GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分∶试验25b∶衰减（插入损耗） GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗） GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-5部分∶试验25e∶回波损耗 GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-4部分∶试验25d∶传输时延 GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-1部分∶试验25a∶串扰比 GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延