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基于光栅测量的数控机床精度控制及故障处理

资料类别:机械工程

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资料语言:中文

更新时间:2020-09-05 09:52:36



推荐标签: 数控机床 测量 控制 故障 光栅 基于 处理 精度 故障处理 精度 基于

内容简介

基于光栅测量的数控机床精度控制及故障处理 摘要∶分析了闭环伺服系统的控制特性和控制要求。对采用光栅作为检测装置的数控机床,指出了影响数控机床控制精度和加工精度的主要因素。提出了对检测反馈信号进行倍频处理,从而提高闭环伺服系统检测精度及控制精度的措施。给出了倍频处理电路和EXE信号处理电路的设计方法。针对光栅使用中可能出现的故障,给出了故障诊断及处理方法。该方法不但可以提高数控机床的控制精度,改善闭环控制系统的特性,而且可以方便地进行测量系统故障的诊断与处理。
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