ICS 25.100.70 J43 备案号：49923—2015
中华人民共和国机械行业标准
JB/T12205—2015
普通磨料 陶瓷刚玉
Conventional abrasive-Ceramic alumina
2015-04-30发布
2015-10-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布 JB/T122052015
目 次
前言 1 范围
1
规范性引用文件. 3 代号.. 4 术语和定义.
2
技术要求.. 5.1 化学成分 5.2 密度. 5.3 晶粒尺寸 5.4 粒度组成 5.5 铁合金粒含量. 5.6 磁性物含量 6试验方法. 6.1 化学成分 6.2 密度.. 6.3 晶粒尺寸 6.4 粒度组成.. 6.5 铁合金粒和磁性物含量 7检验规则.
5
2
7.1 样品的抽取 7.2 出厂检验 7.3 质量监督检验.. 8 包装、运输和贮存附录A（规范性附录） 陶瓷刚玉磨料晶粒尺寸分析方法 A.1 范围... A.2 样品制备. A.3 扫描电子显微镜分析和图像采集 A.4 截距法测量晶粒尺寸
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表1 化学成分表2 粒度段划分及抽样规定 JB/T12205—2015
前創言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国磨料磨具标准化技术委员会（SAC/TC139）归口。 本标准起草单位：山东鲁信高新技术产业有限公司、山东理工大学、天津大学、苏州创元新材料科
技有限公司。
本标准主要起草人： 翟涵、李正民、李志宏、张涛、刘海红、王弼、郭茂欣本标准为首次发布。
II JB/T12205—2015
普通磨料 陶瓷刚玉
1范围
本标准规定了陶瓷刚玉的代号、术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则及包装、运输和贮存。 本标准适用于溶胶凝胶法生产，氧化铝含量不少于99%（质量分数），用于制造固结磨具和涂附磨
具等用途的陶瓷刚玉磨料。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的弓用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T2481（所有部分）固结磨具用磨料粒度组成的检测和标记 GB/T3044 白刚玉、铬刚玉化学分析方法 GB/T4676 普通磨料取样方法 GB/T9258 ：（所有部分） 涂附磨具用磨料粒度分析 JB/T 6569 普通磨料 包装 JB/T 6570 普通磨料 磁性物含量测定方法 JB/T11433 普通磨料 密度的测定
3代号
陶瓷刚玉磨料的代号为CA。
4术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
4.1
晶粒尺寸grain size 晶粒大小的量度。通常使用长度、面积、体积或晶粒尺寸级别数来表示不同方法评定或测定的晶粒
大小。本标准使用长度来表示晶粒大小，以截距法计算的截距平均值作为晶粒尺寸。 4.2
截距法 intercept method 在晶粒的扫描电子显微镜图像上，统计已知长度的测量网格与晶粒界面相交截部分的截点数，计算
晶粒截距的平均值作为晶粒尺寸，此方法称为截距法。
5技术要求
5.1化学成分
产品的化学成分应符合表1的规定。
1 JB/T12205—2015
表1化学成分
指标（质量分数）
项目 Al203 NazO
% ≥99.00 ≤0.15
5.2 密度
各粒度号产品的密度应不小于3.84g/cm 5.3 晶粒尺寸
各粒度号产品的晶粒尺寸应不大于300mm。 5.4 粒度组成 5.4.1 固结磨具用磨料应符合GB/T2481的规定。 5.4.2 涂附磨具用磨料应符合GB/T9258的规定。 5.5铁合金粒含量
F30（P36）及以粗各号，以不通过355um筛的铁合金粒为零：F36～F90（P40P100）各号，以不通过粒度检查最底层筛的铁合金粒为零：F100～F220（P120～P220）各号，以不通过粒度检查次底层筛的铁合金粒为零。 5.6 磁性物含量
产品的磁性物含量不大于0.0018%（质量分数）。
6试验方法
6.1 化学成分
按GB/T3044规定的方法进行检验。 6.2 密度
按JB/T11433的规定进行检验。 6.3 晶粒尺寸
按附录A的规定进行检验。 6.4 粒度组成
固结磨具用陶瓷刚玉磨料按GB/T2481规定的方法进行检验涂附磨具用陶瓷刚玉磨料按GBT9258规定的方法进行检验。
6.5铁合金粒和磁性物含量
按JB/T6570的规定进行检验
2 JB/T12205—2015
7 检验规则
7.1 样品的抽取
按GB/T4676的规定进行抽样。 7.2出厂检验
出厂产品应按标准规定进行检验，所有项目全部符合技术要求时，该批产品可判为合格。 质量监督检验
7.3
质量监督检验时，将被检产品划分为不同的粒度段，每个粒度段随机抽取一种代表粒度号进行抽样，抽样采取一次抽样。粒度段划分及抽样规定见表2。
对抽取的代表试样按本标准中第5章。第6章规定的项目和试验方法进行全项检验，所有项目全部符合第5章规定的技术要求时判为合格，否则判为不合格。
表2 粒度段划分及抽样规定
粒度段划分 F4~F36(P12~P36) F40~F80(P40~P80) F90~F150（P100~P150) F180~F220（P180~P220)） F230-F360（P240~P360) F400F800（P400-P800)
抽取粒度
每个粒度段随机抽取一种粒度号（F磨料和P磨料应分别抽样）
F1000~F1200（P1000~P1200)）
P1500P2500
3包装、运输和购存
8
按JB/T6569的规定执行。
3 JB/T12205—2015
附录A （规范性附录）
陶瓷刚玉磨料晶粒尺寸分析方法
A.1范围
本附录规定了陶瓷刚玉磨料晶粒尺寸的测定方法：截距法。 本方法仅适用于平面晶粒，即试样表面显示出的二维晶粒尺寸的测定：不适用于立体晶粒，即试样
三维晶粒尺寸的测定。
A.2样品制备
A.2.1取样
按GB/T4676的规定进行取样。 A.2.2样品清洗
取缩分的陶瓷刚玉磨料粉末样品，置于50mL干净烧杯中，加入半杯蒸馏水，烧杯放入超声波清洗器中，超声振荡5min：将蒸馏水倒掉，烧杯置于烘箱中，用120℃的温度干燥10min，再放到干燥器中冷却。 A.2.3固定
将清洗过的陶瓷刚玉磨料粉末样品置于干净的载玻片上，通过振动载玻片使样品均匀且致密地单层分散。
扫描电子显微镜样品台上涂一层导电胶或导电双面胶带，将此样品台面朝下压到载玻片的样品上粘取样品，使多数颗粒比较平整的表面向上。 A.2.4镀膜
陶瓷刚玉磨料粉末样品不导电，需要通过镀膜仪喷镀一层薄的导电层（如Pt、Cr和Au/Pd等）以减少扫描电子显微镜分析时的荷电效应。构成导电层的颗粒应尽可能小。
A.3扫描电子显微镜分析和图像采集
A.3.1扫描电子显微镜分析
陶瓷刚玉磨料平均晶粒尺寸一般在100nm～500nm范围内，适合用场发射扫描电子显微镜分析。 A.3.2扫描电子显微镜的操作条件 A.3.2.1成像模式：高分辨成像模式。 A.3.2.2加速电压：适合高分辨成像模式，结合待测样品的金属镀层厚度及放电情况而定。 A.3.2.3样品位置：在扫描电子显微镜制造商指定的样品工作间距范围内：选择形成高清晰度图像的
4 JB/T12205—2015
工作间距。 A.3.2.4用扫描电子显微镜初步观察，大部分晶粒尺寸在100nm～250mm范围内时，推荐放大倍率为50000倍：大部分晶粒尺寸在250nm～500mm范围内时，推荐放大倍率为20000倍。 A.3.3扫描电子显微镜的操作步骤 A.3.3.1遵循仪器制造商的建议来调整并操作仪器。 A.3.3.2在低放大倍率下，不带偏见地确定至少5个表面比较平整且向上的颗粒；在高放大倍率下，不带偏见地确定每个颗粒表面的1个视区，该视区应是颗粒表面的有代表性的平整区域。 A.3.3.3高分辨成像模式下选择放大倍率，精确聚焦并调整像散，使图像清晰，晶粒和晶界有明显反差。 A.3.3.4采用数字设备或合适的数字照相技术获取至少600×400像素的图像，图像灰度级为256 A.3.3.5在报告或图像中列出显微镜的放大倍率比例尺和工作参数。
A.4截距法测量晶粒尺寸
A.4.1截距法是通过计数给定长度的测量网格与晶粒边界相交截点数P来测定晶粒尺寸。测量网格与两晶粒边界相交，截点数为1个：测量网格通过三个晶粒汇合点时截点数为2个。 A.4.2测量网格由总周长为500mm直径分别为79.85mm53.05mm和26.53mm的三个同心等距圆组成。将这三个圆印刷在透明材料上，并叠放于打印尺寸合适的照片上，人工计数测量网格上的截点数。每张照片上产生50～100个截点。 A.4.3按相同尺寸打印其他照片，分别用该测量网格进行测量，记录每次的截点数，然后计算出平均晶粒尺寸。通过测量5张及以上照片可获得的总截点数为400一500个。 A.4.4晶粒尺寸的计算公式：
LN
S
DP
式中： S一晶粒尺寸，即试样检验面上晶粒截距的平均值，单位为纳米（mm）： L一一测量网格长度（即三个同心圆周长）的总和，单位为毫米（mm）； N一照片中比例尺的代表长度，单位为纳米（nm）； D一一打印的照片中比例尺的实际长度，单位为毫米（mm）： P一测量网格（即三个同心圆圆周）上的截点数。
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