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当代化工研究
ufeaImterwetlat
技术应用与研究
2016-10
浅谈ICP-MS在测试岩石中钨元素含量的应用
*尹坤
【黑龙江省地质矿产测试应用研究所黑龙江150040】
摘要：现代科技的进步离不开相关实验设备、生产设备的更新接代，这电就遗成了在科技不断发展的现今无论科研机构还是工业企业对于终这一原材料的需求量越来越大。人们对终早已经不在陌生，早期的电灯泡中的发光材料就是由钨丝制成的，而在现代化的料技发展之中，人们也国为钨有着极高熔点的这一物理性质使其在各个领域，尤其是电器、电子机械致之中得列了广泛的应用。为现代化的科研说
备，工业就械提供了有力的保障。由此本丈就ICP-MS在测试岩石中势元素含量的具体方式逐行了分析研究，关键词：ICP-MS；测试岩石中终元素含量
中图分类号：T
文献标识码：A
ApplicationofICp-MsintheMeasurementofTungstenContentinRock
YinKun
(Geology and Mining Measurement and Application ResearchInstitution, Heilongjiang,150040)
Abstract: The progress of moderm science and tecknology cannor leave the apgrading of related laboratory equipmem and production equipment, which also canrses the phenomenon rhat in rhe age of increasingly developed science and technology, nto mater for the scientific research insitutions or industries and enterprises, their demand for the raw material of tungsten becomes bigger and bigger: Tungsten has beent nor strange fo people and the luminescen material in early lights is made ap of tungsten winre and in modern developmenf of science and technology, tarngsten has been arsed into various fields by people because its physical properties of high melting point, especially in zhe fields of electric appliance and elecronic machinery, it has been widely tesed, which provides a strong gtiarantee for moderm scientific research eguripment and indaustrial machinery: Thaes in this paper, it takes antalytical imestigation of specijfic methods of ICP-MS in measuring the farngsten elemenf content in rock
Key words: ICP-MS; measuremenf of tongsten comlem in rock
我国每年钨的开采量和出口量都位居世界第一，是名副其实的产钨大国，并且通过检测证实我国对于钨的储藏量极上接第35页
样品的二维分布分析图像
样品的测量区域为图中红色正方形所选定的区域。其二维分布分析图像如图1所示。其中，MgO、SiO，、SO， CaO、Fe,O,的含量范围如表3所示。
1号样品
S0
Mgo Cao
sio, Fe.0
图1样品的二维分布分析图像
成分 Mgo Sio2 S03 Cao Fe203
万方数据
含量（%） 4.92 ~ 5.27 3.27 ~ 3.52 6.97~10.12 16.94 ~ 18.97 61.19 ~ 62.75
其的丰富。科技发展使得社会对于钨的需求量不断的上升，在机械生产、科技研发领域，钨的使用方面也逐渐丰富了
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表3Mg0、Si0，、S0,、Ca0、Fe,0,的含量范图
从图1和表3可以看出，MgO、SiO，、SO，、CaO、
Fe,O,等的分布呈相关性。符合磁铁矿的特征。 3.结论
利用日本理学的ZSXPrimusⅡI型波长色散X射线荧光光谱仪所配备的微区分析功能，能够对选定的矿石样品中的特征元素和伴生元素进行微区分析，得到所选位置的矿石的化学成分组成，进而为岩矿鉴定工作提供科学、快速、准确的数据支持和帮助。由于采用X荧光微区分析，样品的前处理简单易行，在测量中又大大的降低了矿石的基体效应的影响，且仪器具有良好的精密度。因此，将本法用于岩石矿物鉴定的辅助工作中是可行的。当然，进一步的研究需要在今后的工作中，具体细化和完善。
【参考文献】
[1]葛良全,孙传敏,谷结等.微求微区X荧光矿物探针分析仪的研制U)矿转常石，2010.
[2]渠述延,刘玉纯.X射线荧光光谱微区分析在铜矿石鉴定上的应用门.中国理学XRF光谱仪用户第十届学术报告会论文集，2012： 2936
【作者简介】
曹峰（1984~），男，黑龙江省地质矿产测试应用研究所，研究方向：分析测试
(责任第辑：李蒸）