=97 法进行，试验条件A，t=48h。
1039方
(10)电参数测量：按详细规范规定的电参数。
(11)PDA计算：<10%
(12)功率老练；按GJB128A-97 方法进行，试验条件B，t=240h。
1039
（13)电参数测量（室湿）：按详细规范规定的电参数。老炼结束后多领在96h内完成
万方数据
(14)PDA计算：≤10%
(15)电参数测量（高温）：按详细规范规定的电参数。
(16)电参数测量（低温）：按详细规范规定的电参数。
(17)密封性检查：按GJB128A-97 1方法进行。
a.细检漏：试验条件H1。
107
b.粗检漏：试验条件C，P>517kPa，t=2 h
(18)X光检测：按GJB128A-972076方法进行，2个方向
(19)外现及机械检查：按GJB128A-97
2071方法进行，打标志后进行。 2.2验收
CASTC级硅低频大功率晶体管的验收需通过以下项目：(1)破坏性物理分析(D PA)：(2)常温测试(3)高温测试及低温测试：(4)高温曲线测试：(5)密封性检查：a.细检漏；b.粗检漏。(6)PIND检查，(7)外观及机减检查：(8)外形尺寸检查，
2.3筛选后不合格品的处理
筛选后对不合格品必须严格隔离。筛选过程中发现功能失效或参数严重超差的器件时，应进行失效分析并提交失效分析报告，如失效确定为具有批次性，则整批器件不得提交验收，
对老综试验后参数超差的器件，应提交实验数据共使用方审查。未经使用方允许，不得对器件进行破坏性试验，使用方有权进行复测检查。
3CASTC级玻璃钝化二极管产
品的检测与验收 3.1检测
CAST
C级玻璃钝化二板管产品在承
制方筛选检测时需经过以下程序：
(1)内部目检：按GJB128A-97
2073、2
074方法进行。
(2)稳定性烘焙；按GJB128A=97 方法进行，Tstgmax=150C，t=96h。(3)温度循环；按GJB128A-97
1032
1051方
法进行，
试验条件G：
55→150,20
循环。
（4)电参数量（室温）：按详细规范规定的电参数。
(5)高温反偏：按GJB128A=97
1038方
法进行，试验条件A，TA=150C±2CVR= 0.8VRWM.t=48h.
(6)电参数测量：按详细规范规定的电参数。
(7)PDA计算：<10%
(8)功率老练：按GJB128A-97 法进行，试验条件B，t=240h。
1027方
(9)电参数测量（室温）：按详细规范规定的电参数，老炼结束后必须在96h内完成全部电参数和规定变化量的参数测试。
(10)PDA计算；<10%
(11)电参数测量(高温)：按详细规范规定的电参数。
(12)电参数测量（低温）：按详细规范规定的电参数，
(13)X光检测：按GJB128A-97
2076方
法进行，2个方向，
(14)外观及机械检查：按GJB128A-97
2071方法进行，打标志后进行， 3.2验收
C级玻璃饨化二极管产品在承
CAST
制方验收时需经过以下程序：(1)破坏性物理分析(DPA)(2)常温测试：(3)高温测试及低温测试，(4)高温特性曲线测试，(5)外观及机械检查：(6)外形尺寸检查。
3.3筛选后不合格品的处理
筛选后对不合格品必须严格隔离。筛选过程中发现功能失效皮参数严重
超差的器件时，应进行失效分析并提交失效分析报告，如失效确定为具有批次性，则整批器件不得提交验收。
对老练试验后参数超差的器件，应提交实验数据共使用方审查，未经使用方允许，不得对器件进行破坏性试验，使用方有权进行复测检查。
作者简介，马继就，★，41岁。率导休专业，大专学质，工程舞，西安卫光科校公司技术人员。在本单位主要从事率导体分立器件的研制及生产。
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