SJ/T 11199-2016代替 SJ/T 11199—1999
压电石英晶体片
Piezoelectric quartz crystal blank
2016-01- 15 发布
2016- 06- 01 实施
——在灯光下目检改为"灯光下目检或规定倍数放大镜或显微镜检查";增加有争议时的测量方法;增加"石英晶体片腐蚀后或抛光后在灯光下目检双晶和籽晶。"（见5.1，1999 年版的 5.1);
——厚度测量的工具由千分尺改为数字千分尺;平行度的测量方法与厚度测量分别规定;增加方片倒角的测量方法，增加圆片倒缺口轴向的测量方法（见 5.2，1999年版的 5.2）;
——X 射线定向仪的精度由 0.5'改为适用的精度（见5.3，1999 年版的5.3）;
——测量频率允差的仪器只提出测量原理和电极形式（见 5.4，1999 年版的 5.4）;
——删去内部缺陷（1999 年版的 5.5）;
——检验批"由同一时间提交的用同一批原料加工的石英晶体片构成"改为"同一时间提交的同
——规格的石英晶体片构成"（见 6.1，1999 年版的 6.1）;
——抽样方案改为由详细规范规定（见 6.2，1999 年版的 6.2）;
——小包装的标志和合格证项目少量调整（见 7.1，1999 年版的 7.1）。
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本标准由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会（SAC/TC182）归口。