GB/T 6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 GB/T 42907-2023 正式版 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法 GB/T 31780-2015 临界温度测量电阻法测复合超导体临界温度 GB/T 26070-2010 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法 GB/T 42676-2023 正式版 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法 GB/T 42271-2022 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法