2016
6.10
技术应用与研究
当代化工研究
henmle
X荧光微区分析在岩矿鉴定工作中的应用
最*
峰
（黑龙江省地质矿产测试应用研究所黑龙江150036）
35
摘要：本文利用日本理学公司推出的带微区分析功能的ZSXPrimusII型X射线荧光光谱仪对事先造定的儿个矿石样品进行微区分析，通过事
先建立的定性分新方法，得到了矿石测量点的化学成分含量，为岩矿鉴定工作提供一种快速，便捷的分析方法和辅助手段。关键词：微区分析；岩矿鉴定
中图分类号：T
文献标识码：A
ApplicationofX-fluorescenceMicroZoneAnalysisinRock-mineral DeterminationWork
CaoFeng
( Heilongjiang Test and Application Research Institute of Geology and Mineral Resources, Heilongjiang, 150036 )
Abstract: In zhis paper, if makes ase of rhe ZSX Primus ope of X-ray flarorescence spectrometer with micro zone analysis ficnction launched by Japan Rigaka o take micro zone analysis of the several selected ore samples, besides, rhrotigh zhe pre-established qialitarive analysis merhods, we got the chemical composition coment of ore measurement poin, which provides a rapid and comenien analysis method and auxiliary means for rock-minera derermination work
Key words: micro zone analysis; rock-mineral determinationt
所谓微区分析是指在固体样品的某一微小区域直接进
行成分分析或利用客种微束或探针技术采直接（原位）分析在光学显微镜下所选的微区物质进行化学成分分析的一种分析技术。目前已经广泛应用的微区分析仪器有电子探针、离子探针、激光探针、扫描电子显微镜、俄歇电子谱仪等，这些分析技术在矿石鉴定方面发挥若重要作用。尽管探针等技术可定量或半定量测定元素含量，但是其测定的样品需要制备成探针片，绝大部分地质样品不导电，因此需要在真空下进行预处理（喷碳），而且矿石结晶水含量对测定结果影响大，特别是在测定善通光片时，抽真空时间非常长，使其在岩矿鉴定的应用上受到了一定的限制。而X射线荧光光谱仪微区分析具有谱线简单、干扰少、稳定性好、制样简单、方法简便、分析范围宽、适应性广、无损分析、测定结果准确可靠等优点，测量面积还可以根据需要鉴定的矿物的大小进行调整，实现原位测定。
X荧光光谱仪的分析范围很广，从F~U均能够做出定性或半定量的分析，在微区分析中，凡是含量大于十万分之（0.001×10-2）均可以给出半定量的结果。并且微区分布分析有三种测量模式：点分析、线分析和面分析。在点分析中点测量直径为30μm。可以对指定位置进行定点分析。在线分析和面分析中，通过测量指定位置，可以得到元素分布
数据。为岩矿鉴定提供有利的数据支持。 1.实验部分
(1)仅器
日本理学ZSXPrimusII型波长色散X射线荧光光谱仪，仪器各项参数见表1。
参数名称 X射线管工作电压工作电流镀窗厚度视野光栏
万方数据
参数信
增窗型Rh乾材4kV 20kV ~ 60kV 2mA~160mA
30μm 0.5mm~30mm
难直器探测器
探测器窗膜厚度
滤光片分光晶体样品观察装置测试位置指定法
S2,S4 PC.sC 0.6μm
Zr、Cu,Ti，Al RX25、Ge、PET、LiF1 CCD数码相机样品合军动装置
表1仪器参数
(2)分析元素的测量条件分析元素的测量条件见表2。
元表 Heavy ca K
S p si Al Mg Na
晶体 LiF1 LiF1 LiF1 Ge D Ge PET PET RX25 RX25 RX25
电流(mA) 50 40 40 30 30 30 30 30 30 30 30
电压(kv) 60 75 75 100 100 100 100 100 100 100 100
PHA 100~300 100~300 100~300 150~300 150~300 150~300 100~300 100~300 100~250 100 ~250 100 ~250
表2分析元素的测量条件
难直器 S2 S4 S4 S2 S4 S4 S4 S4 S4 S4 S4
探测器 SC PC PC PC PC PC PC PC PC PC PC
注：PHA为脉冲高度分析器，元素均选用Ka谱线，滤光片为无，衰减器为1/1。
(3)样品的选择
本文选择有代表性的矿石样品作为代表，磁铁矿。 2.结果和讨论