GB/T 22319.11-2018/IEC60444-11:2010
石英晶体元件参数的测量第11部分∶采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法 Measurement of quartz crystal unit parameters— Part 11:Standard method for the determination of the load resonance frequency ft and the effective load capacitance CLer using automatic network analyzer techniques and error correction (IEC60444-11:2010,IDT)
2018-10-01实施
2018-03-15发布
前 言
GB/T 22319《石英晶体元件参数的测量》分为以下部分∶
——第1部分∶用x型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法;
——第 2部分∶测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法;
——第4部分∶频率达30 MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻R，的测量方法及其他导出参数的计算;
——第5部分∶采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法;
——第6 部分∶激励电平相关性（DLD）的测量;
——第7部分∶石英晶体元件活性跳变的测量;
——第8部分∶表而贴装石英晶体元件用测量夹具;
——第 9部分∶石英晶体元件寄生谐振的测量;
——第11部分∶采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法。
本部分为GB/T22319 的第11 部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC6044-11.2010《石英晶体元件参数的测量 第11部分∶采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率f.和有效负载电容CL的标准方法》。