边界扫描测试技术
作者：谭剑波 编著
出版时间：2013年
内容简介
　　《边界扫描测试技术》主要从边界扫描技术的产生、原理以及应用三个方面，对边界扫描技术作了较为详细的介绍。包括用于数字电路测试的标准IEEE1149.1、混合电路测试标准IEEE1149.4、系统级测试标准IEEE1149.5、高速数字网络边界扫描测试标准IEEE1149.6，边界扫描技术在芯片设计中的应用，网络型边界扫描测试控制器的设计以及相关可测试性及工程应用设计实例等内容。《边界扫描测试技术》可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等电子类学科专业高年级学生或研究生的课程教材使用，也可作为电子类相关领域工程技术人员的参考资料。
目录
第一章 绪论
第二章 边界扫描测试原理和测试方法
第三章 边界扫描描述语言
第四章 边界扫描测试算法
第五章 基于边界扫描的可测试性设计
第六章 混合信号电路边界扫描测试
第七章 系统级边界扫描测试技术
第八章 高速数字网络边界扫描测试
第九章 边界扫描技术在芯片设计中的应用
第十章 网络型边界扫描测试控制器的设计
第十一章 边界扫描测试工具的应用
第十二章 基于边界扫描技术的测试系统设计
参考文献