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JB/T 12464-2015 无损检测 机翼数字射线成像检测方法

资料类别:行业标准

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更新时间:2023-12-11 14:47:44



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内容简介

JB/T 12464-2015 无损检测 机翼数字射线成像检测方法 ICS 19.100 J04 备案号:51766—2015
JB
中华人民共和国机械行业标准
JB/T12464—2015
无损检测 机翼数字射线成像检测方法
Non-destructive testingTest method for digital radiographic testing of wings
2016-03-01实施
2015-10-10发布
中华人民共和国工业和信息化部发布 JB/T12464—2015
目 次
前言. 1 范围 2规范性引用文件 3术语和定义 4 安全防护 5环境.. 6人员.. 设备 7.1 X射线检测数字化成像系统 7.2 X射线源 7.3 平板探测器.. 7.4 图像处理软件. 7.5 亮度计... 7.6 像质计材料
II
8
8.1 数字射线图像记录介质 8.2 屏蔽材料 8.3 胶带 9 检测要求 9.1 系统对比分辨率. 9.2 系统空间分辨力... 9.3 图像成像系统测试.. 9.4 工件准备.. 9.5 一般要求.. 9.6 检测工艺文件要求 9.7 数字射线图像读取 9.8 数字射线图像的记录 9.9 检验溯源 9.10 检验图像存储. 参考文献
6
C
10
图1 空间分辨力测量的工艺试验图2 复合材料结构机翼透照方向示意图图3 金属结构机翼透照方向示意图
表1 平板探测器性能表2 线响应值百分比.
- JB/T12464—2015
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)归口。 本标准起草单位:中国商用飞机有限责任公司上海飞机设计研究院、上海暨懋科技有限公司、上海
泰司检测科技有限公司。
本标准主要起草人:冯剑飞、李明仁、王海、章怡明。 本标准为首次发布。
I JB/T12464—2015
无损检测机翼数字射线成像检测方法
1范围
本标准规定了使用平板探测器对飞机机翼进行X射线数字成像检测的一般要求。 本标准适用于检测飞机机翼金属结构的疲劳裂纹,复合材料结构的裂纹、蜂窝压塌、蜂窝积水等损
伤,以及机翼装配后翼盒内多余物和装配正确性。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T12604.2无损检测术语射线照相检测 MH/T3001航空器无损检测人员资格鉴定与认证 JB/T7902无损检测线型像质计通用规范
3术语和定义
GB/T12604.2界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
亮度计luminancephotometer 辐射计和探头的结合体,用于测量投射在一个给定方向上每单位面积的发光强度。
3.2
亮度范围luminancerange 显示器亮度值的范围,包括最小亮度到最大亮度。
3.3
数字驱动水平digitaldrivinglevel DDL 对于计算机图形显示板,指与特定黑白灰度水平对应的数值。从一个特定的DDL能“导出”一个
特定的可见光灰度级。例如,8位显示器的DDL取从0~254共255个值,10位显示器的DDL取从0~ 1023共1024个值。 3.4
数字检测器响应值digitaldetectorresponse DDR 针对基于计算机的固态检测器系统,存储在计算机中并且和一个特定X射线曝光量对应的数值。
系统统计程序包提供DDR结果。当光标定位在所讨论的特定像素上时,该像素的DDR值通常呈现在显示屏上。对于位元深度为10的系统,DDR取0~1023共1024个值;对于位元深度为12的系统, DDR可以取0~4095共4096个值;对于位元深度为16的系统,DDR可以取0~65535共65536个值。
1 JB/T124642015
3.5
窗window 对于一个固态检测器系统来说,由计算机显示软件实现的调整来控制图像特征中的对比度和光亮
度。窗以窗宽和窗位为特征。 3.6
窗位windowlevel 在正显示极性下,提高窗位能以舒适的光亮度观看图像的较亮部分,而降低窗位能以舒适的光亮度
观看图像的较暗部分。窗位的度量单位同DDR。正显示极性表示具有较大X射线强度的区域位于图像的较亮部分。 3.7
窗宽windowwidth 减小窗宽能提高显示对比度,而增大窗宽带来相反效果。窗宽的度量单位同DDR。
3.8
动态范围dynamicrange 在线性输出段范围,X射线数字成像系统可采集最大灰度值与最小灰度值之差与暗场图像标准差的
比值。 3.9
空间分辨力spatialresolution 系统所能分辨的两个相邻细节间的最小距离。用lp/mm表示,即每毫米可分辨的黑白(明暗)线
对数(一黑一白称为一个线对)。 3.10
信噪比signalnoiseratio 缺陷信号与背景噪声的比值。
4安全防护
4.1射线源管理和辐射防护应符合国家相关法律法规的要求。 4.2在外场或机库进行数字X射线成像检测时,应划定控制区和管理区,设置警告标志,检测作业人员应佩戴个人辐射剂量计,并携带剂量报警仪。
5环境
图像观察设备应避免光源直接照射到显示系统上,必要的话可配置室内调光器或者亮度控制器,使得光照亮度不影响现场图像评片。
6人员
6.1从事数字X射线成像检测的人员,应按MH/T3001体系进行资格鉴定与认证,取得专项资格方可进行相应项目的检测工作。 6.2检测人员应了解与数字X射线成像技术相关的计算机知识、数字图像处理知识,掌握相应的计算机基本操作方法。
2 JB/T12464—2015
7设备
7.1X射线检测数字化成像系统
X射线检测数字化成像系统由X射线源、平板探测器和图像处理软件组成,并满足下述要求。 7.2 X射线源
电压:20kV~160kV连续可调,且纹波电压为土0V。 焦点尺寸:不大于0.5mm×0.7mm。 电流:0.1mA~2mA连续可调。
7.3 平板探测器
平板探测器应满足表1所列最低要求。
表1 平板探测器性能
参 数非晶硅 GOS/CsI
规 格平板类型闪烁体材料成像面积像素阵列分辨力灰度级对比度分辨率实时成像能量响应范围 PC接口
410mm×410mm 2 048X2 048
200 μm 14 bit/16 bit
≤1.0%(15mm钢)
4帧/s 20 keV~15 MeV 吉网线/WiFi
7.4 图像处理软件
7.4.1 图像处理软件应具有以下功能:
a)能够评估单个像素响应功能,并且具备隔离像素的方式,该像素的响应值能接近面板的平均值,
运行不良像素的响应应与面板平均响应值明显不同; b) 根据制造商推荐的门槛值,能够选择运行不良的像素; c)具备生成损坏像素图谱的功能; d)具备调整单个像素增益/补偿设置来得到最理想的像素响应校准方法 e)能够识别损坏像素的最近邻值; f)具备提供被选中评定区域内的像素平均值和标准偏差的功能: g)能识别坏像素、坏簇和坏线的位置和大小; h)能够将损坏的像素产生明显不同的图像。
7.4.2图像处理和存储功能应满足以下要求:
a)线轮廓功能: b)柱状功能,可提供任意评定区域的图像统计: c)窗口和水平调整功能;
3 JB/T12464—2015
100%
75%
50%
25%
线响应值=100(X/Y)
lp/mm值 A c
线对ID 小编号线大编号线
线响应值-百分比
B D
图1空间分辨力测量的工艺试验
9.2.5记录线编号ID和相关的1p/mm值,使用图1中的表,将图中X和Y的对应数值填写在表中C 和D的位置。 9.2.6使用线轮廊函数,在5个等间隔位置,沿线对测量响应值。针对每个线对,计算5个响应值的平均值,并将平均值作为“线响应值百分比”记录在表2中,将表2中ID和lp/mm对应数值填写在图 1表中A和B的位置。
注:测量线和线对方向应始终成90°。
表2线响应值百分比
Ip/mm 3.13 3.85 5.00 6.25 7.69 10.00
线对ID 8D 9D 10D 11D 12D 13D
线对ID 1D 2D 3D 4D 5D 6D 7D
Ip/mm 0.63 0.79 1.00 1.25 1.56 2.00 2.50
9.2.7 使用图1表中数据,根据以下公式进行计算,以确定空间分辨力结果:
A+(B 25)(C - A)
lp/mm=
(B- D)
9.2.8 空间分辨力的计算结果与鉴定中得到的值的偏差不应超过20%。 9.2.91 如果试验失败,则应在检验前采取纠正措施。 9.3图像成像系统测试 9.3.1在实现每次移动或进行生产检验前,使用SMPTERP133测试图,系统操作人员应目视验证处理产品时使用的每个监控器的以下各项:
5
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