ICS, 19. 100
GB
J 04
中华人民共和国国家标准
GB/T25758.4---2010
无损检测 工业X射线系统焦点特性
第4部分：边缘方法
Non-destructive testing--Characteristics of focal spots in industrial X-ray
systems for use in non-destructive testing-Part 4 : Edge method
2011-10-01实施
2010-12-23发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会 发布 GB/T25758.4—2010
前 言
GB/T25758《无损检测 1工业X射线系统焦点特性》分为五个部分：
第1部分：扫描方法；第2部分：针孔照相机射线照相方法；第3部分：狭缝照相机射线照相方法；第4部分：边缘方法；第5部分：小焦点和微焦点X射线管的有效焦点尺寸的测量方法。
本部分为GB/T25758的第4部分。 本部分等同采用EN12543-4：1999《无损检测 工业X射线系统焦点特性第4部分：边缘方法》
（英文版）。
本部分等同翻译EN12543-4：1999。 为便于使用，本部分作了下列编辑性修改：
“本欧洲标准”一词改为“本部分”；删除EN标准的前言； -用小数点“，”代替作为小数点的逗号“，”；用GB/T1.1--2000规定的引导语代替EN标准中的引导语。
本部分的附录A为资料性附录。 本部分由全国无损检测标准化技术委员会（SAC/TC56)提出并归口。 本部分起草单位：上海泰司检测科技有限公司、上海英华无损检测技术有限公司、上海材料研究所、
上海诚友实业有限公司、上海威诚邦达检测技术有限公司、通用电气传感检测科技（上海）有限公司、丹东奥龙射线仪器有限公司、山东轻工业学院。
本部分主要起草人：孔凡琴、李博、章怡明、金宇飞、赵成、丁鸣华、李义彬、孙宝江。
I GB/T25758.4—2010
引言
为了满足焦点尺寸测量的不同需求，在GB/T25758.1～25758.5中，描述了五种不同的方法。 扫描方法（GB/T25758.1）适用于强度分布和焦点尺寸恒定的场合，例如用于校准及图像处理
过程。
射线照相方法（GB/T25758.2与GB/T25758.3)是传统的技术，以验证为主要目的，适用于最高至200kV的场合。
当针孔和狭缝照相机无法使用时，边缘方法（GB/T25758.4）或许是有效的，这种方法适用于简易的场合。
为了兼顾到微焦点系统，GB/T25758.5提出了一种特殊的方法。
Ⅱ GB/T25758.4—2010
无损检测工业X射线系统焦点特性
第4部分：边缘方法
1范围
GB/T25758的本部分规定了采用清晰边缘的射线照相底片，来校验管电压最高至500kV的工业 X射线系统的大于0.5mm焦点尺寸的方法。
X射线图像的像质和分辨力很大程度上取决于焦点的特性。焦点成像质量基于目标平面的二维强度分布。
边缘方法对于在现场条件下校验焦点是特别有效，以发现焦点的变化。本方法不能用于焦点尺寸的绝对测量。焦点尺寸的绝对测量方法见附录A。 2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T25758的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T19348.1无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线照相胶片系统的分类" (GB/T19348.12003,ISO11699-1:1998,IDT)
GB/T19802无损检测工业射线照相观片灯最低要求（GB/T19802-2005，ISO5580：1985， IDT)
GB/T25758.1无损检测工业X射线系统焦点特性第1部分：扫描方法（GB/T25758.1- 2010,EN12543-11999,IDT) 3术语和定义
下列术语和定义适用于GB/T25758的本部分。
3. 1
焦点focalspot 从测量装置中看到的X射线管阳极上的X射线发射区域。 [GB/T25758.1]
4测试方法 4.1原理和设备
本方法是通过测量几何不清晰度来得到焦点尺寸的间接测量方法。为此，采用相对较高的几何放大倍率将清晰边缘映像到胶片上。
测量中需要以下设备：最小长度24cm的无增感屏的胶片；一由薄塑料或铝制成的胶片暗盒；
铅字L和W； 1）该标准将在修订GB/T19348.1—2003的基础上发布（等筒采用ISO11699-1：2008，与EN584-1：1994等效）。
I GB/T25758.4-2010
射线管窗口前加装与胶片尺寸相匹配的准直光圈；直径50mm~100mm、长约100mm的钢制圆管或厚壁管；支撑钢制圆管的三角架；外形尺寸大约为200mm×100mm、厚1mm或略厚些的铅板；一胶片处理装置：符合GB/T19802的具有均匀恒定亮度的观片灯；可读取密度D≥3.0的光学密度计，密度计的测量误差应为△D=0.01，输人光圈d；应为 2mm或更小。
-
圆柱形表面放置在射线束方向上形成边缘（图1）。使用直径50mm～100mm、长约100mm的常规钢制圆管或厚壁管，将厚度1mm或更厚的铅板围绕在圆管表面。
尽量避免散射。在射线管窗口前加装尺寸与胶片配合的准直光圈。 尽量不要使用额外的X射线预滤波。 焦点尺寸应在两个互相垂直的方向上测量。两个方向的测量如下进行： 1）第一次测量：射线管轴线应垂直于圆管边缘，将铅字L放在胶片上； 2）第二次测量：射线管轴线应平行于圆管边缘，将铅字W放在胶片上。 铅字的图像应位于底片的黑色部分。 胶片放置时应确保其长边始终垂直于圆管轴线，以便使边缘的不清晰图像在两种情况下都能横穿
胶片。
单位为毫米 +*
Y
一射线源/焦点；一边缘；
2
3——1mm铅板； 4——胶片。
图1测量焦点尺寸的布置
4.2距离和曝光时间的选择
根据图1，距离f和s分别代表射线源到边缘和边缘到胶片的距离，d。代表包裹了铅板的钢制圆管的直径。f和s之间的关系可由给定的标称焦点尺寸推导。s/f的值应大于或等于密度计输人光圈直径d：与焦点尺寸d。（由制造商提供）比值的10倍（见公式1）：
s/f≥10×d/d.
.(1)
注：如果距离s过大，密度计输入光圈直径d;宜降至1mm或更小。 比值f/d.应大于5。 例如，胶片到焦点距离（f+s)大约为2m时适于使用300kV/5mA的X射线管。 如果焦点尺寸的标称值未知，s和之间的关系需要以实验的方法获得：可采用边缘方法预先求出
2 GB/T 25758.42010
焦点尺寸。
完全曝光的底片光学密度应达到D=2.5士0.3。曝光时间应超过30s。 5焦点尺寸的测量和确定 5.1测量
可通过评估已处理底片上的密度分布图（图2）来测量u。 如果把底片分成不同密度的三个区域，分别为亮区、过渡区和暗区，则亮区和暗区的密度分布应尽
可能均匀，也就是没有明显的波动。如果在任一区域沿长度方向（沿底片的长度方向）的密度变化超过总对比度的2%，则有必要检查散射防护装置并进行重新曝光。
几何不清晰度u可通过底片上最暗区域和最亮区域密度的对比来获得。如果使用手持密度计，则密度应在观片灯的固定点上测量，此固定点为密度计的调零点。此时，应滑动底片而不是移动密度计。
在测量前后都应检查密度计的调零。防止出现偏移而需要重新测量。 首先应测量暗区和明区的总对比度，然后将总对比度的5%和95%的两点标记在底片上。两点间
的距离就是几何不清晰度u。
为了说明u的测量过程，图2显示了一个密度分布曲线，总对比度的5%和95%两点被标记在横坐标上。标记点对应的长度是u还是u，取决于X射线管轴线的方向。
焦点尺寸根据下式计算：
= ugtf/s w= uw f / s
(2 ) (3)
式中：
一焦点长度；焦点宽度；
1
f—一焦点和边缘的距离（见图1)；
边缘到胶片的距离。
3. 5
100% 95%
光 2.
学密
度
2. 0
1. 5F
50%
1. 0F
0. 5
5% 0%
19
60 mm
20
50
30
40
长度
图2底片密度分布及其评估示例
3 GB/T 25758.4—2010
5.2确定
采用射线管轴线方向上的长度I和垂直于X射线管轴线方向的宽度w来确定焦点尺寸。 所有尺寸中的较大值应作为焦点尺寸d。 如果尺寸I或w中的较大值超过射线管规范中给出的值d.，在使用射线管之前可采用另--种更精
确的焦点尺寸测量方法（示例见附录A）。
如果需要鉴定焦点尺寸，测量结果须满足GB/T25758.1规定的值，不确定度在士10%以内。
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