ICS 29.035.99 K15 备案号：49847—2015
T:
中华人民共和国机械行业标准
JB/T3730—2015 代替JB/T3730—1999
电气绝缘用柔软复合材料耐热性能评定试验方法卷管检查电压法
Test method for evaluating the thermal endurance properties of insulating combined flexible materialsMethod of proof voltage test with wrapped tube
2015-10-01实施
2015-04-30发布
中华人民共和国工业和信息化部发布 JB/T3730—2015
目 次
前言
II
范围规范性引用文件
1. 2 3 试验方法概述
4 试样. 5 试样数量.. 6 试样制备 7. 确定筛选电压值和检查电压值. 7.1确定筛选电压值 7.2确定检查电压值（即终点标准） 8老化温度和时间.. 9试验设备.
2
1
9.1老化烘箱. 9.2电气击穿试验装置 10程序 10.1 测量原始击穿电压值 10.2 筛选电压试验. 10.3 热老化试验 11试验数据处理和确定温度指数（TI）及半差（HIC） 11.1试验数据处理.. 11.2 温度指数（TI）及半差（HIC） 12 试验报告
图1 试样结构图2 黄铜环展开尺寸图3 老化温度-寿命曲线 JB/T3730—2015
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准代替JB/T3730一1999《电气绝缘用柔软复合材料耐热性能评定试验方法 卷管检查电压
法》，与JB/T3730一1999相比主要技术变化如下：
-在第2章中将原版本中所使用的旧标准改为最新版本的标准，并新增标准GB/T11026.3一2006，并根据此标准的相应要求新增了半差（HIC）的概念；根据GB/T11026.1对应的已修订的部分对本标准做了相应的修改。
本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国绝缘材料标准化技术委员会（SAC/TC51）归口。 本标准起草单位：机械工业电工材料产品质量监督检测中心、四川东材科技集团股份有限公司、杭
州泰达实业有限公司、西安西电电工材料有限责任公司。
本标准主要起草人：赵婕、于龙英、赵平、吕伟琴、杜超云。 本标准于1984年7月首次发布，1999年第一次修订，本次为第二次修订。
I JB/T3730—2015
电气绝缘用柔软复合材料耐热性能评定试验方法卷管检查电压法
1范围
本标准规定了以卷管检查电压法评定电气绝缘用柔软复合材料耐热性的试验方法。 本标准适用于厚度0.5mm及以下的电气绝缘用柔软复合材料。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件：其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T1408.1-2006绝缘材料电气强度试验方法第1部分：工频下试验 GB/T11026.1一2003电气绝缘材料耐热性第1部分：老化程序和试验结果的评定 GB/T11026.3一2006电气绝缘材料耐热性第3部分：计算耐热特征参数的规程 GB/T11026.4一2012电气绝缘材料耐热性第4部分：老化烘箱单室烘箱
3试验方法概述
3.1为了在热老化试验中模拟一般电机、电器绝缘结构中绝缘材料所受到的弯曲力和在热作用下因不能自由收缩而产生的内应力，本标准规定采用卷管试样。 3.2用检查电压法检测材料在热老化过程中电气强度的下降，确定材料的温度指数CTI）和半差（HIC）。
4试样
4.1被试材料应是符合产品技术要求的同一批产品。制造单位应按产品标准提供完整的实测数据。 4.2试样结构如图1所示，它由三部分组成：
单位为毫米 6%7
Rr1.6
说明：
一壁厚0.4mm黄铜环：
016/620黄铜管： M3×12螺钉：
M3螺母： 6M3垫圈：
7- -M3弹垫。
1
五
W
2——试样：
5
图1试样结构 JB/T3730—2015
a）试样长400mm宽（88土1）mm。其长边为被试材料的横向，短边为纵向 b）H59型黄铜管，外径（20土0.1）mm，壁厚约2mm，长约400mm，其外表面应平滑，表面粗
糙度Ra为1.6μum; c）H62型的开口弹性黄铜环，其内径与铜管外径相同，黄铜环的展开尺寸如图2所示。 黄铜管与黄铜环即做检查电压试验的两电极。
单位为毫米
103 63
0.4
OT
2X94
图2黄铜环展开尺寸
5试样数量
5.1固定在试样上的黄铜环与对应的黄铜管构成一个测试点。 5.2每种被试材料每个老化温度点至少要有11个合格的测试点 5.3对非对称结构的复合材料，一般应制备正反两个方向卷包的试样。
6试样制备 6.1把铜环及铜管清洗干净。 6.2把裁好的试样平整紧密地卷包在铜管上。 6.3在卷管试样外面，按间距约50mm套上开口铜环，铜环的开口部位应正对着试样卷包的重叠部分。 按图1所示的结构把铜环固定于试样上。安置铜环时要注意：
a）铜环内表面与试样应紧贴、不留间隙。紧度以铜环在卷管上不能转动为宜。 b）尽可能一次放准铜环位置，不要使铜环在卷管上来回转动，以防擦伤试样。
7确定筛选电压值和检查电压值
7.1确定筛选电压值
取被试材料产品标准中规定的击穿电压值的60%作为筛选电压值，对试制产品则取实测击穿电压平均值的60%作为筛选电压值。 7.2确定检查电压值（即终点标准）
取被试材料产品标准中规定的击穿电压值的50%作为检查电压值。对试制产品可取实测击穿电压平均值的50%作为检查电压值。
注：最低检查电压值一般使试样承受高于15MV/m的电场强度；最高检查电压值一般使试样承受低于20MV/m的
电场强度。
2 JB/T3730—2015
8老化温度和时间
按GB/T11026.1一2003中5.5的要求选择不少于三个或四个以上不同温度进行老化试验（如图3 所示）。
新 H
Y=a+是
2x104 104 5X103
F的下95%置信界限
c
103
102
eeso 82 0 0.00220.002
020 0.0023
老化温度?℃
1/T K-1
0.0020 0.001 9
TI:020 TEP:20/05(0e5)
说明：
达到终点指标的时间范围：一达到终点指标的平均时间。
O-
图3老化温度-寿命曲线
为了正确选择老化温度点，一般在正式评定试验前，应进行最高老化温度点的选择性试验。 建议采用GB/T11026.1一2003中表1推荐的老化温度和暴露周期。 为使各老化温度下试样经受大致相同的处理，选择的暴露周期最好能使破坏时间的中值在试样经受
大约10个冷热周期时获得。
选择的最低老化温度点的热寿命时间大于5000h。
9试验设备
9.1老化烘箱
老化烘箱应符合GB/T11026.4一2012的要求。 9.2电气击穿试验装置
试验符合GB/1408.1一2006的要求。升压速度取500V/s。从“零”自动升压直到试样击穿或升压到规定值。调节过电流继电器的动作电流，使线路在次级边电流达到30mA时切断。
10程序
10.1测量原始击穿电压值
从制备好的试样中，任取22个测试点的试样，在温度（23土2）℃及相对湿度（50土5）%条件下
3 JB/T3730—2015
（以下简称正常化条件）处理6h：然后进行击穿试验。取22个测试点的平均值作为原始击穿电压值。
若升压过程中，试样上发生层间爬电，可用玻璃布带紧紧包绕试样外表面。若仍发生爬电，则把试样的宽度加宽至100mm，另做22个测试点试样进行击穿试验。 10.2筛选电压试验
将全部试样在正常化条件下处理6h。然后，对每个测试点施加30s的筛选电压，记录在筛选电压下发生的击穿的点数。 10.3热老化试验 10.3.1把经过筛选电压检查后合格的全部试样，按预定的老化温度点任意均分成三组或三组以上，每组至少11个测试点。 10.3.2原则上应同时进行各温度点的老化试验。参考试样应与被试试样放在同一台烘箱中同时进行老化对比试验。
注：为避免损伤试样，以及有效地利用空间，试样可放在合适的试样架上。使同一层试样之间的距离约为15mm
上下层之间试样的距离约为100mm。
10.3.3按预定的暴露周期定期取出全部试样。待试样冷却至室温后，对试样进行6h正常化条件处理。 10.3.4对全部测试点施加30s的检查电压，记录检查电压试验中发生击穿的点数及对应暴露周期数。 10.3.5通过检查电压试验的试样全部放回原烘箱中进行下一暴露周期的老化试验，如此重复直到该温度下试样全部破坏为止。 10.3.6根据试样的速度适当修改暴露周期。如至第八个暴露周期还有一半以上试样未破坏，则可把暴露周期时间加倍，如在第三周期内已有1/3试样破坏，则应把暴露周期时间减半。
11试验数据处理和确定温度指数（TI）及半差（HIC）
11.1试验数据处理 11.1.1每个老化温度下各测试点热寿命的计算
每个测试点的热寿命L为：
Lj = tp (P, -0.5)
式中： L每个老化温度第j个测试点的热寿命的数值，单位为小时（h）： j—1，2，"，n，n为该温度下测试点的数目； tp——暴露周期时间的数值，单位为小时（h）： P一第j个测试点发生破坏的暴露周期数。 在暴露周期变化的情况下，每个测试点的热寿命等于发生破坏时的累计老化时间减去发生破坏那个
暴露周期时间的一半。 11.1.2作热寿命图
在半对数坐标纸上，以时间的对数作为纵向坐标，以绝对温度的倒数作为横坐标，作出各老化温度下对应各测试点的热寿命与老化温度的关系图。用最小二乘法求出两者之间的线性方程，如下置信界限。 11.2温度指数（TI）及半差（HIC）
根据GB/T11026.32006的规定计算耐热特征参数。
4 JB/T3730—2015
温度指数（TI）是热寿命图上对应于某个时间（通常是20000h）的摄氏温度值。半差（HIC）是表示温度等于TI时取得的终点时间的一半到终点时间之间所对应的开氏温度间隔的数值。例如：某材料卷管检查电压法的温度指数为130，半差为9.0，记作：卷管检查电压法TI（HIC）：130（9.0）。
若取对应于其他时间的温度作为温度指数，则应注明这个时间。
2试验报告
12
试验报告中应包括下列各项： a）被试材料及参考材料试样的名称、结构、型号和批号： b）评定试验的目的： c）被试材料产品标准中规定的击穿电压值和（或）实测击穿电压值； d）筛选电压检查下发生击穿的测试点个数； e）列出各老化温度下各测试点的全部热寿命数据： f）热寿命图： g）温度指数（TI）及半差（HIC），对非对称结构复合材料，一般应分别给出两个卷包方向的上述值： h）其他，如进行老化试验的时间，试验中的异常情况等。
5