ICS 71.100.99 G 74
NBSHI
中华人民共和国石油化工行业标准
NB/SH/T0950—2017
催化裂化催化剂中氧化镧和氧化铈含量
的测定X射线荧光光谱法 Standard test method for determination of lanthanum oxide and cerium
oxide in catalytic cracking catalysts by X-ray fluorescence spectrometry (XRF)
2018-06-01实施
2017-12-27发布
国家能源局 发布 NB/SH/T0950—2017
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由中国石油化工集团公司提出。 本标准由全国石油产品和润滑剂标准化技术委员会石油燃料和润滑剂分技术委员会（SAC/TC280/
SC1）归口。
本标准起草单位：中国石油化工股份有限公司石油化工科学研究院。 本标准参加起草单位：中国石化催化剂有限公司。 本标准主要起草人：高萍、郭瑶庆、李叶、杨爱迪、蒋邦开、冒昕烨、陈时辉、杨凌、宿艳芳、
唐晓红。
I NB/SH/T0950—2017
催化裂化催化剂中氧化和氧化铈含量的测定×射线荧光光谱法
警告：本标准的使用可能涉及某些有危险性的材料、操作和设备，但并未对与此有关的所有安全问题都提出建议。用户在使用本标准之前有责任制定相应的安全和保护措施，并确定相关规章限制的适用性。对于一些特殊的预防说明见第3章。
1范围
本标准规定了采用X射线荧光光谱法（XRF）测定催化裂化催化剂中稀土氧化镧（LaO）和氧化铈（CeO）的含量。
本标准适用于催化裂化新鲜剂、平衡剂和待生剂等。测定的稀土氧化镧和氧化铈质量分数范围分别为La203：0.10%~6.0%；Ce02：0.10%~4.0%。对于氧化镧和氧化铺含量超出这个质量分数范围的试样虽然可以按照本标准的试验过程进行测定，但是精密度可能不适用。
当样品的元素组成与用来建立校准曲线的标准校准样品的元素组成有显著差别时，应遵守第5章
中的注意事项和建议，否则分析结果会受干扰。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T6379.2测量方法与结果的准确度（正确度与精密度）第2部分：确定标准测量方法重复性与再现性的基本方法
GB/T6682—2008 分析实验室用水规格和试验方法 GB/T16484.3氯化稀土、碳酸轻稀土化学分析方法第3部分：15个稀土氧化物配分量的测定电
感耦合等离子体发射光谱法
NB/SH/T0863流化催化裂化催化剂中化学元素X射线荧光光谱法分析指南 NB/SH/T0960催化裂化催化剂、助剂和吸附剂采样法 ASTMD5258用密闭容器微波加热法酸溶解抽提沉积物中元素的标准规程（StandardPracticefor
AcidExtraction of Elements from Sediments Using Closed Vessel Microwave Heating)
ASTMD8088用电感耦合等离子发射光谱法测定催化裂化催化剂、分子筛、添加剂和相关材料中六种主要稀土元素的标准规程（StandardPracticeforDeterminationoftheSixMajorRareEarthElementsin Fluid Catalytic Cracking Catalysts, Zeolites, Additives and Related Materials by Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectroscopy.)
3方法概要
3.1具有足够能量的原级X射线可以激发样品所含元素原子的内层电子，在轨道上形成空穴，原子处于不稳定状态。此时，外层高能级的电子自发向内层跃迁填补空位，使原子恢复到稳定态，同时辐射出具有该元素特征的二次X射线即X射线荧光。 3.2原级X射线照射在经过压片处理的样品表面上，样品产生的特征光谱X射线（X射线荧光）根
1 NB/SH/T0950—2017
据波长的不同通过晶体分光。不同波长的X射线强度用相应的检测器测量，根据测量的X射线强度，通过由合适的参考物质建立的校准曲线来确定样品中元素的含量。
警告：接触过量的X射线有害健康，操作者应当采取适当的措施以防身体的任何部位受到一次以及二次或散射的X射线的照射，X射线光谱仪的操作必须符合仪器生产厂家的安全准则和国家及地方的安全规定。
4方法应用
4.1本标准可以快速、准确地测定催化裂化催化剂和平衡剂等样品中的稀土氧化和氧化的含量，样品准备和分析操作步骤简单，一般一个样品的分析时间是5min~10min。 4.2了解催化剂等样品中稀土氧化镧和氧化铺含量可预测和评价催化剂的性能。
5干扰
5.1在本标准测定范围内的镧和铈共存时会发生元素间的干扰，可选用仪器厂商提供的软件对元素间的干扰进行校正。 5.2待测样品和标准校准样品组成的不同会导致稀土含量测定的偏差。为了减少测定结果的偏差，应使用与待测样品具有相同或相似元素组成的基体物质配制标准校准标样，或使用已分析过有准确结果的与待测样品相同类型的样品作为标准校准样品
注：待测样品中除氧化鋼和氧化铺外还含有其他稀土氧化物，如氧化错、氧化钕、氧化，若其质量分数小于
0.5%，元索间的干扰可忽略，可用本标准对其中的氧化铜和氧化铺进行测定。
6仪器
6.1天平：感量为0.0001g。 6.2样品盒：铝制（或其他材质），盛装压片用的样品粉末。 6.3筛子：75μm。 6.4压片机：能够可重复地维持至少276MPa的压力。 6.5压片模具：用于将粉末样品压制成适合光谱仪的圆片。压片的大小应与X射线荧光光谱仪的样品盒匹配并满足测定的要求，一般为25mm~40mm。 6.6波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）：任何市售的波长色散X射线荧光光谱仪均可用于测定。 为了提高灵敏度，仪器应配备以下部件 6.6.1分光晶体：所选的晶体应具备最佳的灵敏度，标准校准样品和待测样品使用相同的晶体。表1 给出了推荐使用的晶体。 6.6.2探测器：闪烁计数器。 6.6.3光路：真空 6.6.4脉冲高度分析器：或其他的能量检测方法。 6.6.5X射线管：佬靶。 6.6.6对波长色散X射线荧光光谱仪的更多规定参见NB/SH/T0863。
7试剂和材料
7.1氧化镧、氧化：光谱纯，用于配制标准校准样品。 2 NB/SH/T0950—2017
7.2无水乙醇：分析纯，用做清洗剂。 7.3标准校准样品：具有和待测样品相近的成分和物理性质，元素含量已知且涵盖了待测样品中元素的预测值。可从多个来源获得此类标准校准样品。 7.4镧和标准溶液：用于配制标准校准样品。采用市售的或用7.1条中的试剂配制均可。 7.5漂移校正样品：用来测定和校正仪器随时间的漂移，可选择各种稳定的含有待测元素的物质，标准校准标样也可以用作漂移校正样品。 7.6校准检查样品：用于验证校准曲线的准确性。校准检查样品的氧化镧和氧化铈含量是已知的，并且在建立校准曲线时未使用过。与用来建立校准曲线的标准样品同批的标准样品也可以用作校准检查样品。
8取样和样品制备
8.1采用NB/SH/T0960《催化裂化催化剂、助剂和吸附剂采样法》进行取样。 8.2取适量试样，确保试样处于干燥状态，以满足XRF的分析要求。 8.3研磨试样，研磨后的粉末要能通过75um的筛子。 8.4在276MPa~552MPa的压力下对试样进行压制，具体的压力取决于使用的压片模具类型。 8.5用适宜方法标注压片，拿压片时要避免接触分析表面。 8.6将压制好的试样保存在真空干燥器中，避免在分析前吸水受潮或受到污染。
9仪器的准备
确保按照制造商的说明书安装调试XRF分析仪。要有足够的时间让仪器稳定，完成所需的任何仪器检验程序，尽可能让仪器连续运转，以保持最佳的稳定性
10标准校准样品和校准
10.1标准校准样品校准用的标准校准样品可以购买或自制 10.1.1用催化剂样品做标准校准样品：收集至少9个氧化镧和氧化铺含量覆盖所需范围的催化剂样品，用一种可以用来比较的分析方法对这些样品进行测定，将测定值作为标准值，具体测量步骤可按照GB/T16484.3、ASTMD5258、ASTMD8088或附录A。 10.1.2配制标准校准样品：用新鲜的FCC催化剂（不含要加入的稀土和）作载体，加人一定浓度的镧、铺标准溶液，按照所需要的氧化镧和氧化铺的含量范围，配制至少9个标准校准样品。 10.1.3每一种方法制得的标准校准样品按照第8章的步骤和待测样品一样的条件处理准备。 10.2 测量条件 10.2 1 推荐使用的分析条件列于表1中。
表13 推荐使用的分析条件
成分 分析线 晶体 准直器/μm 探测器 电压/kV 电流/mA 测量时间/s 谱峰/（°） 脉高 La,O, L LiF200 300 SC 50
50 50
20 20
82. 9362 100~300 79. 0450 100~300
CeO, e LiF s0 300 SC 50
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