SJ/T 11471-2014
发光二极管外延片测试方法
Measurement methods for epitaxial wafers of light-emitting diodes
2014-10-14 发布
2015- 04- 01 实施
前 言
本标准按照 GB/T1.1—2009《标准化工作导则 第1部分∶标准的结构和编写》给出的规则起草。
请注意本标准的某些内容可能涉及专利。本标准的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口。