ICS33.100;17.220 N 10
中华人民共和国国家标准
GB/T25471—2010
电磁屏蔽涂料的屏蔽效能测量方法
Measuring methods for electromagnetic shielding effectiveness of coating
2011-05-01实施
2010-12-01发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
发布 GB/T25471—2010
次
目
前言 1 范围
规范性引用文件术语和定义
2 3 4 概述 5
-
测试设备 5. 1 信号源 5.2 测量接收机 5.3 法兰同轴测试装置 5.4 频谱分析仪 5.5 网络分析仪 5.6 衰减器 5.7 电缆及连接器 5.8 功率放大器
测试样本（简称：试样），试验方法
6
7
7. 1 概述 7.2 信号源（跟踪信号源）/接收机测量方法 7. 3 信号源（跟踪信号源）/频谱分析仪测量方法 7.4 网络分析仪测量方法 8 测量程序 8.1 仪器准备 8.2试验过程 9 报告附录A（资料性附录） 法兰同轴测试装置 A.1法兰同轴测试装置部件及装配图 A.2试样装载的过程参考文献
福
图1法兰同轴测试装置图2参考试样和负载试样示意图图3 参考试样和负载试样尺寸图4 信号源（跟踪信号源）/接收机法测量连接图图5信号源（跟踪信号源）/频谱分析仪法测量连接图图6网络分析仪法测量连接图
图A.1部件A，中心导体的锥形部件图A.2部件B，在外部同轴线腔体上的压力环 GB/T25471—2010 图 A.3 部件C，中心导体的径向部件图A.4 部件D，中心导体的压力片图A.5 部件E，中心导体的支撑片图A.6 部件F，外部同轴线腔体的边缘部件图A.7 部件G，外部同轴线腔体的锥形部件.. 图A.8 装配图图A.9 局部装配图
0
10 11 11 12 GB/T25471—2010
前言
本标准的附录A为资料性附录。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国工业过程测量和控制标准化技术委员会（SAC/TC124)归口。 本标准负责起草单位：上海工业自动化仪表研究所。 本标准参加起草单位：上海仪器仪表自控系统检验测试所、上海出人境检验检疫局、上海材料研究
所、上海贝尔阿尔卡特股份有限公司。
本标准主要起草人：徐建平、王英、洪济晔、张娴、李明华、陈楠、马颖琦、张顺达。 GB/T25471—2010
电磁屏蔽涂料的屏蔽效能测量方法
1 范围
本标准规定了平板型电磁屏蔽涂料对于平面电磁波屏蔽效能的测量方法。 本标准规定了以下几项：
测试设备；测试样本；测量方法；测量程序。
本标准适用于电磁屏蔽涂料对于平面电磁波屏蔽效能的测量，也适用于具有电磁屏蔽作用的涂层、 镀层和导电薄膜等平板材料的屏蔽效能的测量。
本标准规定的试验方法不适用于电缆或连接器。 本标准的目的是制定一个具有共同性和重复性的基本测量方法，以评价平板型电磁屏蔽涂料的屏
蔽效能。 2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
GB/T4365—2003电工术语电磁兼容（IEC60050(161)：1990+A11997+A21998，IDT) GB/T6113.101无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第1-1部分：无线电骚扰和抗
扰度测量设备测量设备（GB/T6113.101—2008，CISPR16-1-12006，IDT)
IEC61000-4-3：2008电磁兼容第4-3部分：试验和测量技术-射频电磁场辐射抗扰度试验 3术语和定义
GB/T4365一2003确立的以及下列术语和定义适用于本标准。
3.1
屏蔽效能shielding effectivenessSE 在同一激励电平下，无屏蔽涂料与有屏蔽涂料时所接收到的功率或电压之比，并以对数表示。即：
SE =201g(V) SE =101g(P:)
/Vo
....(1)
·(2)
式中： SE- 屏蔽效能，dB V。 -无屏蔽涂料时的接收电压； Vi 有屏蔽涂料时的接收电压； P。 无屏蔽涂料时的接收功率； P1 有屏蔽涂料时的接收功率。 注：按照ATSMD4935，屏蔽效能为在有屏蔽涂料的情况下接收到的值比无屏蔽涂料的情况接受到的值取对数，所
- - -
-
- -
以屏蔽效能是一个负值。
1 GB/T25471—2010
3.2
电薄electricallythin 样本的厚度远小于(<1/100)样本的导电波长。
3.3
远场 farfield 在这个区域，E场和H场相互垂直正交并且与传播方向也垂直。
3.4
近场nearfield 在这个区域，E场和H场之间没有简单的规律。 注：近场和远场间的转换区域不是突变的，大约在偶极子信号源的入/2元距离，指这个信号源在某个顺率上自由空
间的波长。由于远离源的物体的反射物质的散射引起的再辐射，这个区域的概念就更加模糊。 动态范围dynamicrangebR 本系统所测得最大最小信号间的差
3.5
4概述
本标准规定的测量 法的有效频率范围为30MHz到 CHZ 本标准的测试方法是基于法兰同轴测试装置的尺寸 颖段由于容 性耦合降低而导致位移电流衰减和 和在高频段 的多模振荡（模激励而非横电磁波模)的
可选取此频率范围内任意数量的离散频率 百 进行测量。 对于电性能（如电导不随频率变化的各向同性的电薄，由 办屏 蔽效能不随 颖率 套化可能只须在
率、介电常数和磁几个频率点进行测量。 如果材料不 电薄或材料的任何参数随频 变化，则在所关注的频带内须在多个频率点进行测量口
a5
本标准规定的测量方法适用于型电磁屏蔽涂料的无药教能测量。
（电场和磁场与材料表面相切）的平板
直人射的平面波条
本标准规定的测 法适用于 测量山手 反射和吸收通 正的屏蔽效能测量 5 测试设备 5.1信号源
会
频率范围：30MHz 源阻抗：50Q；最大输出功率：≥十13dBR 信号源电压驻波比：<2.0
Y
5.2测量接收机
频率范围：30MHz~1.5GHz；输入阻抗：50Q；电压驻波比：<2.0；测量接收机测量误差：满足GB6113.101的要求。 可选择带跟踪信号源的测量接收机，跟踪信号源应满足5.1的要求
5.3法兰同轴测试装置
频率范围：5kHz1.5GHz；特性阻抗：50Q；电压驻波比：<1.2（注：法兰同轴测试装置无试样的特性阻抗）；传输损耗：<1dB；
2 GB/T25471—2010
测量动态范围：>100dB。 法兰同轴测试装置结构示意图见图1。
一同轴连接器； 2——连接器紧固螺栓；
-
一锥形同轴线腔体。
3
图1法兰同轴测试装置
5.4频谱分析仪
频率范围：30MHz~1.5GHz; 频谱分析仪最小分辨率带宽：1kHz；频谱分析仪灵敏度：满足GB6113.101的要求；特性阻抗：50Q。 可选择带跟踪信号源的频谱分析仪，跟踪信号源应满足5.1的要求。
5.5网络分析仪
频率范围：30MHz~1.5GHz；时基稳定度：±3ppm/a；频率分辨率：1kHz；特性阻抗：50Q；电压驻波比：<2.0。
5.6衰减器
频率范围：30MHz~1.5GHz；特性阻抗：502； 10dB固定衰减器（额定功率满足测试要求）；驻波比：<1.2。
5.7电缆及连接器
特性阻抗：50Q；连接器：N型。 注：双层屏蔽电缆的泄漏低于单层屏蔽电缆。N型连接器比BNC连接器的可靠性高，泄漏少。在大量的使用中
14mm精密连接器有较低的失配误差，比其他连接器更可靠。
5.8功率放大器
在需要较大动态范围时，可以选用功率放大器。功率放大器应符合IEC61000-4-3：2008的要求。 频率范围：30MHz~1.5GHz；特性阻抗：50Q；谐波和失真：应比功率电平至少低15dB。
6测试样本（简称：试样）
试样分参考试样和负载试样，试样由涂料涂层和基底组成。参考试样和负载试样的基底以及涂料
3 GB/T254712010
涂层应是同样的材料和厚度，两者的示意图如图2所示，尺寸如图3所示。负载试样可以比支架法兰的外径大，但是其尺寸和图3的规定保持一致可以加速处理。
XXXX
参考试样图2参考试样和负载试样示意图
负载试样
5.08×4
e 6
参考试样图3参考试样和负载试样尺寸
负载试样
试样厚度是一个非常关键的尺寸，最大厚度<5mm。为了确保屏蔽效能测量结果的可复现性，参考试样和负载试样必须具有相同的厚度。在本试验方法中，如果参考试样和负载试样的平均厚度差小于25μm，并且两个样本的厚度变化均小于平均值的5%，则认为厚度相同。
试样的材料可以是匀质的或者非匀质的，单层或多层的，导电或绝缘的。非匀质材料的屏蔽效能值取决于几何形状和方向性，其结果比匀质材料的可复现性差。
试样须在23℃土2℃和50%土5%相对湿度环境条件下放置48h。试样预处理结束后应立即取出，并进行测试。 7试验方法 7.1概述
用法兰同轴测试装置对涂料的屏蔽效能进行测量时，常用的测量方法有：信号源（跟踪信号源）/接收机测量方法、信号源（跟踪信号源）/频谱分析仪测量方法、网络分析仪测量方法。
本试验规定的方法中，所用测量设备的核心部分是5.3定义的法兰同轴测试装置。 7.2信号源（跟踪信号源）/接收机测量方法
按图4连接测量装置，将满足本标准5.1和5.2要求的信号源通过10dB衰减器直接接人该装置的一端，该装置的另一端直接通过10dB衰减器与接收机相连接，10dB衰减器应尽量靠近同轴端口。 测量时注意测量电缆应尽量的短。 4