您当前的位置:首页>行业标准>GB/T 12085.5-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分:低温、低气压综合试验

GB/T 12085.5-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分:低温、低气压综合试验

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

文件大小:0 KB

资料语言:中文

更新时间:2023-12-08 09:51:44



推荐标签: 低温 环境 光学 方法 气压 试验 光学仪器 部分 综合 综合 12085

内容简介

GB/T 12085.5-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分:低温、低气压综合试验 ICS 37. 020 N 30
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T12085.5—2010 代替GB/T12085.5—1989
光学和光学仪器 环境试验方法第5部分:低温、低气压综合试验
Opticsand opticalinstruments-Environmentaltestmethods-
Part5:Combined cold,lowairpressure
(ISO9022-5.1994,MOD)
2011-05-01实施
2011-01-14发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会 发布 GB/T12085.5——2010
前言
GB/T12085《光学和光学仪器环境试验方法》分为以下16个部分:
第1部分:术语、试验范围;第2部分:低温、高温、湿热;第3部分:机械作用力;第4部分:盐雾; -第5部分:低温、低气压综合试验;第6部分:砂尘;一第7部分:滴水、淋雨;第8部分:高压、低压、浸没;第9部分:太阳辐射; -第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验;第11部分:长霉;第12部分:污染;一第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验;第14部分:露、霜、冰;第15部分:宽带随机振动(数字控制)与高温、低温综合试验; -第16部分:弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验。
-
本部分为GB/T12085的第5部分。 本部分修改采用ISO9022-5:1994《光学和光学仪器环境试验方法第5部分:低温、低气压综
合试验》。
本部分与ISO9022-5:1994的主要差异如下:
删除国际标准的序言和前言;根据ISO9022-5第1章及我国标准用语习惯对标准范围作了重新编写; “国际标准本部分”一词改为“本部分”。
本部分代替GB/T12085.5-1989《光学和光学仪器 环境试验方法 低温、低气压综合试验》,与 GB/T12085.5-—1989的主要差异为:
修改了标准名称;合并了范围与试验目的;增加了环境试验的标记名称,修改了相应标准号的编写;增加了附录A的总则及两种条件试验方法的说明。
本部分的附录A为资料性附录。 本部分由中国机械工业联合会提出。 全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC103)归口。 本部分起草单位:宁波永新光学股份有限公司、上海理工大学。 本部分主要起草人:曾丽珠、章慧贤、冯琼辉、杜群锋。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
GB/T12085.5—1989。
T GB/T12085.5—2010
光学和光学仪器环境试验方法第5部分:低温、低气压综合试验
1范围
本部分规定了低温与低气压综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于在高山地区或飞机仪表盘上或导弹上使用的光学仪器、装有光学零部件的仪器和光
学零部件。
本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电学等特性受到低温与低气压影响的变化程度,包括测定水的冷凝和冻结对仪器或零部件的附加影响。 2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T12085的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T12085.1光学和光学仪器环境试验方法第1部分:术语、试验范围(GB/T12085.1- 2010,ISO9022-1:1994,MOD) 3试验条件 3.1试验箱(室)必须是空气流通的低气压或是高空模拟试验箱(室),它可以是低温、低气压的综合试验箱(室),也可将低气压箱放在低温室中。试验箱(室)的大小及试样安放的位置,应能保证所有试样都处于均匀的环境条件下。 3.2在试验箱(室)内,试样需先达到规定的试验温度,然后再把箱内压力降到有关标准的规定值。 3.3按条件试验方法51(见4.2)进行试验时,在升压期间,可用高纯氮气或对试样辐射加热方法,避免试样上产生结霜和凝露。 3.4试验箱(室)内的温度和气压的变化应缓慢进行,以免引起试样的损坏。 3.5试样的各个部分都达到试验箱(室)的温度士3℃之内和气压达到规定值时暴露周期开始。散热试样应冷却到试验温度,在温度稳定的试验箱(室)中试样的温度变化在1h内不大于士1℃时,开始降低气压。在降压过程中,允许试样自身发热,直到试验压力达到规定值时作为暴露时间开始。暴露结束后压力和温度的升高同时开始,箱(室)内空气和试样的温度都应测量。温度传感器在试样上的位置应在有关标准中规定,用来测量箱(室)内空气温度的温度传感器的位置应在试验报告中说明。 3.6按条件试验方法50进行试验后,试样在压力升高过程中产生结霜和凝露的方法应在相关标准中规定,可在下述方法中选用:
a)在低气压条件下凝露的形成在温度为一20℃~一10℃范围内和气压为40kPa以上的低气压范围内,在加热过程中将水蒸气
注入试验箱(室)内。
b)在标准环境压力条件下凝露的形成在加热期间,试验室内的压力调到标准的环境压力,而温度仍保持在一20℃~一10℃之间,由于
低温使水分凝结在试样上。
1 GB/T12085.5—2010
条件试验 4.1 条件试验方法50:包括霜和露的低温、低气压综合试验
4
条件试验方法50包括霜和露的低温、低气压综合试验的严酷等级按表1。 4.2 条件试验方法51:不包括霜和露的低温、低气压综合试验
条件试验方法51不包括霜和露的低温、低气压的综合试验的严等级按表1中01、02、03、04、06、 07的规定。
表 1 02
严酷等级试验箱(室)温度/℃
01 25±3 —40±3 ~25±3 -40±3 65±3 25±3 40±3 65±3
03
04
05
06
07
08
kPa ~海拔高度"/m
60±3 3·500 最大5
8.5±1 16 000 最大20
1±0.5 31 000 最大40
气压*
气压升高或降低所需时间/min
分别加热或冷却期间的平均温度变化率/℃/min
0.2~2
暴露时间/h 工作状态
4 1或2
基于恶劣气候条件的数据。
8
5试验程序
条件试验方法50的试验程序参见附录A。 6环境试验标记
环境试验标记应符合GB/T12085.1的规定。 示例:光学仪器抗低温、低气压综合试验,环境试验条件方法51、严酷等级01、工作状态1的标记为:
环境试验GB/T12085-51-01-1。
有关标准应包括的内容 a) 环境试验标记; b) 试样数量; c) 条件试验方法50结霜的起始时间和产生方法; d) 温度传感器在试样上的位置; e) 预处理; f) 初始检测的内容和范围; g) 工作状态2工作周期的确定; h) 工作状态2中间检测的内容和范围; i) 恢复; j) 最后检测的内容和范围; k) 评价判据; 1) 试验报告的内容和范围。
7
2 GB/T12085.5—2010
附录A (资料性附录)
条件试验方法50试验程序示例
A.1总则
本部分表述了以低温、低压两种不同环境影响因素为特点的暴露试验方法。条件试验51仅要求低温与低压试验,条件试验50还包括了霜和露的试验。
条件试验51模拟在温、湿度变化缓慢的山区环境中操作和运输仪器的情况。在飞机的机舱或货物
仓内的环境也与此类似,几乎不存在气压平衡。在这样的环境中,可以认为不存在霜和露的影响。但是,若是装在飞机外部的光学仪器,其不仅受低温、低压的干扰,也受到环境湿度的影响,即霜和露的影响。
当降低飞机或导弹发射结构时,周围空气的温度或压强会上升,空气中的水蒸气的温度高于仪器表面温度,就会在仪器表面甚至不密封的仪器内部形成霜和露。融化的霜和露会逐渐从外部渗透到仪器内部,如果水分渗漏或者仪器通风不充分,水分会在仪器内部聚积而影响仪器性能。
条件试验51要求的暴露条件,可以通过在装有降温和空气循环装置的低压试验箱(室)中模拟得到。如果要求进行条件试验50所要求的低压下霜的暴露试验,则试验箱内应安装低温、低压条件下喷射水枪或水雾的装置。且要求喷射人口在试样附近。按上述试验箱的条件试验方法50见A.2。 A.2条件试验50示例 A.2.1暴露时间结束时,在加热过程中,将试验箱温度调节到20℃~一10℃之间。 A.2.2让试样温度稳定在这一温度范围内。 A.2.3将试验箱中的气压调至40kPa~60kPa之间。 A.2.4在靠近试样的地方将水蒸气或雾通过个有良好隔热性能的软管和漏斗喷入试验箱(室)中直至试样上有明显的结霜为止。 A.2.5然后,尽快将试验箱(室)温度在恒定压力下升高到2℃左右,并保持此温度,直到温湿度计指示一个确定值为止,这个保温时间取决于加湿器的类型。湿度控制器通常在试验箱(室)内的罩壳式加湿器解冻后开始工作,箱内相对湿度必须保持在95%以上,以防在继续加热过程中冷凝水分被挥发干。 A.2.6当湿度控制器开始工作,相对湿度达到95%以上,试验箱(室)温度便尽快地以恒压和恒湿调节到大气环境条件,直至试样上的霜完全变成水为止。 A.2.7在达到大气环境条件后,将试验箱(室)的气压逐渐调到环境大气压,试验箱(室)内的湿度继续保持在95%以上。 A.2.8应注意除散热元件外,试样上需保持湿润,以免在中间检测中发生干滴。 8
中华人民共和 国
国家标准
光学和光学仪器 环境试验方法第5部分:低温、低气压综合试验
GB/T12085.5—2010
*
中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号
邮政编码:100045 网址www.spc.net.cn 电话:6852394668517548
中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷
各地新华书店经销
*
开本880×12301/16印张0.5字数7千字 2011年5月第一版 2011年5月第一次印刷
*
书号:155066·1-42749定价 14.00元
如有印装差错 告由本社发行中心调换
版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533
GB/T12085.5-2010
打印日期:2011年6月28日F008A00
上一章:GB/T 25845-2010 工业用γ射线料位计 下一章:GB/T 14078-2010 氦氖激光器技术条件

相关文章

GB/T 12085.10-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验 GB/T 12085.13-2010 光学和光学仪器环境试验方法第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验 GB/T 12085.15-2010 光学和光学仪器环境试验方法第15部分:宽带随机振动(数字控制)与高温、低温综合试验 GB/T 12085.16-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第16部分:弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验 GB/T 2423.63-2019 环境试验第2部分:试验方法试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(混合模式)综合 GB/T 12085.23-2022 光学和光子学 环境试验方法 第23部分:低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验 GB/T 12085.22-2022 光学和光子学 环境试验方法 第22部分:低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验 GB/T 12085.2-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热