GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照 GB/T 4937.18-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照(总剂量) GB/T 4937.13-2018 半导体器件机械和气候试验方法第13部分∶盐雾 GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾 GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检 GB/T 4937.19-2018 半导体器件机械和气候试验方法第19部分∶芯片剪切强度 GB/T 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分∶扫频振动 GB/T 4937.22-2018 半导体器件机械和气候试验方法第22部分∶键合强度