ICS 77.150.30 H 62
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T26044—2010
信号传输用单晶圆铜线及其线坏
Single crystal round copper wire and drawing stock for signal transmission
2011-01-10发布
2011-10-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会 发布 GB/T 26044--2010
前 言
本标准由中国有色金属工业协会提出。 本标准由全国有色金属标准化技术委员会归口。 本标准由焦作市森格高新材料有限责任公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所负责起草本标准由兰州理工大学参加起草本标准主要起草人：封存利、刘光林、丁雨田、武国旗、古思红、胡勇、杨丽娟、赵永善、赵军锋。
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I GB/T26044—2010
信号传输用单晶圆铜线及其线坏
1 范围
本标准规定了信号传输用单晶圆铜线及其线坏的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、购
存、质量证明书和合同（或订货单）内容。
本标准适用于采用热型连铸技术所生产的圆形横截面单晶圆铜线坏及其制成的单晶圆铜线。 2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有
的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
GB/T3048.2电线电缆电性能试验方法第2部分：金属材料电阻率试验 GB/T3952电工用铜线坏 GB/T3953电工圆铜线 GB/T4909.2裸电线试验方法第2部分：尺寸测量 GB/T 4909.3 裸电线试验方法第3部分：拉力试验 GB/T4909.4 裸电线试验方法第4部分：扭转试验 GB/T5121（所有部分）铜及铜合金化学分析方法 YS/T448铜及铜合金铸造和加工制品宏观组织检验方法
3术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。
3. 1
单晶圆铜线坏Thesinglecrystalroundcopperdrawingstock 采用热型连铸技术生产的圆形横截面线坏，且任一圆形横截面内所含有的晶粒数不超过10个的铜线坏。
3. 2
单晶圆铜线Thesinglecrystalroundcopperwire 采用单晶圆铜线坏进步深加工制成的圆铜线材。
4要求 4.1产品分类 4.1.1牌号、状态、规格
单晶圆铜线及其线坏按化学成分分为两个牌号。其牌号、状态、规格应符合表1的规定：
表1单晶圆铜线及其线坏的牌号、状态、规格牌号
直径/ mm >3.0~30.0 0.070~3.0 0.070~12.0
状态铸(Z) 软(R) 硬(Y)
名称单晶圆铜线坏单晶钢线注：软态(R)为铜线的低温退火状态。
TU1,TU2 TU1,TU2
1 GB/T26044--2010
4.1.2标记示例
标记示例按牌号、状态、直径和标准号的顺序表示，标记示例如下：示例1：牌号为TU1，铸态，直径为8.0mm的单晶圆铜线坏标记为：
单晶圆铜线坏TU1Z$8.0GB/T26044--2010
示例2：牌号为TU2，硬态，直径为0.12mm的单晶圆铜线标记为：
单晶圆铜线TU2Y$0.12GB/T26044--2010
4.2化学成分 4.2.1单晶圆铜线及其线化学成分应符合表2和表3的规定。
表2TU1牌号的化学成分
元素组
杂质元素
含址/%，不大于
杂质元素组总含量/%，不大于 0.00030
Se Te Bi Cr Mn Sb Cd As P Pb s Sn Ni Fe Si Zn Co Ag
0.000 20 0.000 20 0.00020
0.000 3
1
0.000 4
0.001 5
2
0. 000 5
-
0.000 5 0. 001 5
0.000 5 0.001 5
3 4
0.001 0
S
0.002 0
6
0.002 5
0.002 5
杂质元素总含量
0.006 5
注1：TU1牌号的主成分为Cu，其含量为100%减去表中杂质元素的实测值之和。 注2：TU1牌号的氧含量应不大于0.0010%。
表3TU2牌号的化学成分
Cu+Ag 不小于 99.95 0.0015 0.001 5 0.0006 0,002 5 0.002 0.001 0.002 0.002 0.0025 0. 001 注：TU2牌号的氧含量应不大于0.001%。 4.2.2需方对单晶铜的化学成分有特殊要求时，可由供需双方商定。 4.3尺寸及其允许偏差 4.3.1单晶圆铜线坏的直径及其允许偏差应符合表4的规定。 2
杂质元素含量/%，不大于
As
Sb
Bi
Fe
Pb
Sn
Ni
Zn
s
P GB/T 26044-—2010
表4 单晶圆铜线坏的直径及其允许偏差
单位为毫米
公称直径 >3.0~8.0 >8. 0~12. 0 >12.0~22. 0 >22.0~30.0
允许偏差 ± 0. 35 ±0.50 ± 0. 75 ±1. 00
4.3.2 单晶圆铜线的直径及其允许偏差应符合表5的规定。
表5单晶圆铜线的直径及其允许偏差
单位为毫米
允许偏差 ± 0. 003 ±0. 004 ±1.0%d ±0.035 ± 0.050
公称直径 0.070~0.125 >0.125~0. 400 >0.40~3.00 >3. 00~8.00 >8. 00~ 12. 00
注：d代表公称直径。 4.4力学性能 4.4.1单晶圆铜线坏的力学性能应符合表6的规定。
表6 单晶圆铜线坏的力学性能
直径/ mm
伸长率/ % ≥55 ≥50
牌号 TU1 TU2
状态
铸(Z)
>3.0~30.0
4.4.2 单晶圆铜线的力学性能应符合表7的规定，
表 7 单晶圆铜线的力学性能伸长率/
抗拉强度Rm/ (N/mm")
伸长率/ %
% 软(R) 不小于 12 15 17 25 25 25 25 25 25
公称直径/
硬(Y) 不小于
mm
1. 0 1. 0 1. 0 1. 0 1. 1 1. 1 1. 1 1. 2 1. 3 1. 8
412 411 407 403 398 393 389 383 375 360
0.070~0.125 >0.125~0.200 >0.200~0.650 >0.650~1.000 >1.00~1.45 >1.45~1.85 >1. 85~2. 30 >1.85~2.75 >2.75~3. 00 >3. 00~5.00
-
3 GB/T26044—2010
4.8表面质量 4.8.1单晶圆铜线坏应圆整，尺寸均匀，无红色、黑色氧化现象。 4.8.2单晶圆铜线坏表面不允许有三角口或其他任何形状的裂纹、毛刺等对后序加工或使用有害的缺陷。 4.8.3单晶圆铜线表面应光洁，不得有影响使用的任何缺陷。 4.9交货董. 4.9.1单晶圆铜线坏应成盘交货，每盘单晶圆铜线坏为一整根，中间不应有二次引锭和焊接现象。单晶圆铜线应成盘或成圈交货，不允许焊接或扭接。单晶圆铜线坏重量应符合表11的规定。
表11单晶圆铜线还成品重量
规格/ mm
3.0~4,00
>6. 00~8. 00 >8.00~16.00 >16.00~30.00
>4.00~6.00
15
盘重/kg，不小于 4.9.2供需双方协商，单晶圆铜线坏或线可以任何重量交货。 5试验方法 5.1化学成分分析方法
10
30
50
5
单晶圆铜线及其线坏的化学成分分析方法按GB/T5121的规定进行。 5.2尺寸及其允许偏差测量方法
单晶圆铜线及其线坏的尺寸及其允许偏差测量方法按GB/T4909.2的规定进行。 5.3力学性能试验方法
单晶圆铜线及其线坏的室温拉伸试验方法按GB/T4909.3的规定进行。 5.4扭转性能试验方法 5.4.1单晶圆铜线坏的扭转试验方法按GB/T4909.4的规定进行。 5.4.2试样应从经过4.8.1和4.8.2检查合格的单晶圆铜线坏上取样。原始标距长度为300mm，扭转速度应不超过30/min；绕试样轴线方向单向扭转，直至扭断。 5.5电性能试验方法 5.5.1单晶圆铜线及其线坏的电阻率测试方法按GB/T3048.2的规定进行。 5.5.2电阻率试验可直接在单晶圆铜线及其线坏上取样进行。 5.6晶粒数检验方法
单晶铜线坏的晶粒数检验方法按YS/T448规定的进行，晶粒数按整个横截面内的晶粒计数。晶粒过小分辨不清时，可采用10倍及以上放大镜下进行观察。 5.7表面质量检验方法
单晶圆铜线及其线坏的表面质量用目视检查。 6检验规则 6.1检查和验收 6.1.1单晶圆铜线及其线坏应由供方质量监督部门进行检验，保证产品质量符合本标准及合同（或订货单）的规定，并填写质量证明书。 6.1.2需方可对收到的产品按本标准的规定进行检验，如检验结果与本标准及合同（或订货单）的规定不符时，应在收到产品之日起1个月内向供方提出，由供需双方协商解决。如需仲裁，仲裁取样由供需双方共同进行。 6.2组批
单晶圆铜线及其线坏应成批提交验收，每批应由同一牌号、状态和规格的铜线坏或铜线组成。铜线
5 GB/T26044-2010
坏的批重不得超过1000kg，铜线的批重不得超过500kg。 6.3检验项目
每批单晶圆铜线坏均应进行化学成分、尺寸及其允许偏差、力学性能、扭转性能、电性能、晶粒数及表面质量的检验；每批单晶圆铜线均应进行尺寸及其允许偏差、力学性能、电性能及表面质量的检查。 6.4取样
单晶圆铜线及其线坏取样位置和取样数量应符合表12的规定。
表12取样位置和取样数量
试验方法的章条号
取样方法和取样数量每批取二个样
检验项目化学成分
要求的章条号
4. 2 4, 3
5. 1 5. 2 5. 3 5. 4 5. 5 5. 6 5.7
尺寸及其允许偏差 逐卷
线坏每卷取二个样，线每卷取一个样或每批取3%的样每批取二个样线坏每卷取一个样，线每卷取个样或每批取3%的样每卷取一个样逐卷
力学性能扭转性能电性能晶粒数表面质量
4. 4 4. 5 4.6
4.7 4. 8
6.5检验结果的判定 6.5.1产品化学成分不合格时，判该批产品不合格。 6.5.2尺寸偏差、表面质量不合格时，判该卷产品不合格。 6.5.3当力学性能、扭转性能、电性能、晶粒数检验结果有不合格时，应从该批产品（包括原检验不合格的那卷产品)中，另取双倍数量的试样就不合格项目进行重复试验。重复试验结果全部合格，则判该批产品合格。若重复试验结果仍有试样不合格，则判该批不合格，或逐卷检验，合格者交货。 7 标志、包装、运输、购存及质量证明书 7.1标志
在每卷或每盘检验合格的产品上应附有以下内容的标签： a）生产厂名称、商标； b) 产品名称； c) 产品牌号、状态、规格； d）净重； e) 批号； f) 出厂日期； g) 质检部门的检印。
7.2包装 7.2.1单晶圆铜线坏应成卷包装，捆扎良好。 7.2.2J 单晶圆铜线应卷绕整齐，最后一层应与线盘侧板边缘保持适当的距离。 7.2.3 包装应有防潮、防污染及防机械损伤措施。 7.2.4 供需双方可协商其他包装方法。 7.3运输及购存
在存放、搬运和运输过程中，应注意保护产品免受机械损伤，防止受潮及受到腐蚀物的侵蚀。
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