GB/T 34002-2017
微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy— Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures (ISO 29301:2010,IDT)
2018-06-01 实施
2017-07-12发布
前  言
本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。
本标准使用翻译法等同采用ISO 29301∶2010《微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法》。
与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下∶
——GB/T 27025-—2008 检测和校准实验室能力的通用要求（ISO/EC17025;2005，IDT）本标准对原文中的下列错误进行了修正∶
——图1中11 数码相机放大倍率M，<M.修改为M，<M∶—6.6.2 b）中"SRM/RM"修改为"CRM/RM";
——6.9.3第5行将1nm修改为1μm，将No和L。分别修改为N。一和L
——将第7章引用的ISO 5725-1∶1994补充到规范性引用文件中
——表D.1中的银（S）修改为硅（S），Si是硅（Sico）的化学符号，点阵常数为0.543nm，银的化学符号是Ag，点阵常数为0.409 nm.
本标准由全国微束分析标准化技术委员会（SAC/TC 38） 提出并归口，