GB/T 22319.9-2018/IEC6044-9:2007
石英晶体元件参数的测量第9部分∶石英晶体元件寄生谐振的测量
Measurement of quartz crystal unit parameters— Part 9:Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units (IEC 60444-9:2007,IDT)
2018-10-01实施
2018-03-15发布
前言
GB/T22319《石英晶体元件参数的测量》分为以下部分∶
——第1部分∶用x型网络零相位法测量石英品体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法;
——第2部分∶测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法;
——第4部分∶频率达30 MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻R，的测量方法及其他导出参数的计算;
——第5部分∶采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法;
——第 6部分∶激励电平相关性（DLD）的测量;
——第 7部分∶石英晶体元件活性跳变的测量;
——第8部分∶表面贴装石英晶体元件用测量夹具;
——第9部分∶石英晶体元件寄生谐振的测量;
——第11部分∶采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和等效负载电容的标准方法。
本部分为GB/T22319的第9部分。
本部分按照GB/T 1.1—2009 给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC6044-9.200《石英晶体元件参数的测量 第9部分∶石英品体元件寄生谐振的测量》。