ICS 77.040.20 H26
NB
中华人民共和国能源行业标准
NB/T 47013.2—2015
代替JB/T4730.2—2005
承压设备无损检测第2部分：射线检测
Nondestructive testing of pressure equipments --
Part 2: Radiographic testing
2015-04-02发布
2015-09-01实施
国家能源局 发布 NB/T47013.2—2015
前言
本标准NB/T47013《承压设备无损检测》分为以下13个部分：
第1部分：通用要求；第2部分：射线检测；第3部分：超声检测；一第4部分：磁粉检测； -第5部分：渗透检测；第6部分：涡流检测；第7部分：目视检测；第8部分：泄漏检测；第9部分：声发射检测；第10部分：衍射时差法超声检测；一第11部分：X射线数字成像检测； -第12部分：漏磁检测；一第13部分：脉冲涡流检测。 本部分为NB/T47013的第2部分：射线检测。 本部分按GB/T1.1一-2009《标准化工作导则第.1部分：标准的结构和编写》给出的规则起草。 本部分代替JB/T4730.2一2005《承压设备无损检测第2部分：射线检测》，与JB/T4730.2
一
一2005相比，主要技术变化如下：
扩大了标准的适用范围，增加插入式管座角接接头对接焊缝、安放式管座角接接头对接焊缝和管子-管板角焊缝的X射线及射线检测技术和质量分级要求，并取消了钢的分类；修改和增加了部分规范性引用文件：增加了射线检测专用术语和定义的内容；增加了Tm170和Yb169射线源应用的规定；修改了工业射线胶片系统分类，将胶片分为C1、C2、C3、C4、C5和C6六类。胶片类型的选择按照新的分类标准重新进行修订，同时补充了胶片灰雾度测量的相关要求；修改了黑度计核查时机的内容；增加了标准密度片的黑度范围和测量点数目的相关规定；增加了内偏心透照（F 22 NB/T 47013.2--2015
修改了特殊条件下射线检测技术等级允许放宽原则：修改了检测时机要求，明确检测时机应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求；增加了焊接接头检测区宽度范围确定的内容：增加了双胶片透照技术和底片观察技术应用的内容；
一增加了管座角焊缝、椭圆形封头和蝶形封头小r区的焊缝，以及其他曲率连续变化的焊缝一次透照长度确定的原则；增加了有效评定区搭接的技术要求；修改了结构受限的特殊情况下小径管的透照原则；增加了安放式和插人式管座角焊缝采用源在内透照方式时f的放宽原则；增加了胶片与被检工件之间距离的放置原则；增加了射线源曝光时间限值和限制使用多源曝光的规定，以及球罐全景曝光像质计摆放要求；增加了滤光板应用的推荐技术要求；修改了定位标记和识别标记的放置原则；增加了胶片暗室处理试剂选用原则、胶片处理延迟时间及其底片处理质量检验的内容；修改了底片质量要求的内容，增加了底片保存的内容；修改了不同透照厚度应达到的像质计灵敏度，对应的材料厚度范围有所扩大，并增加了孔型像质计的灵敏度要求；焊接接头射线检测结果评定和质量分级部分增加了适用的焊接结构型式；增加和修订了射线检测记录和报告的内容取消了“专用像质计的型式和规格”的内容；修改了小径管专用对比试块。 本部分由全国锅炉压力容器标准化技术委员会（SAC/TC262）提出并归口。 本部分起草单位：中国特种设备检测研究院、江苏省特种设备安全监督检验研究院、中广核工
程有限公司、甘肃蓝科石化高新装备股份有限公司、东方电气（广州）重型机器有限公司、广东省特种设备检测研究院、黑龙江省特种设备检验研究院、天津诚信达金属检测技术有限公司、辽宁仪表研究所有限责任公司、江苏中特创业设备检测有限公司。
本部分主要起草人：强天鹏、梁丽红、沈功田、朱从斌、李军、程怒涛、陈玉宝、皆壮辉、孙忠波、李洪国。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为：
JB4730—1994、JB/T4730.2—2005。
23 NB/T47013.2—2015
承压设备无损检测第2部分：射线检测
1范围 1.1NB/T47013的本部分规定了承压设备金属熔化焊焊接接头X射线和射线检测技术和质量分级要求。 1.2本部分适用的金属熔化焊焊接接头的金属包括钢、铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金、 镍及镍合金。焊接接头的型式包括板及管的对接接头对接焊缝（以下简称“对接焊缝”）、插入式和安放式接管角接接头对接焊缝（.以下简称“管座角焊缝”）和管子_管板角焊缝（参考附录A）。 1.3承压设备其他金属材料、支承件和结构件的焊接接头的射线检测也可参照使用。 2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB 11533 GB/T12604.2 GB 18871 GB/T 19348.1 GB/T19348.2 GB/T 19802 GB/T 23901.2 GBZ117 GBZ 132 NB/T 47013.1 JB/T 5075 JB/T 7902
标准对数视力表无损检测术语射线照相检测电离辐射防护及辐射源安全基本标准无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线照相胶片系统的分类无损检测 工业射线照相胶片第2部分：用参考值方法控制胶片处理无损检测工业射线照相观片灯最低要求无损检测射线照相底片像质第2部分：阶梯孔型像质计像质指数的测定工业X射线探伤放射卫生防护标准工业射线探伤放射防护标准承压设备无损检测第1部分：通用要求无损检测射线照相检测用金属增感屏射线照相用线型像质计
I.
3术语和定义
GB/T12604.2和NB/T47013.1界定的以及下列术语和定义适用于本部分。
3. 1
透照厚度Wpenetratedthickness 射线照射方向上材料的公称厚度。多层透照时，透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。
3. 2
工件至胶片距离bobject-to-filmdistance 沿射线束中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离。
25 NB/T47013.2—2015 3.3
射线源至工件距离fsource-to-objectdistance 沿射线束中心测定的射线源与工件受检部位射线源侧表面之间的距离。
3. 4
焦距Ffocaldistance 沿射线束中心测定的射线源与胶片之间的距离。
3. 5
射线源尺寸dsourcesize 射线源的有效焦点尺寸。
3.6
圆形缺陷 round flaw 长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。
3.7
条形缺陷stripyflaw 长宽比大于3的气孔、夹渣和夹等缺陷。
3. 8
透照厚度比Kratioofmax.andmin.penetratedthickness 一次透照长度范围内射线束穿过母材的最大厚度和最小厚度之比。
3. 9
一次透照长度effectiveareaofasingleexposure 符合标准规定的单次曝光有效检测长度。
3.10
底片评定范围filmevaluationscope 本部分规定的底片上必须观察和评定的范围。
3.11
缺陷评定区 Kdefectevaluationzone 在质量分级评定时，为评价缺陷数量和密集程度而设置的一定尺寸区域，可以是正方形或长方
形。 3.12
双胶片透照技术doublefilmtechnique 暗盒内装两张胶片和三片增感屏（前、中、后屏）进行曝光，在观片灯上采用双片叠加方式进
行底片观察的透照技术。 3.13
小径管smalldiametertube 外直径D。小于或等于100mm的管子。
4一般要求 4.1检测人员 4.1.1从事射线检测的人员应满足NB/T47013.1的有关规定。 4.1.2从事射线检测的人员在上岗前应进行辐射安全知识的培训，并按照有关法规的要求取得相 26 NB/T47013.2—2015
应证书。 4.1.3射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0），测试方法应符合GB11533的规定。从事评片的人员应每年检查一次视力。 4.2检测设备和器材 4.2.1射线装置 4.2.1.1可以使用两种射线源：
a）由X射线机和加速器产生的X射线； b）由Co60、Ir192、Se75、Yb169和Tm170射线源产生的射线。
4.2.1.2经合同双方商定，允许采用其他新型射线源。采用其他射线源时，有关检测技术要求仍应参照本部分的规定执行。 4.2.2射线胶片 4.2.2.1胶片系统按照GB/T19348.1分为六类，即C1、C2、C3、C4、C5和C6类。C1为最高类别，C6为最低类别，胶片系统的特性指标见附录B。 4.2.2.2胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。胶片处理方法、设备和化学药剂可按GB/T19348.2的规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试片进行测试和控制。不得使用超过胶片制造商规定的使用期限的胶片。胶片应按制造商推荐的温度和湿度条件予以保存，并应避免受任何电离辐射的照射。 4.2.3观片灯
观片灯的主要性能应符合GB/T19802的有关规定，最大亮度应能满足评片的要求。 4.2.4黑度计（光学密度计） 4.2.4.1黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过±0.05。 4.2.4.2黑度计首次使用前应进行核查，以后至少每六个月应进行次核查。核查方法可参照附录C的规定进行，每次核查后应填写核查记录。在工作开始时或连续工作超过8h后应在拟测量黑度范围内选择至少两点进行检查。 4.2.5标准密度片
标准密度片应至少有8个一定间隔的黑度基准，且能覆盖0.3~4.5黑度范围，应至少每2年校准一次。必须特别注意标准密度片的保存和使用条件。 4.2.6增感屏 4.2.6.1射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏，金属增感屏应满足JB/T5075的要求，增感屏应完全干净、抛光和无纹道。 4.2:6.2使用增感屏时，胶片和增感屏之间应接触良好。增感屏的选用应符合表1的规定。
27 NB/T 47013.2—2015
F
表1增感屏的材料和厚度
后屏厚度/mm ≤0.03 0.02~0.15
中屏“ 厚度/mm
前屏厚度/mm 不用或≤0.03 0.02~0.10 0.02~0.15 0.02~0.20 不用或≤0.03 0.02~0.15 A级0.02~0.20 AB级、B级 0.10~0.20 A级0.02~0.20 A级0.02~0.20 AB级、B级
射线源
材料
铅铅铅铅铅铅
X射线（≤100kV）
X射线d (>100kV~150kV)
2×0.02~2×0.10
X射线d (>150kV~250kV)
2×0.02~2×0.10
0.02~0.15
X射线d (>250kV~500kV)
0.02~0.20
2×0.02~2×0.10
Tm170 Yb169 d
不用或≤0.03 0.02~0.15 A级0.02~0.20 AB级、B级 0.10~0.20
2×0.02~2×0.10
2 ×0.10 2 ×0.10 2 ×0.10 2 ×0.10 0.25 2 ×0.10 0.25
铅
Se75
, 1;
铅
Ir192
AB级、B级 0.10~0.20 0.25~0.70 0.50~2.0 0.25~0.70 0.50~2.0
0.10~0.205 0.25~ 0.70
钢或铜铅
Co60 b
0.50 ~2.0 0.25~0.70
（A级、AB级）
钢或铜铅
X射线 (1MeV~4MeV)
2×0.10mm或不用
（A级、AB级） 0.50~2.0 铜、钢或钽
铜、钢≤1.0 钼≤0.50
0.25 0.25
≤1.0
X射线 (4MeV ~12MeV)
铅（A级、AB级）
2×0.10mm或不用
0.50 ~ 1:0
0.50 ~ 1.0
a如果AB级、B级使用前屏≤.0.03mm的真空包装胶片，应在工件和胶片之间加0.07mm~0.15mm厚的附加铅屏。 b采用Co60射线源透照有延迟裂纹倾向或标准抗拉强度下限值Rm≥540MPa材料时，AB级和B级应采用
钢或铜增感屏。 e
双胶片透照技术应增加使用中屏。 采用X射线和Yb169射线源时，每层中屏的厚度应不大于前屏厚度。
d
4.2.7像质计 4.2.7.1底片影像质量采用线型像质计或孔型像质计测定。通用线型像质计和等径线型像质计的型号和规格应符合JB/T7902的规定，孔型像质计型号和规格应满足GB/T23901.2的规定。 4.2.7.2像质计的材料代号、材料和不同材料的像质计适用的工件材料范围可按表2的规定执行，像质计材料的吸收系数应尽可能的接近或等同于被检材料的吸收系数，任何情况下不能高于被检材料的吸收系数。
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中华人民共和国能源行业标准
NB/T 47013.2—2015
代替JB/T4730.2—2005
承压设备无损检测第2部分：射线检测
Nondestructive testing of pressure equipments --
Part 2: Radiographic testing
2015-04-02发布
2015-09-01实施
国家能源局 发布 NB/T47013.2—2015
前言
本标准NB/T47013《承压设备无损检测》分为以下13个部分：
第1部分：通用要求；第2部分：射线检测；第3部分：超声检测；一第4部分：磁粉检测； -第5部分：渗透检测；第6部分：涡流检测；第7部分：目视检测；第8部分：泄漏检测；第9部分：声发射检测；第10部分：衍射时差法超声检测；一第11部分：X射线数字成像检测； -第12部分：漏磁检测；一第13部分：脉冲涡流检测。 本部分为NB/T47013的第2部分：射线检测。 本部分按GB/T1.1一-2009《标准化工作导则第.1部分：标准的结构和编写》给出的规则起草。 本部分代替JB/T4730.2一2005《承压设备无损检测第2部分：射线检测》，与JB/T4730.2
一
一2005相比，主要技术变化如下：
扩大了标准的适用范围，增加插入式管座角接接头对接焊缝、安放式管座角接接头对接焊缝和管子-管板角焊缝的X射线及射线检测技术和质量分级要求，并取消了钢的分类；修改和增加了部分规范性引用文件：增加了射线检测专用术语和定义的内容；增加了Tm170和Yb169射线源应用的规定；修改了工业射线胶片系统分类，将胶片分为C1、C2、C3、C4、C5和C6六类。胶片类型的选择按照新的分类标准重新进行修订，同时补充了胶片灰雾度测量的相关要求；修改了黑度计核查时机的内容；增加了标准密度片的黑度范围和测量点数目的相关规定；增加了内偏心透照（F 22 NB/T 47013.2--2015
修改了特殊条件下射线检测技术等级允许放宽原则：修改了检测时机要求，明确检测时机应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求；增加了焊接接头检测区宽度范围确定的内容：增加了双胶片透照技术和底片观察技术应用的内容；
一增加了管座角焊缝、椭圆形封头和蝶形封头小r区的焊缝，以及其他曲率连续变化的焊缝一次透照长度确定的原则；增加了有效评定区搭接的技术要求；修改了结构受限的特殊情况下小径管的透照原则；增加了安放式和插人式管座角焊缝采用源在内透照方式时f的放宽原则；增加了胶片与被检工件之间距离的放置原则；增加了射线源曝光时间限值和限制使用多源曝光的规定，以及球罐全景曝光像质计摆放要求；增加了滤光板应用的推荐技术要求；修改了定位标记和识别标记的放置原则；增加了胶片暗室处理试剂选用原则、胶片处理延迟时间及其底片处理质量检验的内容；修改了底片质量要求的内容，增加了底片保存的内容；修改了不同透照厚度应达到的像质计灵敏度，对应的材料厚度范围有所扩大，并增加了孔型像质计的灵敏度要求；焊接接头射线检测结果评定和质量分级部分增加了适用的焊接结构型式；增加和修订了射线检测记录和报告的内容取消了“专用像质计的型式和规格”的内容；修改了小径管专用对比试块。 本部分由全国锅炉压力容器标准化技术委员会（SAC/TC262）提出并归口。 本部分起草单位：中国特种设备检测研究院、江苏省特种设备安全监督检验研究院、中广核工
程有限公司、甘肃蓝科石化高新装备股份有限公司、东方电气（广州）重型机器有限公司、广东省特种设备检测研究院、黑龙江省特种设备检验研究院、天津诚信达金属检测技术有限公司、辽宁仪表研究所有限责任公司、江苏中特创业设备检测有限公司。
本部分主要起草人：强天鹏、梁丽红、沈功田、朱从斌、李军、程怒涛、陈玉宝、皆壮辉、孙忠波、李洪国。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为：
JB4730—1994、JB/T4730.2—2005。
23 NB/T47013.2—2015
承压设备无损检测第2部分：射线检测
1范围 1.1NB/T47013的本部分规定了承压设备金属熔化焊焊接接头X射线和射线检测技术和质量分级要求。 1.2本部分适用的金属熔化焊焊接接头的金属包括钢、铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金、 镍及镍合金。焊接接头的型式包括板及管的对接接头对接焊缝（以下简称“对接焊缝”）、插入式和安放式接管角接接头对接焊缝（.以下简称“管座角焊缝”）和管子_管板角焊缝（参考附录A）。 1.3承压设备其他金属材料、支承件和结构件的焊接接头的射线检测也可参照使用。 2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB 11533 GB/T12604.2 GB 18871 GB/T 19348.1 GB/T19348.2 GB/T 19802 GB/T 23901.2 GBZ117 GBZ 132 NB/T 47013.1 JB/T 5075 JB/T 7902
标准对数视力表无损检测术语射线照相检测电离辐射防护及辐射源安全基本标准无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线照相胶片系统的分类无损检测 工业射线照相胶片第2部分：用参考值方法控制胶片处理无损检测工业射线照相观片灯最低要求无损检测射线照相底片像质第2部分：阶梯孔型像质计像质指数的测定工业X射线探伤放射卫生防护标准工业射线探伤放射防护标准承压设备无损检测第1部分：通用要求无损检测射线照相检测用金属增感屏射线照相用线型像质计
I.
3术语和定义
GB/T12604.2和NB/T47013.1界定的以及下列术语和定义适用于本部分。
3. 1
透照厚度Wpenetratedthickness 射线照射方向上材料的公称厚度。多层透照时，透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。
3. 2
工件至胶片距离bobject-to-filmdistance 沿射线束中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离。
25 NB/T47013.2—2015 3.3
射线源至工件距离fsource-to-objectdistance 沿射线束中心测定的射线源与工件受检部位射线源侧表面之间的距离。
3. 4
焦距Ffocaldistance 沿射线束中心测定的射线源与胶片之间的距离。
3. 5
射线源尺寸dsourcesize 射线源的有效焦点尺寸。
3.6
圆形缺陷 round flaw 长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。
3.7
条形缺陷stripyflaw 长宽比大于3的气孔、夹渣和夹等缺陷。
3. 8
透照厚度比Kratioofmax.andmin.penetratedthickness 一次透照长度范围内射线束穿过母材的最大厚度和最小厚度之比。
3. 9
一次透照长度effectiveareaofasingleexposure 符合标准规定的单次曝光有效检测长度。
3.10
底片评定范围filmevaluationscope 本部分规定的底片上必须观察和评定的范围。
3.11
缺陷评定区 Kdefectevaluationzone 在质量分级评定时，为评价缺陷数量和密集程度而设置的一定尺寸区域，可以是正方形或长方
形。 3.12
双胶片透照技术doublefilmtechnique 暗盒内装两张胶片和三片增感屏（前、中、后屏）进行曝光，在观片灯上采用双片叠加方式进
行底片观察的透照技术。 3.13
小径管smalldiametertube 外直径D。小于或等于100mm的管子。
4一般要求 4.1检测人员 4.1.1从事射线检测的人员应满足NB/T47013.1的有关规定。 4.1.2从事射线检测的人员在上岗前应进行辐射安全知识的培训，并按照有关法规的要求取得相 26 NB/T47013.2—2015
应证书。 4.1.3射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0），测试方法应符合GB11533的规定。从事评片的人员应每年检查一次视力。 4.2检测设备和器材 4.2.1射线装置 4.2.1.1可以使用两种射线源：
a）由X射线机和加速器产生的X射线； b）由Co60、Ir192、Se75、Yb169和Tm170射线源产生的射线。
4.2.1.2经合同双方商定，允许采用其他新型射线源。采用其他射线源时，有关检测技术要求仍应参照本部分的规定执行。 4.2.2射线胶片 4.2.2.1胶片系统按照GB/T19348.1分为六类，即C1、C2、C3、C4、C5和C6类。C1为最高类别，C6为最低类别，胶片系统的特性指标见附录B。 4.2.2.2胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。胶片处理方法、设备和化学药剂可按GB/T19348.2的规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试片进行测试和控制。不得使用超过胶片制造商规定的使用期限的胶片。胶片应按制造商推荐的温度和湿度条件予以保存，并应避免受任何电离辐射的照射。 4.2.3观片灯
观片灯的主要性能应符合GB/T19802的有关规定，最大亮度应能满足评片的要求。 4.2.4黑度计（光学密度计） 4.2.4.1黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过±0.05。 4.2.4.2黑度计首次使用前应进行核查，以后至少每六个月应进行次核查。核查方法可参照附录C的规定进行，每次核查后应填写核查记录。在工作开始时或连续工作超过8h后应在拟测量黑度范围内选择至少两点进行检查。 4.2.5标准密度片
标准密度片应至少有8个一定间隔的黑度基准，且能覆盖0.3~4.5黑度范围，应至少每2年校准一次。必须特别注意标准密度片的保存和使用条件。 4.2.6增感屏 4.2.6.1射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏，金属增感屏应满足JB/T5075的要求，增感屏应完全干净、抛光和无纹道。 4.2:6.2使用增感屏时，胶片和增感屏之间应接触良好。增感屏的选用应符合表1的规定。
27 NB/T 47013.2—2015
F
表1增感屏的材料和厚度
后屏厚度/mm ≤0.03 0.02~0.15
中屏“ 厚度/mm
前屏厚度/mm 不用或≤0.03 0.02~0.10 0.02~0.15 0.02~0.20 不用或≤0.03 0.02~0.15 A级0.02~0.20 AB级、B级 0.10~0.20 A级0.02~0.20 A级0.02~0.20 AB级、B级
射线源
材料
铅铅铅铅铅铅
X射线（≤100kV）
X射线d (>100kV~150kV)
2×0.02~2×0.10
X射线d (>150kV~250kV)
2×0.02~2×0.10
0.02~0.15
X射线d (>250kV~500kV)
0.02~0.20
2×0.02~2×0.10
Tm170 Yb169 d
不用或≤0.03 0.02~0.15 A级0.02~0.20 AB级、B级 0.10~0.20
2×0.02~2×0.10
2 ×0.10 2 ×0.10 2 ×0.10 2 ×0.10 0.25 2 ×0.10 0.25
铅
Se75
, 1;
铅
Ir192
AB级、B级 0.10~0.20 0.25~0.70 0.50~2.0 0.25~0.70 0.50~2.0
0.10~0.205 0.25~ 0.70
钢或铜铅
Co60 b
0.50 ~2.0 0.25~0.70
（A级、AB级）
钢或铜铅
X射线 (1MeV~4MeV)
2×0.10mm或不用
（A级、AB级） 0.50~2.0 铜、钢或钽
铜、钢≤1.0 钼≤0.50
0.25 0.25
≤1.0
X射线 (4MeV ~12MeV)
铅（A级、AB级）
2×0.10mm或不用
0.50 ~ 1:0
0.50 ~ 1.0
a如果AB级、B级使用前屏≤.0.03mm的真空包装胶片，应在工件和胶片之间加0.07mm~0.15mm厚的附加铅屏。 b采用Co60射线源透照有延迟裂纹倾向或标准抗拉强度下限值Rm≥540MPa材料时，AB级和B级应采用
钢或铜增感屏。 e
双胶片透照技术应增加使用中屏。 采用X射线和Yb169射线源时，每层中屏的厚度应不大于前屏厚度。
d
4.2.7像质计 4.2.7.1底片影像质量采用线型像质计或孔型像质计测定。通用线型像质计和等径线型像质计的型号和规格应符合JB/T7902的规定，孔型像质计型号和规格应满足GB/T23901.2的规定。 4.2.7.2像质计的材料代号、材料和不同材料的像质计适用的工件材料范围可按表2的规定执行，像质计材料的吸收系数应尽可能的接近或等同于被检材料的吸收系数，任何情况下不能高于被检材料的吸收系数。
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