ICS 31.080 L 53
中华人民共和国国家标准
GB/T32872—2016
空间科学照明用LED筛选规范
Screening specifications for illumination LEDs in space sciences
2016-11-01实施
2016-08-29发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会 发布 GB/T32872—2016
目 次
前言 1 范围 2 规范性引用文件 3 总则
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筛选项目和程序筛选方法 5.1 外观检查 5.2 参数测量 5.3 恒定加速度 5.4 粒子碰撞噪声检测 5.5 密封性检查 5.6 高温存储 5.7 温度冲击 5.8 低温启动 5.9 温度循环 5.10 老炼· 5.11 参数终测参数测量和合格判定
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6.1 测量条件 6.2 测试参数 6.3 测试方法 6.4 合格判定附录A（资料性附录） 空间科学照明用LED筛选统计表 GB/T 32872—2016
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草本标准由全国空间科学及其应用标准化技术委员会（SAC/TC312)归口。 本标准起草单位：中国科学院上海技术物理研究所。 本标准主要起草人：张涛、章美敏、刘石神、顾建忠、袁士东、王晨飞。
1 GB/T32872—2016
空间科学照明用LED筛选规范
1范围
本标准规定了空间科学照明用LED(LightEmittingDiode)筛选项目和程序、筛选方法、参数测量和合格判定。
本标准适用于空间科学照明用额定功率1W和1W以上封装的单芯LED的筛选，其他功率级别的LED也可参照执行。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T24824一2009普通照明用LED模块测试方法 GJB128A—1997半导体分立器件试验方法 GJB4027军用电子元器件破坏性物理分析方法
3总则
3.1被筛选器件应按产品规范或技术协议的要求进行参数初测，合格的器件可参加筛选。筛选按规定的项目和程序进行，完成每个项目之后，剔除不合格产品。 3.2被筛选器件应逐个编号，并在每次测试时记录测试数据。筛选结束后，应编写筛选统计表，格式参见附录A，器件的参数测试数据可作为筛选报告的附件。 3.3测试如有异常，应记录异常的发生时间和器件编号。 3.4当筛选剔除率超过20%时，应判批次不合格。当出现功能失效时，应按照GJB4027进行失效分析，如属于材料或工艺因素的非偶然性失效也应判批次性不合格。
4筛选项目自和程序
筛选按表1规定的项目和程序进行，完成每个项目之后，剔除不合格产品。
表1筛选项目和程序
序号 1 2 3 4 5
筛选项目外观检查参数测量恒定加速度
筛选方法见5.1 见5.2 见5.3 见5.4 见5.5
粒子碰撞噪声检测(PIND)
密封性检查
1 GB/T 32872—2016
表1(续)
筛选方法见5.6 见5.7 见5.8 见5.9 见5.10 见5.1 见5.11
序号 6 7 8 9 10 11 12
筛选项目高温存储温度冲击低温启动温度循环老炼外观终检参数终测
5 筛选方法
5.1 外观检查
常温下，用10倍放大镜检查器件的外观质量，不得存在下列缺陷： a) 管壳和管脚锈蚀，根部有明显硬伤； b) 透镜破碎、有裂纹，或有气泡、异物； c) 标识不清； d) 变形、污损、划痕等外观缺陷。
5.2 参数测量
按6.1、6.2和6.3进行参数测量，所测参数应满足产品规范或技术协议的要求。 5.3 恒定加速度 5.3.1 筛选条件
筛选条件如下： a) 恒定加速度：196000m/s； b) 实验方向：Y1向（加速力方向平行于器件主轴，主基座的正方向）； c) 持续时间：1min。
5.3.2 筛选方法
将被筛选器件（不通电）安装于加速度试验架上，筛选方法按照GJB128A一1997方法2006的规定。 试验结束后，按6.4.2进行合格判定。
5.4 粒子碰撞噪声检测 5.4.1 筛选条件
在40Hz~250Hz下，峰值加速度为196m/s。 5.4.2 筛选方法
按GJB128A一19972052条件A进行，适用于空封器件，无空腔的器件可免做。
2 GB/T32872—2016
电点亮，持续30s），启动次数为10次，每次间隔时间为5min，启动时器件应能正常点亮。
试验结束剔除不合格器后，按6.4.2进行合格判定。 5.9 温度循环 5.9.1筛选条件
筛选条件如下： a) 高温温度：65℃士2℃； b) 低温温度：一40℃士2℃； c) 高温保持时间：2h； d) 低温保持时间：2h； e) 变温速率：不小于5℃/min； f) 循环次数：5次。
5.9.2 筛选方法
试验过程中器件通电工作，通电电流为Ip=Iom（Icm为LED实际使用中的额定工作电流）。 试验结束后，按6.4.2进行合格判定。
5.10 老炼 5.10.1 筛选条件
筛选条件如下： a) 温度：25℃士5℃； b) 老炼时间：240h； c) 恒流驱动电流：Ir=Iom
5.10.2 2筛选方法
器件通电工作，采用恒流驱动，使每个器件为I=Ipm，老炼时间为240h。 在筛选过程中应监测前向电压。 试验结束后，按6.4.2进行合格判定。
5.11 参数终测
所有试验完成后，按6.1、6.2和6.3进行参数终测，所测参数应满足产品规范或技术协议的要求。
6 参数测量和合格判定
6.1 测量条件
参数测量应在下列环境进行：
温度：25℃±1℃； b) 相对湿度：30%~65%； c) 气压：86kPa~106kPa; d) 测试应在稳定状态下进行，稳定状态为在15min内，光通量或光强变化小于0.5%。
a)
4 GB/T 32872—2016
6.2测试参数
主要测试参数如下： a) 正向电压Vr； b) 法向光强Iv; c) 反向漏电流IR; d) 反向击穿电压VR; e) 光谱； f) 色温； g) 显色指数； h) 光通量； i) 热阻。 根据使用要求可对测试参数进行删减。
6.3 测试方法 6.3.1 正向电压
将LED安装于散热结构上，通电电流为Ip=Iopm，待LED达到稳定状态后，记录壳温，测量LED 的正向电压Vr。 6.3.2 法向光强
将LED安装于散热结构上，通电电流为Ip=Iopm，待LED达到稳定状态后，记录壳温，测量LED 的法向光强Iv。 6.3.3 反向漏电流
施加5V的反向电压，测量器件此时反向漏电流IR，测量电路参见图1。
R
LED 本
?
说明： R 限流电阻； G - 电流计。
图1LED反向漏电流测量电路
6.3.4 反向击穿电压
用晶体管特性图示仪测量LED的反向击穿电压VR。 6.3.5 光谱
用光谱仪测量光谱。 6.3.6 光通量
按GB/T24824—2009的5.2测量光通量。
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