ICS 81.060.30 Q 32 备案号：30043-2011
JC
中华人民共和国建材行业标准
JC/T2026—-2010
脉冲X射线激发闪烁体荧光衰减时间测试方法
Test method for fluorescent decay time of scintillators excited by pulsed X-ray
2011-03-01实施
2010-11-22发布
中华人民共和国工业和信息化部发布 JC/T 20262010
前 言
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。 本标准由中国建筑材料联合会提出。 本标准由全国工业陶瓷标准化技术委员会(SAC/TC194)归口。 本标准起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所。 本标准起草人：陈昊鸿、赵景泰。 本标准为首次制定。
I JC/T2026--2010
脉冲X射线激发闪烁体荧光衰减时间测试方法
1范围
本标准规定了室温下用脉冲X射线作为激发源测试闪烁体荧光衰减时间测试方法的术语和定义、 方法提要、试验装置、测试样品、测试样品预处理和闪烁对荧光衰减时间测试等内容。
本标准适用于固体闪烁体的荧光装减时间测试，固体闪烁体形态包括薄膜、块体和粉末。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注目期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T13181—2002闪烁体性能测量方法 GB16348一1996X线诊断中受检者放射卫生防护标准 GB16355—1996X射线衍射仪和荧光分析仪放射卫生防护标准
3术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。
3. 1
闪烁体(闪烁材料) scintillator 闪烁体是能吸收高能粒子和电磁波，并发射可见光等低能电磁波的物质。
3. 2
闪烁体的发射光谱 emission spectrum of scintillator 闪烁体发射的光子数随光子的能量或波长而变化的分布曲线。
3. 3
闪烁体荧光衰减时间 luminescent decay time of scintillator 闪烁体受单次激发后，发射光子强度下降到其初始值的1/e所需的时间。在同样测试条件下，闪烁
体荧光衰减时间不随其体积或者重量变化而改变，是一个常数，实际测试中以多次测量结果的平均值表示。 3. 4
脉冲X射线 pulsed X-ray 强度周期性变化的X射线，适用于闪烁体荧光衰减时间测试的X射线脉冲宽度属于皮秒级别。
3. 5
超快闪烁 ultrafast scintillation 闪烁衰减时间小于3纳秒。
3. 6
强度-时间曲线 spectrumofintensitydependedontime 闪烁体激发停止后，发射光子数目随时间变化的仙线，
4方法提要
基于时间关联单光子计数原理，脉冲信号发生器同时产生两路信号，一路直接进入时幅变换器作为
单次记录的起始信号，另一路驱动脉冲X一射线光源激发闪烁样品发射荧光，其单光子信号由光电倍增
- JC/T2026—2010 管记录，所输出的电脉冲作为该次记录的结束信号，完成一次单光子时间分辨取样。由多次测试所得的几率分布可得到闪烁体全色荧光的强度随时间变化曲线，然后通过解卷积和最小二乘拟合技术获得各发射光组分的衰减时间。测试原理如图1所示。
荧光探测系统
冲X射线光透
脉冲控制信号
林冲信号发生系统
发时间分析结
图1脉冲×射线激发闪烁体荧光衰减时间测试原理示意图
试验装置 5.1装置组成
试验装置包括脉冲X射线发生器、超快荧光探测器、控制及记录系统、几何光路系统、样品放置机构五个部分及附带参考样品 5.2装置安全使用要求 5.2.1试验装置符合防辐射的GB16348-1996和GB16355-1996标准 5.2.2试验装置使用环境满足GB/T13181-2002标准第四部分中的规定
参考样品应标明衰减时间标准值和正常测试条件。 润工宽题千光课然·录就婚为单受术机 5.4装置稳定性要求
在符合5.2.2规定的使用环境中，试验装置必须能实现对所提供参考样品的测试，并且结果符合如下要求： 5.4.1图谱拟合结果相关度大于99.9%，所得衰减时间与标准数值的相对误差满足：当衰减时间小于或等于100ns时，相对误差小于15%；当衰减时间大于100ns时，相对误差小于10%。期围 5.4.2等于或高于三次重复测量时，衰减时间各次结果数值与平均值之间的相对误差满足：当衰减时间小于或等于100ns时，相对误差小于10%；当衰减时间大于100ns时，相对误差小于5%。
雅
6测试样品 6.1总体要求
测试样品受辐照后不能产生有害物质和挥发性气体，样品表面无污染棉 6.2特殊要求
薄膜试样的基体物理化学性能稳定，并且在X射线及闪烁材料发射荧光作用下无发光现象
测试样品预处理
光式 JC/T2026—2010
HOS aso 7.2.粉末样品预处理
7.1块状样品预处理
块状样品切割成合适尺寸，表面应平整。
粉末样品研磨到合适颗粒度,制成薄片进行测试,薄片厚度应大于辐照长度。业标准在测试环境中物理化学性质不稳定的样品应预先进行表面钝化处理或者借助具有情性环境的样品室进行测试，并进行空白校正。
7.3物理化学性质不稳定样品预处理
JC/T20262010
闪烁体荧光衰减时间测试 8.1测试步骤 8.1.1仪器初始化。 8.1.2放置参考样品，启动仪器，记录强度-时间曲线。 8.1.3放置试样，启动仪器，记录强度-时间曲线。 8.1.4 试样全部测试完毕后，再测一次参考样品的强度-时间曲线。 8.15关闭仪器 8.2荧光衰减时间计算 8.2.1对所得强度一时间曲线进行解卷积，扣除仪器响应分布曲线，得到闪烁体的真实荧光衰减曲线。 8.2.2按式（1），拟合闪烁体荧光衰减曲线，同时计算相关度因子、偏差等。拟合结果应满足相关度大于99.9%
9
I(t)-
TA
(1
式中：
衰减时间，单位为纳秒（ns）；经过模数转换由计算机记录的强度一时间曲线的发光强度；时间，单位为纳秒（ns）；各发射光组分的序号，取值为1，2，3，，n等自然数分项常数（正比于激发停止瞬间各发射光组分的光强），以下标区别
P
8.2.3两次参考样品测试结果应符合5.4.1条规定的要求
2011-03-01实施
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日费电
人民共和国工业和信息化部 发 布