摘要∶高精度测量是实现高精度控制的前提。通过对现有数控机床控制系统的分析，为了提高测量精度、降低系统成本，将传统光栅与CCD结合起来完成数控机床闭环系统的控制，介绍了系统位移测量原理及方法，为数控机床闭环控制提供新思路。