您当前的位置:首页>行业标准>GB/T 41153-2021 碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法

GB/T 41153-2021 碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

文件大小:532.57 KB

资料语言:中文

更新时间:2024-06-08 14:10:52



相关搜索: 质谱 碳化硅 离子 测定 含量 杂质 单晶 含量 41153 单晶 杂质

内容简介

GB/T 41153-2021 碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法
上一章:T/CADERM 2020-2021 公共场所自动体外除颤器 设置要求 下一章:T/CACM 1379-2022 中药注射剂超滤工艺技术规范

相关文章

GB/T 41153-2021 碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法 GB/T 42263-2022 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法 GB∕T 42263-2022 清晰版 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法 YS/T 1600-2023 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 GB/T 39144-2020 氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法 GB/T 39144-2020 氮化镓材料中镁含量的测定二次离子质谱法 GB/T 42274-2022 氮化铝材料中痕量元素(镁、镓)含量及分布的测定 二次离子质谱法 GB∕T 42274-2022 清晰版 氮化铝材料中痕量元素(镁、镓)含量及分布的测定 二次离子质谱法